“M.胡斯尼克”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果13个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]显微光谱仪模块和用于借助于显微光谱仪模块来记录光谱的方法-CN201880061180.0有效
发明人： M.胡斯尼克;C.胡贝尔;B.施泰因;C.舍林 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2018-06-27 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种显微光谱仪模块（100），其由以下组成：光学谐振器（102），用于对光进行滤波；探测装置（104），用于探测被光学谐振器（102）透射的光；和聚焦元件（106）。光学谐振器（102）关于所要滤出的波长范围方面可调。探测装置（104）具有至少一个第一探测元件（108）和至少一个第二探测元件（110）。聚焦元件（106）成型用来使透射光的在第一入射角范围之内射入的光束偏转到第一探测元件（108）上并且使透射光的在第二入射角范围之内射入的光束偏转到第二探测元件（110）上。
显微光谱仪模块用于借助于记录光谱方法

[发明专利]用于分析测量区域的方法和微型光谱仪-CN201810023301.4有效
发明人： B.施泰因;C.舍林;F.米歇尔;M.赫默斯多夫;M.胡斯尼克;R.诺尔特迈尔 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2018-01-10 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
用于分析测量区域方法微型光谱仪

[发明专利]傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法-CN201810239146.X有效
发明人： B.施泰因;C.胡贝尔;M.胡斯尼克 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2018-03-22 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及傅里叶变换光谱仪，其包括：偏振单元，用于产生第一偏振状态的至少一个第一光束；探测单元，用于探测光线；相移单元，其具有至少一个第一相移元件，第一相移元件被构造为在使用第一光束的情况下产生由彼此相移的并且彼此正交偏振的部分光线构成的第一相移光束；透镜单元，其具有至少一个第一透镜元件，被构造为使第一相移光束转向到探测单元的第一部分上；布置在相移单元与透镜单元之间的附加相移单元，用于在第一相移光束的部分光线之间（和/或在第二相移光线的部分光线之间）加载附加的与角度有关的相位差；和检偏器单元，用于使从附加相移单元射出的光线偏振。
傅里叶变换光谱仪用于运行方法

[发明专利]用于运行显微光谱仪的方法和显微光谱仪-CN201780067294.1有效
发明人： M.胡斯尼克;C.胡贝尔;M.施密德;H.科佩斯;B.施泰因;C.舍林 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2017-10-02 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01J3/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
用于运行显微光谱仪方法

[发明专利]小型光谱仪和光谱方法-CN201680052443.2有效
发明人： I.赫曼恩;M.胡斯尼克;E.鲍姆加特;C.胡伯;B.斯泰恩 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2016-08-15 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种小型光谱仪（8），其包括：光学系统；包括偏振器（2）、萨瓦尔元件（14）和分析器（5）的偏振干涉仪（15）；包括探测器（7）的探测单元（12）；和数据单元（13），其特征在于，光学系统构造为扩散器（1）。
小型光谱仪光谱方法

[发明专利]微型光谱仪和用于在成像模式与光谱仪模式之间切换微型光谱仪的方法-CN201680080692.2有效
发明人： I.赫尔曼;M.胡斯尼克;E.鲍姆加特;C.胡贝尔;B.施泰因 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2016-12-05 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G01J3/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：‑探测单元（7），用于检测光学参量；和‑光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，‑在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且‑其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且‑在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
微型光谱仪用于成像模式之间切换方法

[发明专利]用于生成频谱的方法和频谱仪单元-CN201911105933.6在审
发明人： C.胡贝尔;E.鲍姆加特;M.胡斯尼克;M.卡梅雷尔;R.魏斯;B.施泰因 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2019-11-13 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明涉及一种在使用以干涉仪的方式进行频谱过滤的系统（102）和探测器（103）的情况下用于生成光（101）的频谱（S）的方法，其中借助所述系统（102）来以不同曝光时间记录多个干涉图像，其中由所述多个干涉图像来形成人工的干涉图像并且由此来确定频谱（S），本发明还涉及一种频谱仪单元（100）。
用于生成频谱方法频谱仪单元

[发明专利]傅立叶变换光谱仪、用于制造傅立叶变换光谱仪的方法以及用于显示电磁波谱的方法-CN201910189465.9在审
发明人： E.鲍姆加特;M.胡斯尼克;M.布施;R.诺尔特迈尔;R.魏斯;B.施泰因 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2019-03-13 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明涉及一种傅立叶变换光谱仪（100），所述傅立叶变换光谱仪具有用于使光散射的扩散器元件（102）、用于光谱式过滤光的过滤元件（104）、偏转元件（106）和用于探测从所述过滤元件（104）出射的光的探测器元件（108），所述偏转元件用于将从所述扩散器元件（102）出射的光偏转到过滤元件（104）上。
傅立叶变换光谱仪过滤元件扩散器元件偏转元件出射探测器元件电磁波谱光偏转光散射光谱过滤探测制造

[发明专利]用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪-CN201910146089.5在审
发明人： B.施泰因;C.舍林;M.赫默斯多夫;M.胡斯尼克;R.诺尔特迈尔;F.米歇尔 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2019-02-27 - 公布日： 2019-09-06 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于运行光谱仪（100）的方法，其中所述光谱仪（100）具有用于照射试样（104）的光源（102）、用于检测由试样（104）反射和/或透射的光的强度的检测器（108）以及连接在所述检测器（108）之前的、能够调节的光学滤波器（106）。在所述方法中首先确定用于在检测器（108）处生成恒定的信号（110）所必需的光功率谱，其中所述光功率谱代表了光源（102）的、根据从光学滤波器（106）所透射的波长的理论光功率。接着在使用光功率谱作为调节量的情况下改变光源（102）的实际光功率，以便这样再调节实际光功率，即在检测器（108）处生成对于在光学滤波器（106）处透射的波长来说恒定的信号（110）。
光功率检测器光谱仪光学滤波器透射光源恒定的波长方法和设备理论光功率反射照射检测

[发明专利]干涉仪和用于运行干涉仪的方法-CN201780049013.X在审
发明人： A.默茨;M.胡斯尼克;M.施密德;B.施泰因;C.舍林 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2017-07-25 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G02B26/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种干涉仪（200），其具有第一镜元件（202）和通过可调节的谐振腔间隙（204）与该第一镜元件（202）间隔开的第二镜元件（206），其中，干涉仪（200）具有第一驱动装置（100）和第二驱动装置（102），其中，第一驱动装置（100）构造用于调节谐振腔间隙（204）的间隙高度（104），其中，第一驱动装置（100）具有第一调节范围（208），其中，第二驱动装置（102）同样构造用于调节间隙高度（104），其中，第二驱动装置（102）具有补充第一调节范围（208）的第二调节范围（210）。
第二驱动装置第一驱动装置干涉仪镜元件谐振腔可调节干涉补充

[发明专利]光谱分析的测量装置和在使用光谱分析的测量装置的情况下用于分析介质的方法-CN201810897400.5在审
发明人： B.施泰因;C.舍林;F.米歇尔;M.胡斯尼克;R.诺尔特迈尔;M.赫默斯多夫 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2018-08-08 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：光谱分析的测量装置，测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，测量装置包括接收装置，接收装置被设置用于接收待研究的介质，其中，微型分光仪被设置用于检测介质的、光谱分析的数据，其中，微型分光仪‑包括照射单元，照射单元被设置用于，以电磁辐射来辐射介质，并且‑包括检测单元，检测单元被设置用于，检测电磁辐射的、来自介质的方向的辐射份额，其中，‑将微型分光仪布置在接收装置的第一侧处，微型分光仪包括照射单元和检测单元，并且，‑将射束偏转装置布置在接收装置的、与第一侧对置的第二侧处，射束偏转装置被设置用于，将来自照射单元的电磁辐射的至少一部分偏转到检测单元的方向上。
测量装置光谱分析检测照射单元分光仪电磁辐射射束偏转装置偏转辐射对置流体分析研究

[发明专利]限制光的入射角的器件，制造该器件的方法和显微光谱仪-CN201810067997.0在审
发明人： B.施泰因;C.舍林;H.屈珀斯;M.胡斯尼克;R.诺尔特迈尔 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2018-01-24 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： G01J3/00 文献下载
摘要：本发明涉及限制光的入射角的器件，制造该器件的方法和显微光谱仪。本发明涉及一种用于限制光的入射角的器件（100），其中所述器件（100）在所述器件（100）的衬底（106）的第一侧面上具有横向于光的入射方向（108）来取向的第一光圈结构（102），而且在所述衬底（106）的与所述第一侧面对置的第二侧面上具有横向于所述入射方向（108）来取向的第二光圈结构（104），其中所述光圈结构（102、104）各具有光圈孔（114）的图案（110、112）。
光圈结构入射角光谱仪入射方向侧面衬底取向显微光圈孔对置制造图案

[发明专利]傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法-CN201711317348.3在审
发明人： C.胡贝尔;E.鲍姆加特;M.胡斯尼克 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2017-12-12 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及一种具有偏振镜单元（210）的傅里叶变换光谱仪（200），所述傅里叶变换光谱仪由至少两个进行双折射的晶体、一个用于探测光线的探测单元（202）和一个布置在偏振镜单元（210）与探测单元（202）之间的透镜单元（204）构成，所述透镜单元由至少一个用于使光线转向到探测单元（202）上的透镜元件（206）构成。在此，透镜单元（204）具有能借助于透镜元件（206）改变的焦距，以便可以使傅里叶变换光谱仪（200）在不同的运行模式之间转接。
傅里叶变换光谱仪探测单元透镜单元透镜元件偏振镜探测光线运行模式双折射焦距转接

1
共 13 条