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[发明专利]多相测量设备-CN201810865008.2有效
发明人： R.施托伊尔;P.拉达 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2018-08-01 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及“多相测量设备”。本发明公开了测量多相电气系统的电参数的系统和方法，所述系统和方法可使用多相测量设备，所述多相测量设备包括传感器子系统，所述传感器子系统具有电压传感器和电流传感器。所述电压传感器和所述电流传感器中的每个可以是不需要通电接触的接触型传感器或“非接触式”传感器。在操作中，多相测量设备可使用所述电压传感器和所述电流传感器来按顺序获得多相电气系统的每个相位的单相测量。可同步所述测量以获得各种多相功率参数，诸如与功率、相位、电压、电流等有关的各种参数。所述多相测量设备可操作以自动检测操作者何时将所述传感器子系统的传感器靠近待测导体定位，因此所述多相测量设备可启动对所述导体中的一个或多个电参数的检测。
多相测量设备

[发明专利]具有振荡传感器的非接触式直流电压测量设备-CN202211309069.3在审
发明人： R.施托伊尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-05-10 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G01R15/16 文献下载
摘要：本发明涉及具有振荡传感器的非接触式直流电压测量设备。提供了用于测量绝缘导体（例如，绝缘电线）的直流(DC)电压的系统和方法，而不需要所述导体和测试电极或探头之间存在电连接。一种非接触式DC电压测量设备可包括机械地振荡的导电传感器。待测绝缘导体用作耦合电容器的第一导电元件或电极，并且振动导电传感器用作所述耦合电容器的第二导电元件或电极。所述导电传感器的振荡为所述耦合电容器提供时变电容值。所述测量设备检测流过所述耦合电容器的电流，并使用所检测的电流和所述时变电容来确定所述绝缘导体中的所述DC电压。可将所确定的DC电压输出到显示器或经由有线或无线连接传输到外部系统。
具有振荡传感器接触直流电压测量设备

[发明专利]具有振荡传感器的非接触式直流电压测量设备-CN201910389076.0有效
发明人： R.施托伊尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-05-10 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01R15/16 文献下载
摘要：本发明提供了用于测量绝缘导体（例如，绝缘电线）的直流(DC)电压的系统和方法，而不需要所述导体和测试电极或探头之间存在电连接。一种非接触式DC电压测量设备可包括机械地振荡的导电传感器。待测绝缘导体用作耦合电容器的第一导电元件或电极，并且振动导电传感器用作所述耦合电容器的第二导电元件或电极。所述导电传感器的振荡为所述耦合电容器提供时变电容值。所述测量设备检测流过所述耦合电容器的电流，并使用所检测的电流和所述时变电容来确定所述绝缘导体中的所述DC电压。可将所确定的DC电压输出到显示器或经由有线或无线连接传输到外部系统。
具有振荡传感器接触直流电压测量设备

[发明专利]非接触式电流测量系统-CN202210149303.4在审
发明人： R.罗德里格斯;D.L.埃珀森;R.施托伊尔;J.沃罗内斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2017-11-10 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01R15/20 文献下载
摘要：本发明题为“非接触式电流测量系统”。本发明提供了系统和方法，所述系统和方法提供非接触式电流测量系统，所述非接触式电流测量系统用于测量流过绝缘线的交流，而不需要与所述绝缘线电流接触。所述测量系统可包括磁场传感器，所述磁场传感器可选择性地被定位成接近待测绝缘线。所述磁场传感器在操作中检测由所述绝缘线中流动的所述电流产生的磁场。通过使用可调节夹持组件，测量系统提供对所述绝缘线相对于所述磁场传感器的机械定位的控制以确保一致的测量。非接触式电流测量系统可确定与所述绝缘线的物理尺寸（例如，直径）相关的信息。通过使用所检测的磁场、已知的机械定位以及所确定的与所述绝缘线的所述物理尺寸相关的信息，所述测量系统在没有电流接触的情况下准确地确定流过所述绝缘线的所述电流的大小。
接触电流测量系统

[发明专利]非接触式电流测量系统-CN201711104974.4有效
发明人： R.罗德里格斯;D.L.埃珀森;R.施托伊尔;J.沃罗内斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2017-11-10 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01R15/20 文献下载
摘要：本发明题为“非接触式电流测量系统”。本发明提供了系统和方法，所述系统和方法提供非接触式电流测量系统，所述非接触式电流测量系统用于测量流过绝缘线的交流，而不需要与所述绝缘线电流接触。所述测量系统可包括磁场传感器，所述磁场传感器可选择性地被定位成接近待测绝缘线。所述磁场传感器在操作中检测由所述绝缘线中流动的所述电流产生的磁场。通过使用可调节夹持组件，测量系统提供对所述绝缘线相对于所述磁场传感器的机械定位的控制以确保一致的测量。非接触式电流测量系统可确定与所述绝缘线的物理尺寸（例如，直径）相关的信息。通过使用所检测的磁场、已知的机械定位以及所确定的与所述绝缘线的所述物理尺寸相关的信息，所述测量系统在没有电流接触的情况下准确地确定流过所述绝缘线的所述电流的大小。
接触电流测量系统

[发明专利]使用多个电容器的非接触式电压测量系统-CN201711104475.5有效
发明人： R.施托伊尔;P.拉达 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2017-11-10 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明题为“使用多个电容器的非接触式电压测量系统”。本公开提供了一种用于测量绝缘导体（例如，绝缘线）的交流(AC)电压而无需导体和测试电极或探头之间的电流连接的系统和方法。非电流接触式（或“非接触式”）电压测量系统包括与绝缘导体电容耦合的多个导电传感器。至少一个处理器接收用于指示由绝缘导体中的AC电压引起的导电传感器处的电压的信号，并且至少部分地基于所接收的信号来确定绝缘导体中的AC电压。
使用电容器接触电压测量系统

[发明专利]用于非接触式电压测量装置的传感器子系统-CN201711103961.5有效
发明人： D.L.埃珀森;R.施托伊尔;J.沃洛内斯;P.S.洪特尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2017-11-10 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本发明题为“用于非接触式电压测量装置的传感器子系统”。本公开提供了用于测量绝缘导体的交流(AC)电压，而不需要导体和测试电极之间的电流连接的系统和方法。非电流接触式电压测量装置包括导电传感器、内部接地保护件和参考屏蔽件。参考电压源可电耦合在保护件和参考屏蔽件之间，以生成使参考电流穿过导电传感器的AC参考电压。传感器子系统可布置在导体和绝缘体的层（例如，堆叠层、嵌套层或部件）中。传感器子系统可被封装为成形片、柔性电路、集成电路(IC)芯片、嵌套部件、印刷电路板(PCB)等。传感器子系统可电耦合到非接触式电压测量装置的合适的处理或控制电路，以允许测量绝缘导体中的电压。
用于接触电压测量装置传感器子系统

[发明专利]使用参考信号的非接触式电压测量系统-CN201711104989.0有效
发明人： R.施托伊尔;P.A.林斯鲁德;J.沃洛内斯;P.拉达;C.K.施米策尔 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2017-11-10 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本公开题为“使用参考信号的非接触式电压测量系统”。本公开提供了用于测量绝缘导体（例如，绝缘线）的交流(AC)电压而不需要所述导体和测试电极或探头之间的电流连接的系统和方法。非电流接触式（或“非接触式”）电压测量系统包括导电传感器、内部接地保护件和参考屏蔽件。共模参考电压源电耦合在所述内部接地保护件和所述参考屏蔽件之间，以生成使参考电流穿过所述导电传感器的AC参考电压。至少一个处理器接收指示由于所述绝缘导体中的所述AC参考电压和所述AC电压而导致流过所述导电传感器的电流的信号，并且至少部分地基于所接收到的信号来确定所述绝缘导体中的所述AC电压。
使用参考信号接触电压测量系统

[发明专利]具有非接触式电压测量的可调节长度罗戈夫斯基线圈测量设备-CN201910384074.2在审
发明人： J.沃罗内斯;R.施托伊尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明题为“具有非接触式电压测量的可调节长度罗戈夫斯基线圈测量设备”。本发明提供了用于在不需要电流连接的情况下测量绝缘导体中的电参数的系统和方法。非接触式电参数传感器探头可操作以测量绝缘导体中的电流和电压两者。传感器探头包括主体、耦合到主体的罗戈夫斯基线圈、以及耦合到主体或罗戈夫斯基线圈的非接触式电压传感器。罗戈夫斯基线圈的环路的大小能够选择性地调节，使得环路可围绕被测的导体紧固，直至导体邻近包括非接触式电压传感器的主体或罗戈夫斯基线圈的一部分定位。可例如通过显示器将测量的电参数提供给用户，或者可经由合适的有线或无线连接将所测量的电参数传输到一个或多个外部系统。
夫斯基非接触式电参数测量电压传感器导体绝缘导体耦合到电参数传感器选择性地调节传感器探头测量设备电流连接电压测量外部系统无线连接可操作可调节探头紧固显示器邻近传输

[发明专利]用于非接触式电压测量设备的多传感器扫描器配置-CN201910384073.8在审
发明人： R.施托伊尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01R15/16 文献下载
摘要：本发明题为“用于非接触式电压测量设备的多传感器扫描器配置”。本发明提供了用于测量绝缘导体的AC电压、而不需要导体和测试电极之间存在流电连接的系统和方法。非流电接触式电压测量系统包括传感器子系统、内部接地防护件和参考屏蔽件。共模参考电压源电耦合在内部接地防护件和导电参考屏蔽件之间以产生AC参考电压，该AC参考电压使得参考电流通过导电传感器。控制电路系统接收指示由于AC参考电压和绝缘导体中的AC电压而流过传感器子系统的电流的信号，并且至少部分地基于所接收的信号来确定绝缘导体中的AC电压。传感器子系统包括多个传感器，该多个传感器被轮询以补偿导体位置，同时允许测量导体的物理特性。
传感器子系统参考电压绝缘导体接地防护屏蔽件传感器共模参考电压源电压测量设备电压测量系统控制电路系统导电传感器扫描器配置导体参考电流测量导体测试电极导体位置多传感器非接触式接收指示物理特性参考电接触电连接电耦合导电轮询测量

[发明专利]用于非接触式电压测量设备的多传感器配置-CN201910384631.0在审
发明人： R.施托伊尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01R15/16 文献下载
摘要：本发明题为“用于非接触式电压测量设备的多传感器配置”。本发明提供了用于测量绝缘导体的AC电压的系统和方法，而不需要导体和测试电极或探头之间存在电流连接。非电流接触式（“或非接触式”）电压测量系统包括传感器子系统、内部接地保护件和参考屏蔽件。共模参考电压源电耦合在内部接地保护件和参考屏蔽件之间以产生AC参考电压，该AC参考电压使得参考电流通过导电传感器。控制电路接收指示由于AC参考电压和绝缘导体中的AC电压而流过传感器子系统的电流的信号，并且至少部分地基于所接收到的信号来确定绝缘导体中的AC电压。传感器子系统包括用于在提高准确度和动态范围的同时补偿导体位置的至少两个独立的传感器。
传感器子系统参考电压绝缘导体非接触式接地保护屏蔽件共模参考电压源电压测量设备电压测量系统导电传感器准确度导体参考电流测试电极导体位置电流接触电流连接多传感器接收指示控制电路参考电耦合传感器探头测量配置

[发明专利]位置相关非接触式电压和电流测量-CN201910384078.0在审
发明人： C.K.施米策尔;R.施托伊尔;R.罗德里格斯 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本发明题为“位置相关非接触式电压和电流测量”。本文提供了用于操作和校准测量设备的系统和方法。该测量设备生成参考电流信号并感测被测导体中的参考电流信号，感测到的信号用于确定校准因子或被测导体的位置。一种校准系统可控制校准电压源选择性地在校准导体中输出校准电压。该校准系统可从电参数测量设备获得由电参数测量设备在测量校准导体时捕获的数据。此类数据可包括一个或多个参考电流测量结果、一个或多个电压测量结果等。该校准系统利用所获得的测量结果来生成校准数据，该校准数据可存储在电压测量设备上，从而在后续操作期间使用。该校准数据可包括一个或多个查找表、用于一个或多个数学公式的系数等。
导体电参数测量设备参考电流信号准系统感测电压测量结果电压测量设备个数学公式参考电流测量设备电流测量非接触式后续操作输出校准位置相关校准测量校准电压校准数据校准系统校准因子查找表可存储可控制源选择校准捕获测量

[发明专利]使用参考信号的电信号测量设备-CN201811433071.5在审
发明人： R.施托伊尔 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2018-11-28 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明题为“使用参考信号的电信号测量设备”。本公开的系统和方法提供了使用电参数测量设备（例如，万用表、示波器）来测量被测设备(DUT)的一个或多个电参数（例如，阻抗），所述电参数测量设备包括参考信号电路，所述参考信号电路生成、检测和处理共模参考信号。测量设备可包括耦接到公共输入端子的已知共模AC参考电压源。在DUT的测量期间，电路可检测电压测试输入端子处的信号和公共输入端子处的信号。所述电路可处理所述第一信号和所述第二信号以确定所述DUT的一个或多个电参数，所述一个或多个电参数可用来实现一个或多个特征。所述确定的电参数可经由视觉指示器设备呈现给操作者并且/或者可经由有线和/或无线通信接口传送到外部设备。
电参数电参数测量设备电信号测量设备参考信号电路公共输入端子电路外部设备万用表共模参考信号无线通信接口参考电压源视觉指示器被测设备测量期间测量设备第二信号电压测试输入端子可检测示波器共模可用阻抗测量传送检测

[发明专利]确定与使用云来提供应用组件相关联的至少一个成本因素-CN201280077358.3有效
发明人： R.施托伊尔;E.克尼斯伯格;M.戈什泰因 -专利权人：惠普发展公司;有限责任合伙企业
申请日： 2012-11-28 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：一种技术，包括使用网络嗅探器获取与应用组件相关联的网络活动的至少一个度量，其中应用组件是要被迁移到云的候选者。技术还包括，至少部分地基于（多个）度量，确定与由云提供的应用组件相关联的至少一个成本因素。
确定使用提供应用组件相关至少一个成本因素

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