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[发明专利]芯片组件和制造芯片组件的方法-CN202180087602.3在审
发明人：阿拉斯泰尔·辛克莱;圭多·威尔珀斯;考沙尔·乔尼;迈克尔·彼得·拉尔森 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： B81C3/00 文献下载
摘要：用于光导纤维组件的对准特征(132‑136)直接形成在离子阱芯片(50)中，以使光学模块(10)相对于离子阱芯片(50)对准。这是使用微制造技术以将对准元件蚀刻到离子阱芯片(50)的表面中来实现的，有利地以实现应用的光束几何形状所需的对准精度的光刻精度来执行，对准精度为几微米。对准元件(132‑136)有利地沿着芯片(50)的硅衬底(100)的限定晶面蚀刻。外部微结构可以用光刻精度进行微加工，以包含将装配或“插入”到例如离子阱芯片的芯片的凹槽中的定位特征。
芯片组件制造方法

[发明专利]用于检测物质响应的方法和系统-CN201980047140.5有效
发明人：维托尔德·查卢普扎克;拉法尔·加特曼;帕特里克·帕文顿 -专利权人： NPL管理有限公司;思克莱德大学
申请日： 2019-07-11 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01N24/00 文献下载
摘要：本文公开了一种检测物质响应的方法。该方法包括提供振荡的初级磁场以引起样品产生次级磁场。该方法还包括在基本垂直于样品表面的方向上减小初级磁场和次级磁场的分量对原子磁力计的影响。该方法还包括用原子磁力计检测次级磁场以检测物质响应。
用于检测物质响应方法系统

[发明专利]非互易性光传播系统和方法-CN201780051139.0有效
发明人：莱奥纳尔多·德尔比诺;萨拉·路易丝·斯特宾斯;帕斯卡尔·帕特里斯·德莱;乔纳森·迈克尔·西尔弗 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2017-06-23 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G02F1/35 文献下载
摘要：一种光学谐振器系统，包括光学谐振器(30)和用于以在第一波和第二波之间产生非线性相互作用的总强度从而破坏对称性地将反向传播波耦合到谐振器中的装置(32、42、44)，在第一和波第二反向传播波之间建立不同的谐振频率，从而在相反方向上产生不同的光学效应。共同的光源，例如激光器(32)，与放大器(40)和调制器(50)一起使用，或者可以采用不同的光源。
非互易性光传播系统方法

[发明专利]用于产生原子自旋取向的方法和系统-CN202080081446.5在审
发明人： P·帕文顿;R·加特曼;W·查卢普扎克 -专利权人： NPL管理有限公司;思克莱德大学
申请日： 2020-10-06 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01R33/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种在原子系综中产生原子自旋取向的方法。所述方法包含将稳恒磁场(5)提供到所述原子系综以在所述原子系综的原子能级的基态的第一流形和第二流形内引起塞曼分裂。所述方法包含用电磁光辐射束泵浦所述原子系综，所述束由于涉及所述第一流形的跃迁而失谐，使得所述原子系综中的所述第一流形的原子布居的大部分从所述第一流形转移到所述第二流形的磁塞曼次能级中。还公开了一种用于在原子系综中产生原子自旋取向的系统。
用于产生原子自旋取向方法系统

[发明专利]原子磁力计系统-CN202080063250.3在审
发明人： W·查卢普扎克;R·加特曼;P·帕文顿 -专利权人： NPL管理有限公司;思克莱德大学
申请日： 2020-07-17 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01R33/26 文献下载
摘要：公开一种原子磁力计系统，其包括可变磁场源(14)，配置为提供振荡初级磁场以使样本(16)产生次级磁场。原子磁力计系统还包括用于检测次级磁场的原子磁力计。原子磁力计包括原子样本；泵浦和探测子系统，配置为泵浦原子样本以产生极化以及利用探测光束探测原子样本内的原子相干进动；检测器，配置为检测探测光束以产生检测信号。所述系统配置为根据检测信号驱动可变磁场源(14)，所述检测信号具有调谐至射频谐振的频率。还公开一种操作原子磁力计的方法。
原子磁力计系统

[发明专利]量子功率传感器-CN201780062352.1有效
发明人：奥列格·弗拉基米罗维奇·阿斯塔菲夫;赖斯·谢哈伊达罗夫;弗拉基米尔·尼古拉耶维奇·安东诺夫;特雷莎·克莱尔·霍尼加尔-德克瑞尼斯;塞巴斯蒂安·埃里克·德格拉夫 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2017-09-15 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：一种量子功率传感器，包括强耦合到支持传播波的传输线的二能级量子系统。一种测量传输线中的功率的方法，该方法包括：将二能级量子系统耦合到传输线；以及确定二能级系统的耦合和Rabi频率。
量子功率传感器

[发明专利]材料的生产方法和装置-CN201980056222.6在审
发明人：马克·霍尼特;皮尔斯·特纳 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2019-07-23 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： C01B32/19 文献下载
摘要：一种通过从块状材料剥离来生产材料的方法和设备，包括：将块状材料悬浮在腔室内的液体中；在所述腔室中施加叠加的超声场，该叠加的超声场至少在场叠加区域的液体中产生空化；以及在测得的空化的基础上调节所述超声场中的至少一个，以控制施加在所述材料上的空化能量，从而控制所述块状材料的剥离和由此而来的材料的形成。与现有技术的系统和方法相比，可以控制惯性空化，从而显著提高产量。提供高强度聚焦超声换能器，以将悬浮能传递给腔室内的液体，从而使块状材料悬浮在场叠加区域中。
材料生产方法装置

[发明专利]获取身体部位的热图像数据的系统和方法及热成像仪-CN201980058841.9在审
发明人：亚伦.惠塔姆;罗伯.辛普森 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：公开了一种用于获取身体部位的热图像数据的计算机实现方法及热成像仪。该方法包括：接收身体部位的图像数据，该图像数据包括热图像数据，该热图像数据包括身体部位的热图像数据的热图像数据和背景热图像数据；对图像数据应用分类器以检测身体部位的轮廓，分类器被配置成使用除热图像数据之外的图像数据来进行检测；从所述轮廓生成掩模，将掩模应用于热图像数据以去除背景热图像数据并获得身体部位的热图像数据。
获取身体部位图像数据系统方法成像

[发明专利]反射阵列天线-CN201980050284.6在审
发明人：田洪乐;古兰·艾哈迈德;蒂姆·布朗;克雷格·安德伍德 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： H01Q3/46 文献下载
摘要：本文描述了反射阵列天线元件、反射阵列以及操作天线元件的方法。反射阵列天线元件包括用于反射电磁场的导电材料的贴片(14)；提供射频接地的介电基板(12)；导电材料的第一和第二相位控制线(16、18)，被设置为与具有第一极化的电磁辐射相互作用；第一二元开关器件(24)，位于贴片与接地之间具有ON或OFF状态，用于通过所述第一相位控制线选择性地将所述贴片电耦合至接地；第二二进制开关装置(26)，具有第二或第二开关装置(26)，位于贴片与接地之间具有ON或OFF状态，用于通过所述第二相位控制线选择性地将所述贴片电耦合至接地；单个直流偏置输入，电耦合至所述贴片，可配置为不同的离散电压电平，以选择性地控制开关器件的状态。第一和第二二进制开关器件的选择操作借助于直流偏置输入而发生，其根据开关器件的状态提供电磁辐射的相位控制。描述了单元格的相位控制机制，以实现可重配/智能的反射阵列平台。
反射阵列天线

[发明专利]用于薄膜表征的测量技术-CN201580045695.8有效
发明人：郝玲;约翰·查尔斯·盖洛普 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2015-07-24 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01N22/00 文献下载
摘要：一种测量装置，包括高电容率介质谐振器(10)，其具有低微波损耗角正切和至少一个第一对称轴(z1)；导电谐振腔(100)，其包含谐振器(10)且几何形状类似于该谐振器(10)，并具有与第一对称轴(z1)重合的第二对称轴(z2)；谐振腔(100)具有与第一对称轴(z1)正交的多个相似端口(104)，每个此类端口(104)都具有微波天线(114)，用于将微波射入谐振腔，从而在谐振器中激励出电场，或者用于从谐振腔接收微波；以及比较电路(200、300、400、500、600、700、800)，其连接至所述多个端口(104)中用于将微波射入谐振腔的第一端口(P1)，同时还连接至所述多个端口(104)中用于接收来自谐振腔的微波的其他端口(P2、P3)；其中该测量装置还包括与谐振腔(100)电接触的导电调谐螺钉(106)，该调谐螺钉至少可部分地位于谐振器中激励出的电场中；以及磁力源(18)，该磁力源(18)用于对引入至谐振器(10)的上表面(12)邻近处的样本施加磁场，该上表面(12)基本平行于或反平行于第一对称轴(z1)；以及其中用于接收来自谐振腔(100)的微波的所述多个端口(104)的其他端口中的一个(P3)与用于将微波射入谐振腔的所述多个端口(104)的第一端口(P1)正交。这样的测量装置可用于在谐振器(10)并未与薄膜或其上形成有薄膜的衬底(20)接触的情况下，测量薄膜(30)的电导率或薄膜电阻以及薄膜的载流子迁移率。
用于薄膜表征测量技术

[发明专利]导电纤维-CN202010071678.4在审
发明人：罗亚·阿沙耶-索尔唐特;克里斯托弗·保罗·亨特 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2014-02-24 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： D06M15/285 文献下载
摘要：一种用于使纤维导电的方法，其包括以下步骤：(a)提供一种纤维，在所述纤维的表面处具有负电荷，(b)向所述纤维涂敷一种物质(如聚合物电解质)，所述物质在所述纤维上提供所述物质的层并且将所述纤维的所述表面处的所述电荷从负的改变成正的，其中所述物质不是壳聚糖，以及(c)用金属使所述纤维的所述表面导电，其中以金属离子的形式提供步骤(c)的所述金属，并且其中使用(例如)还原剂以将金属离子还原成单质金属。本发明还提供了由导电纤维形成的织物。
导电纤维

[发明专利]双激光频率扫描干涉测量系统和方法-CN201580036930.5有效
发明人：胡安·乔斯·马丁内斯;奈杰尔·约瑟夫·科普纳;马修·思杜德·瓦登;爱德华·班杰明·休斯;迈克尔·阿洛伊修斯·坎贝尔 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2015-06-24 - 公布日： 2019-09-06 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本文公开了一种光学装置、方法和测量系统。所述装置包括：第一输入，其用于从频率扫描激光器接收第一光束；第二输入，其用于从固定频率泵浦激光源接收第二光束。非线性光学人工装置接收第一和第二光束并将其互调制以产生第三光束，所述第三光束是相对于泵浦激光源的固定频率呈镜像的第一光束的反转拷贝。选择性组合元件输出第一和第三光束。选择或配置非线性人工装置或激光器中的一个或两个，使得第一和第二光束的光频分离满足非线性人工装置的相干长度条件。
激光频率扫描干涉测量系统方法

[发明专利]测量装置、系统和方法-CN201380025699.0有效
发明人： E·B·休斯;M·S·沃登 -专利权人： NPL管理有限公司
申请日： 2013-03-28 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G01S17/66 文献下载
摘要：测量装置(120)包括光指向器和空间光调制器(130)。该光指向器设置为使光指向至空间光调制器(130)，以及空间光调制器(130)设置为接收并调制来自光指向器的光以形成一强度式样。一光学元件设置为接收形成该强度式样的光，并配置为将该强度式样放大至测量空间中。检测器(142)设置为检测反射自测量空间的光。
测量装置系统方法

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