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[发明专利]用于识别处理器中的故障的方法和设备-CN202310387750.8在审
发明人： D·瓦拉达拉简;B·聂文辉斯 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请涉及用于识别处理器中的故障的方法和设备。示例装置(206)包括内置的测试观察控制器电路系统(302)，其被配置为：获得测试；向处理器(304)发送第一指令，以通过修改存储在多个存储器电路(306)中的值来开始执行测试；向处理器(304)发送第二指令，以在第一模拟时间停止执行测试，其中在测试执行的第二模拟时间期间不可观察的一个或多个存储器值在第一模拟时间期间可观察；以及增强型芯片访问跟踪扫描电路系统(310)，其被配置为在测试停止时从多个存储器电路选择值的子集；以及签名电路系统(312)，其被配置为：基于值的子集确定逻辑签名；以及提供逻辑签名以用于与预期签名进行比较，其中逻辑签名与预期签名之间的差异对应于处理器中的故障。
用于识别处理器中的故障方法设备

[发明专利]用于存储器修复的非易失性存储器压缩-CN202180082728.1在审
发明人： D·瓦拉达拉简;R·文卡塔苏布拉马尼安;V·辛格 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F12/16 文献下载
摘要：一个示例包括集成电路(IC)(100)。IC(100)包括非易失性存储器(106)和逻辑(108)。逻辑(108)被配置为接收与存储器实例相关联的修复代码并且基于所述存储器实例的配置向所述修复代码指派压缩参数。逻辑(108)还被配置为基于所述压缩参数来压缩所述修复代码以产生压缩修复代码并提供包括所述压缩修复代码和标识所述压缩参数的压缩控制数据的压缩修复数据。非易失性存储器控制器(104)耦合在非易失性存储器(106)与逻辑(108)之间。非易失性存储器控制器(104)被配置为将所述压缩修复数据传输到非易失性存储器(106)和/或从所述非易失性存储器中传输所述压缩修复数据。
用于存储器修复非易失性存储器压缩

[发明专利]细粒度测试电源控制的分布式机制-CN202211608090.3在审
发明人： D·瓦拉达拉简;V·辛格;J·L·弗洛雷斯;R·奈尔;D·M·汤普森 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G11C29/14 文献下载
摘要：本申请涉及细粒度测试电源控制的分布式机制。一种集成电路(200)包括一组处理器内核(202、204、206)，其中的每一个处理器内核包括BIST逻辑电路(203、205、207)和耦合到BIST逻辑逻辑电路(203、205、207)的存储块(M1、...、MN)。每个处理器内核包括分别耦合到处理器内核(202、204、206)的电源控制电路(220、222、224)，分别耦合到处理器内核(202、204、206)的隔离电路(214、216、218)，内置自修复(BISR)控制器(210)，其耦合到处理器内核(202、204、206)中的每一个、电源控制电路(220、222、224)中的每一个和隔离电路(214、216、218)中的每一个，以及安全控制器(212)，其耦合到BISR控制器、电源控制电路(220、222、224)并且耦合到隔离电路(214、216、218)。
细粒度测试电源控制分布式机制

[发明专利]存储器电路的筛选-CN202080019611.4在审
发明人： F·A·卡诺;D·瓦拉达拉简;A·M·希尔 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2020-03-13 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：示例包括通过调制位线和/或字线电压来筛选存储器阵列(401)的存储器单元的系统和方法。用于筛选存储器阵列(401)的内置自测试(BIST)系统(400)具有位线余量控件和字线余量控件(402，403)以分别调制所述存储器阵列(401)中的位线和字线电压。在读取操作中，与所述字线上的标称操作电压相比，所述字线余量控件(403)可过驱动或欠驱动所述字线。在写入操作中，与所述位线和所述字线中的每一者的标称操作电压相比，所述位线余量控件和所述字线余量控件(402，403)可过驱动或欠驱动所述位线和所述字线中的一者或两者。
存储器电路筛选

[发明专利]优化用于存储器修复的熔丝ROM-CN201480007687.X有效
发明人： D·瓦拉达拉简;H·埃勒 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2014-02-07 - 公布日： 2018-12-14 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：一种集成电路(IC)(100)中的存储器修复系统，其优化用于存储器修复的熔丝ROM。IC包括多个存储器封装器(102)。每个存储器封装器(104、106、108、110、112、114)包括具有熔丝寄存器(124A‑F)的存储块(122A‑F)和旁路寄存器(126A‑F)。旁路寄存器具有旁路数据，其指示多个存储器封装器的有缺陷的存储器封装器。熔丝ROM控制器(140)耦合到多个存储器封装器。存储器旁路链(134)将多个存储器封装器中的旁路寄存器链接到熔丝ROM控制器。熔丝ROM控制器将旁路数据加载到存储器旁路链中。存储器数据链(132)将多个存储器封装器中的熔丝寄存器链接到熔丝ROM控制器。存储器数据链被重新配置为响应于存储器旁路链中已加载的旁路数据，链接多个存储器封装器的一组有缺陷的存储器封装器中的熔丝寄存器。
优化用于存储器修复 rom