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[发明专利]反射率测量装置及其测量反射率的方法-CN202310383501.1在审
发明人： J·雷尼斯;L·拜登斯 -专利权人：迈来芯科技有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本发明涉及反射率测量装置及其测量反射率的方法。在包括用于承接炊具中的物品的衬底的加热电器中，测量反射率的方法包括：从衬底的第一侧发射时变电磁信号，时变电磁信号的部分传播通过衬底。然后，电磁辐射在衬底的第一侧处被接收，接收到的电磁辐射包括由衬底接收到的背景环境分量和由衬底反射的分量。增益因子被应用以将接收到的电磁辐射转换成接收电信号。然后，偏移信号分量从接收电信号中被标识，该偏移信号分量源自接收到的电磁辐射的背景环境分量。然后，来自偏移信号分量的增益因子使用偏移信号分量的表征来估计，并且反射率使用接收电信号和估计的增益因子来计算。
反射率测量装置及其方法

[发明专利]热成像装置和热成像方法-CN202111537811.1在审
发明人： J·雷尼斯;W·鲁森;L·拜登斯 -专利权人：迈来芯科技有限公司
申请日： 2021-12-15 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G01J5/48 文献下载
摘要：热成像装置，包括：热检测器设备(100)，该热检测器设备(100)包括热感测像素阵列(102)和耦合到检测器设备(100)的信号处理电路(104)。电路(104)支持背景识别器(110)和像素分类器(112)，背景识别器(110)包括通用强度识别器(114)和预期背景强度计算器(116)。背景识别器(110)接收由检测器设备(100)关于阵列(102)的像素捕获的像素测量数据，并且通用强度识别器(114)从像素测量数据识别最大数量的基本上相同的像素强度值。预期背景强度计算器(116)使用最大数量的基本上相同的像素强度值来生成预期背景强度水平的模型。像素分类器(112)使用该模型来确定按阵列(102)的像素(118)进行的强度测量是对应于图像中的背景还是物体。
成像装置方法