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[发明专利]同位素比质谱仪中的检测器和狭缝配置-CN201610663803.4有效
发明人： M·迪亚博格;M·库鲁门;R·西多夫;S·西多夫 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2016-08-12 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：本发明描述一种在质谱仪10中配置法拉第检测器140的方法。所述质谱仪10界定中心离子束轴I，并且所述法拉第检测器140能相对于所述中心离子束轴I移动。所述法拉第检测器140包含具有检测器表面230的检测器布置以及界定离子进入所述检测器布置的入口的法拉第狭缝210，所述法拉第检测器140具有延伸穿过所述法拉第狭缝210的伸长轴A。选择所述法拉第狭缝210的宽度，并且调整所述法拉第检测器140的所述伸长轴A与所述中心离子束轴I之间的角α。这能防止入射离子到所述法拉第检测器140的检测器杯200中的准入超出所述法拉第检测器140的所述伸长轴A与离子在所述法拉第检测器140处的入射方向B之间界定的最大准入角γ的范围。
同位素质谱仪中的检测器狭缝配置

[发明专利]真空系统-CN201510904072.3有效
发明人： M·迪亚博格;M·库鲁门;R·西多夫;S·西多夫 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2015-12-09 - 公布日： 2018-11-16 - 主分类号： H01J49/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种真空系统，该真空系统包括第一真空室和第二真空室，通过第一真空泵、特别是涡轮分子泵将该第一真空室抽真空，该第一真空室和该第二真空室通过通路连接，其中该通路被密封安排包围，该密封安排包括内部密封件和外部密封件，其中压力通风室位于该内部密封件与该外部密封件之间，该压力通风室通过辅助真空泵抽真空，并且其中该内部密封件的至少一个密封面由该第一或该第二真空室的壁材料组成，特别是该内部密封件通过该第一真空室的壁材料与该第二真空室的壁材料之间的直接接触形成。此外，本发明涉及一种质谱系统。
真空系统

[发明专利]调整机构-CN201510920296.3在审
发明人： S·西多夫;M·库鲁门 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2015-12-11 - 公布日： 2016-06-22 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：在此披露一种磁性调整机构100，包括腔室10、枢转地安装在该腔室10内的元件12，并且包括磁性部分14和磁性致动器18，该磁性致动器18被安排在该腔室10的外部以允许与该元件12的磁性部分14磁耦合，这样使得该磁性致动器18的移动导致对该元件12的位置的调整。该调整机构100可用在质谱仪的真空室内以便从该腔室的外部控制可移动元件的位置。
调整机构