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[发明专利]测量和/或检查系统以及管理相关的电连接的方法-CN201680050328.1有效
发明人： C·达拉利奥;米歇尔·古兰丽;D·罗威尔斯 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： H05K7/14 文献下载
摘要：一种例如用于控制机床的测量和/或检查系统(1)，包括：至少第一单元和第二单元，每个单元包括具有前壁的外壳、电子电路和至少一个插座。所述系统还包括具有第一多极连接器(11A)和第二多极连接器(11B)的桥式连接器(11)，第一多极连接器和第二多极连接器的每一者可以耦合到所述插座之一，以便电连接第一单元和第二单元。在所述第一单元和第二单元中的每一个中，插座定位在相应的前壁上并且包括平面电触头。桥式连接器的第一和第二多极连接器指向相同的方向，以面对第一单元和第二单元的前壁，并且每个都包括可伸缩触头。桥式连接器包括用于将桥式连接器紧固到第一单元和第二单元的前壁的紧固元件。
测量检查系统以及管理相关连接方法

[发明专利]具有压电传感器和热绝缘的接触探测器-CN201180052669.X有效
发明人： C·达拉利奥;A·甘比尼 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2011-10-25 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：一种用于检测机床或测量机中部件（13）的位置或尺寸的接触探测器（1；1’；1’’；1’’’），包括具有保护性壳体（3）支撑框架（2），以及具有测头（11）以接触将检查的部件（13）的可移动臂组（5）。探测器包括由聚合物材料制成的层状压电传感器（25），诸如聚偏二氟乙烯，其连接至支撑框架，并且固定在支撑和定位区域（7）处，可移动臂组在等压支架系统（17）限定的位置处依靠其上。热绝缘系统设置在保护性壳体和压电传感器之间，并且优选包括由热绝缘材料、诸如玻璃纤维制成的至少一个元件（28），其位于压电传感器和支撑框架之间。
具有压电传感器绝缘接触探测器

[发明专利]接触探测器及相关检查方法-CN201180052620.4有效
发明人： A·甘比尼;C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2011-10-25 - 公布日： 2013-11-20 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：一种用于检测机床或测量机中部件（13）的位置或尺寸的接触探测器（1；1’；1’’；1’’’），包括具有保护性壳体（3）支撑框架（2），以及具有测头（11）以接触将检查的部件（13）的可移动臂组（5）。探测器包括具有由聚合物材料制成的层状压电传感器（25）的检测设备（23），诸如聚偏二氟乙烯，其连接至支撑框架，并且固定在支撑和定位区域（7）处，可移动臂组在等压支架系统（17）限定的位置处依靠其上。连接至支撑框架的调节电子设备（30）包括处理器件，用于处理由检测设备提供的力信号（M），将其与阈值（S）比较，并且产生接触信号（T）。调节电子器件包括差动电荷放大器（3）和处理系统（55），以根据检测得的力信号的最近值而动态地改变阈值。
接触探测器相关检查方法

[发明专利]用于在加工元件时检测该元件的厚度尺寸的仪器-CN201210510842.2有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S·P·A·公司
申请日： 2008-07-18 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： B24B37/013 文献下载
摘要：一种用于在磨削加工过程中检测半导体晶片（1）的厚度尺寸的仪器，该仪器包括光学探测器（3），该光学探测器将红外线辐射光束发射到被加工的晶片（1）的表面（2）上，并探测由所述表面、所述晶片的相对的表面（2’）和/或在晶片中用于分隔不同层的表面（2”，2”’）所反射的光束。发射和反射的光束沿通路（4）行进，所述通路（4）具有显著恒定的不连续性，其一部分穿过空气（15），另一部分通过基本以层流形式低速流动的液体垫（30）。所述光学探测器的支撑定位件（7）包括形成液体垫的液压管道（22，25）。一种用于检测厚度尺寸的方法包括沿发射和反射的光束的行进通路形成液体垫。
用于加工元件检测厚度尺寸仪器

[发明专利]用于在加工元件时检测该元件的厚度尺寸的仪器和方法-CN200880025321.X有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S·P·A·公司
申请日： 2008-07-18 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种用于在磨削加工过程中检测半导体晶片(1)的厚度尺寸的仪器，该仪器包括光学探测器(3)，该光学探测器将红外线辐射光束发射到被加工的晶片(1)的表面(2)上，并探测由所述表面、所述晶片的相对的表面(2’)和/或在晶片中用于分隔不同层的表面(2”，2’”)所反射的光束。发射和反射的光束沿通路(4)行进，所述通路(4)具有显著恒定的不连续性，其一部分穿过空气(15)，另一部分通过基本以层流形式低速流动的液体垫(30)。所述光学探测器的支撑定位件(7)包括形成液体垫的液压管道(22，25)。一种用于检测厚度尺寸的方法包括沿发射和反射的光束的行进通路形成液体垫。
用于加工元件检测厚度尺寸仪器方法

[发明专利]用于检测机械零件线性尺寸的检测头-CN200780030717.9有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2007-09-10 - 公布日： 2009-08-12 - 主分类号： G01B5/012 文献下载
摘要：一种用于检测机械零件线性尺寸的检测头或测量头，该检测头或测量头包括：壳体(1)；带有探头(7)的可移动臂(4)；支轴(10)，该支轴(10)连接于所述壳体和臂，以使所述臂能够相对于所述壳体移动；缩进装置(68)，该缩进装置具有连接于所述壳体的缸体(70)和在该缸体内滑动的活塞(72)，以将所述臂移动至确定的非操作位置；和传感器(50)，该传感器(50)用于根据所述臂相对于所述壳体的位置提供信号。所述缩进装置包括波纹管衬垫(88)，该波纹管衬垫容纳在所述缸体中，且其端部固定于所述缸体和活塞。
用于检测机械零件线性尺寸

[发明专利]用于检测机械工件径向尺寸的量规-CN200780005541.1有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2007-02-13 - 公布日： 2009-03-11 - 主分类号： B24B5/42 文献下载
摘要：一种量规(1)，用于检测工件(60)的径向尺寸，例如在磨削作业中沿轨道旋转的曲柄销的直径。所述量规包括外壳、V型参照物(4)和能够在外壳(2)内相对于所述参照物移动的杆，该杆的端部从外壳伸出并支撑塞尺(20)。该塞尺(20)用于接触被测工件表面并将塞尺的运动传递到传感器(22)。密封系统用于防止冷却液、灰尘或其他外界物质进入外壳，该密封系统包括空气导管(6)和内部密封圈，空气导管允许压缩空气由外壳内部流向外部，在不工作的情况下密封圈密封杆从外壳伸出的孔。根据一个优选的实施方式，密封圈紧固在引导所述杆的轴衬上，并与所述杆的表面配合，以得到密封性。
用于检测机械工件径向尺寸量规

[发明专利]机械零件的线性尺寸检测头-CN200480034369.9有效
发明人： C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2004-11-16 - 公布日： 2007-01-03 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：一种气动检测头包括一个基本上密闭的机壳，一个包括第一部分、第二部分及一个零点设定机构的可移动臂，其中第一部分部分位于所述机壳内并与一个位置传感器相连；第二部分位于机壳外部，包括一个探头以接触检测件；所述零点设定装置用以调整气动检测头以检测不同标称尺寸的检测件。所述零点设定机构位于机壳的外部，包括一个位于所述臂的第一及第二部分之间的快速锁定/解锁装置，和一个与所述臂的第一部分相连的可移动机械参考装置，并且包括一个参考面与另一个相应参考面相配合，用以将所述臂的第一部分相对于机壳保持在一个预定位置。所述快速锁定/解锁装置和所述可移动机械参考装置一起操作以解锁所述臂各部分之间的连接，同时保持预定位置，并且可以锁定所述两个部分同时释放所述臂。
机械零件线性尺寸检测

[发明专利]用于检查机械部件位置的装置和方法-CN200480020560.8无效
发明人： A·科扎里;C·达拉利奥 -专利权人：马波斯S.P.A.公司
申请日： 2004-07-15 - 公布日： 2006-08-23 - 主分类号： B23Q17/22 文献下载
摘要：一种用于检查刀具完好性的装置包括具有激光束(21)的光电子系统(7)、沿着纵向方向(X)使得刀具和光电子系统之间产生位移运动的可运动底座(6)，以及用于检查相互位置包括如传感器装置(9，10)的装置。光电子系统的传感器(22)检测光束的中断，并且根据对所述中断处的传感器信号与已知值相比较来检测光束的中断情况，从而确定刀具的完好性。连接到底座上的光电子系统的连接机构(24)使得光束沿着横向参考表面发生振动，其中所述参考表面限定了一灵敏的界定区域(33)。所述振动由马达(26)控制，在刀具的端部与灵敏界定区域发生干涉的瞬间由传感器来检测光束的中断并发出光束出现中断的信号。
用于检查机械部件位置装置方法

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