[实用新型]一种宽波段谱晶体谱仪无效
| 申请号： | 00205765.4 | 申请日： | 2000-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN2426981Y | 公开（公告）日： | 2001-04-18 |
| 发明（设计）人： | 张杰;李赞良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 1000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测量宽波段X射线谱的晶体谱仪。通过采用多块有限宽度的曲率半径相同的分光晶体依波长顺序紧密排列或分离排列来实现在一次激光打靶中获得多个分立波段的谱或扩展所需波段,从而获得有用的时空信息,提高测量精度。本实用新型简化了手续,提高了测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波段 晶体 | ||
【主权项】：
1、一种宽波段谱晶体谱仪，其特征在于：在VonHamos谱仪中，选用两块或两块以上不同种类或相同种类的分光晶体(2)，将它们弯曲成相同的所需的曲率半径R，然后按波长依序紧密排列，并使它们的反射面处于同一圆柱面上，分光晶体(2)和探测器(4)分别处于长方形基座上两个严格平行的导轨上，并可分别沿导轨移动；或垂直于导轨方向移动，滤片(3)选用金属制成。
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