专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于存储器系统的纠错码分布的方法和系统-CN201410645818.9有效
  • P·W·科图斯;H·C·亨特;C·A·基尔默;金圭贤;W·E·莫尔;K·L·赖特 - 格芯公司
  • 2014-11-12 - 2018-09-18 - G11C29/42
  • 根据一个实施例,一种存储器系统包括多个存储器设备以及操作地耦合至所述存储器设备的存储器控制器。所述存储器控制器被配置为将写数据划分为多个数据块,其中每个数据块与所述存储器设备之一相关联。所述存储器控制器进一步被配置为生成与每个数据块相对应的局部纠错码(ECC)的实例,并且将每个数据块与相对应的局部ECC的实例相合并,以针对每个存储器设备形成经编码的数据块。此外,所述存储器控制器被配置为将每个经编码的数据块写入到所述存储器设备,而使得每个存储器设备存储所述数据块中具有相对应的局部ECC的实例的一个数据块。所述存储器系统中还可以包括全局ECC以及所述全局ECC的局部ECC。
  • 用于存储器系统纠错码分布方法
  • [发明专利]用于处理存储阵列中的缺陷的方法和系统-CN200610137542.9无效
  • R·J·彭宁顿;H·舍恩;K·L·赖特;W·R·洛克伍德 - 国际商业机器公司
  • 2006-10-25 - 2007-05-02 - G11C29/00
  • 一种通过以下步骤纠正诸如高速缓冲存储器之类的微处理器的存储阵列中的缺陷的方法:操作所述微处理器以执行利用高速缓冲存储器的功能测试过程;在所述功能测试过程期间在跟踪阵列中收集缺陷数据;使用所述缺陷数据标识所述高速缓冲存储器中的缺陷的位置;以及通过设置熔丝以将对所述位置的访问请求重新选路至冗余元件来修复所述缺陷。所述缺陷数据可以包括错误并发位和缺陷地址。所述功能测试过程使用基于随机种子的测试模式产生引起所述高速缓冲存储器中变化的业务负荷的随机高速缓存存取序列。可以在设置某些所述熔丝的所述微处理器的非功能内建自测试完成后执行所述功能测试过程。
  • 用于处理存储阵列中的缺陷方法系统

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