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[发明专利]利用矩阵校正用于检测的图像和深度信息-CN202080094649.8在审
发明人： S·麦特简;S·格拉博伊;C·贝格拉特 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N23/10 文献下载
摘要：在一些示例中，描述了一种用于处理与由多个连续的X射线脉冲照射的货物相关联的检查数据的方法。该方法可以包括获得检查数据，该检查数据是作为使用包括多个至少两行检测器的矩阵和所述多个连续脉冲的源扫描所述货物的结果而生成的。在一些示例中，对应于照射所述货物的所述多个连续脉冲的辐射以第一顺序被布置在所述矩阵的所述多行检测器上，并且用于所述检查数据并且对应于不同顺序的一个或多个连续重构区域被确定。所述货物的中间图像和平均图像被生成。在所生成的平均图像上，像素可以被选择并且具有较少伪像的所述像素的邻域可以被提取。
利用矩阵校正用于检测图像深度信息

[发明专利]图像校正-CN201980065314.0在审
发明人： S·麦特简;G·杰古;J-M·福吉耶;C·贝格拉特 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：在一个实施例中，公开了一种用于利用X射线检查货物的方法，包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描货物，其中，货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射，并且与第一X射线脉冲相对应的辐射由矩阵的第一行检测，并且与至少一个第二脉冲相对应的辐射由矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位来确定所述货物与所述矩阵之间的局部相互寄生移位；通过对所确定的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的总相互寄生移位，生成没有相互寄生移位的货物的校正图像。
图像校正