专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]带电粒子束显微术中的光学像差的测量和校正-CN202310175175.5在审
  • E·弗兰肯;B·J·詹森 - FEI 公司
  • 2023-02-27 - 2023-08-29 - H01J37/26
  • 带电粒子束显微术中的光学像差的测量和校正。带电粒子束显微镜系统以透射成像模式操作。在操作期间,带电粒子束微系统将带电粒子束引导至样本以产生图像。将束倾斜的时间序列以图案应用于被引导到样本的带电粒子束以产生图像的序列。在带电粒子束在束倾斜的时间序列中的一个束倾斜与束倾斜的时间序列中的顺序相邻的束倾斜之间转变时,捕捉图像序列中的至少一些图像。该图案被配置成引起图像序列中的图像之间的图像改变,其指示带电粒子束显微镜系统中的光学像差。
  • 带电粒子束显微中的光学测量校正
  • [发明专利]用于生成衍射图像的方法和系统-CN202210814724.4在审
  • B·布伊斯;B·J·詹森 - FEI 公司
  • 2022-07-12 - 2023-01-17 - G01N23/20058
  • 用于生成衍射图像的方法和系统包括响应于用电子束照射样本而从直接检测检测器获取多个帧。识别所述多个帧中的多个衍射峰。在计数模式中估计所识别衍射峰中的至少一个衍射峰的第一剂量率。如果所述第一剂量率不超过阈值剂量率,则通过对电子检测事件计数来生成包含所述衍射峰的衍射图像。用对应于第一重合区域的计数参数值的第一集合确定属于所述衍射峰的像素的值。使用对应于第二不同重合区域的计数参数值的第二集合确定不属于所述多个衍射峰中的任一个的像素的值。
  • 用于生成衍射图像方法系统
  • [发明专利]带电粒子显微镜学中的缺陷像素管理-CN202210747352.8在审
  • E·M·弗兰肯;B·J·詹森 - FEI 公司
  • 2022-06-29 - 2022-12-30 - G06T7/00
  • 本文公开了与带电粒子显微镜学中的缺陷像素管理相关的方法、设备、系统和计算机可读介质。例如,在一些实施例中,一种带电粒子显微镜支持设备可以包含:第一逻辑,其用于识别带电粒子相机的缺陷像素区域,其中带电粒子相机无法检测缺陷像素区域中的带电粒子事件;第二逻辑,其用于生成第一带电粒子事件指示符,第一带电粒子事件指示符识别在缺陷像素区域之外的第一带电粒子事件的第一时间和第一位置,其中第一带电粒子事件由带电粒子相机检测;第三逻辑,其用于生成第二带电粒子事件指示符,第二带电粒子事件指示符识别缺陷像素区域中的第二时间和第二位置;以及第四逻辑,其用于输出表示带电粒子事件指示符的数据。
  • 带电粒子显微镜中的缺陷像素管理
  • [发明专利]空气辅助颗粒输送系统-CN201780093958.1有效
  • M·B·文图里诺;B·J·詹森 - 金伯利-克拉克环球有限公司
  • 2017-08-31 - 2022-10-04 - B65G53/04
  • 描述了用于传送颗粒材料的方法和设备。颗粒材料传送设备可包括具有滑动管道轴线的滑动管道。所述滑动管道可包括内部区域,并且所述内部区域可具有顶部第三内部区域、中间第三内部区域和底部第三内部区域。所述顶部第三内部区域设置在所述中间第三内部区域上方,并且所述中间第三内部区域设置在所述底部第三内部区域上方。所述管道还限定开口。空气移动机构可连接到所述管道,并且被构造成使空气沿所述滑动管道轴线的方向移动通过所述开口进入所述滑动管道,使得通过所述底部第三内部区域离开的空气量大于通过所述顶部第三内部区域或所述中间第三内部区域中的任一个离开的空气量。
  • 空气辅助颗粒输送系统
  • [发明专利]制造带电粒子检测器的方法-CN202010686356.0在审
  • B·J·詹森;P·多纳 - FEI公司
  • 2020-07-16 - 2021-01-19 - H01J37/244
  • 本发明涉及一种制造带电粒子检测器的方法,其包括以下步骤:提供诸如有源像素传感器(APS)之类的传感器设备。所述传感器设备至少包括衬底层和敏感层。该方法进一步包括以下步骤:提供机械支撑层并且将所述机械支撑层连接到所述传感器设备。在连接之后,敏感层位于所述衬底层与所述机械支撑层之间。通过连接机械支撑层,有可能减薄所述衬底层以用于形成所述带电粒子检测器。机械支撑层形成制造的检测器的一部分。该检测器可以被用于带电粒子显微镜,诸如用于进行直接电子检测的透射电子显微镜。
  • 制造带电粒子检测器方法

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