“A·提鲁文加达姆”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果13个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]用于温度控制组件的独立的热腔室-CN202080092204.6在审
发明人： D·G·斯科比;A·塞门纽克;A·提鲁文加达姆 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G06F1/20 文献下载
摘要：一种热腔室包含多个侧部，例如背侧、前侧、第一端、第二端、顶侧和底侧。电子电路板可调整地安装到所述底侧且定位于所述热腔室的所述底侧上方。在闭合位置中，所述多个侧部形成围封腔室。所述顶侧包含沿着水平轴定向的一或多个端口。所述一或多个端口中的每一个包含暴露所述围封腔室的顶侧开放区域。所述一或多个端口中的每一个被配置成接收温度控制组件，所述温度控制组件局部地传递热能进出耦合到所述电子电路板且定位于所述电子电路板上方的电子系统的多个电子装置。
用于温度控制组件独立热腔室

[发明专利]用于电子系统的温度控制组件-CN202080093120.4在审
发明人： D·G·斯科比;A·塞门纽克;A·提鲁文加达姆 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： H05K7/20 文献下载
摘要：温度控制组件包含TEC，所述TEC包含顶表面和底表面。热传导层包含顶表面和底表面。所述热传导层的所述顶表面耦合到所述TEC的所述底表面。所述热传导层的所述底表面包含平面区域。所述热传导层的所述平面区域将定位在电子系统的多个电子装置中的两个或更多个电子装置上方以在所述两个或更多个电子装置处传递热能。
用于电子系统温度控制组件

[发明专利]存储器装置上的微调设置确定-CN201880071382.3有效
发明人： A·提鲁文加达姆;D·L·洛伦斯;P·费利 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-11-02 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G11C29/02 文献下载
摘要：本公开包含与确定存储器装置上的微调设置有关的设备和方法。实例设备可基于存储器单元阵列的操作特性确定所述存储器单元阵列的一组微调设置，其中所述组微调设置与所述存储器单元阵列的所要操作特性相关联。
存储器装置微调设置确定

[发明专利]存储器装置的修整设置确定-CN202210031142.9在审
发明人： A·提鲁文加达姆;D·L·洛伦斯;P·费利 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-11-02 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：本申请实施例涉及存储器装置的修整设置确定。本发明包含与包含控制器及存储器单元阵列的存储器系统相关的设备及方法。实例设备可包含控制器，所述控制器经配置以基于由存储器单元阵列执行的先前操作接收所述存储器单元阵列的操作特性，基于所述存储器单元阵列的所述操作特性确定所述存储器单元阵列的一组修整设置，其中所述修整设置组与所述存储器单元阵列的所要操作特性相关联，且将所述修整设置组发送到所述存储器单元阵列。
存储器装置修整设置确定

[发明专利]存储器装置的修整设置确定-CN201880071772.0有效
发明人： A·提鲁文加达姆;D·L·洛伦斯;P·费利 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-11-02 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G11C29/02 文献下载
摘要：本发明包含与包含控制器及存储器单元阵列的存储器系统相关的设备及方法。实例设备可包含控制器，所述控制器经配置以基于由存储器单元阵列执行的先前操作接收所述存储器单元阵列的操作特性，基于所述存储器单元阵列的所述操作特性确定所述存储器单元阵列的一组修整设置，其中所述修整设置组与所述存储器单元阵列的所要操作特性相关联，且将所述修整设置组发送到所述存储器单元阵列。
存储器装置修整设置确定

[发明专利]存储器组件的多维使用空间测试-CN201980090558.4在审
发明人： A·提鲁文加达姆;S·帕塔萨拉蒂;P·汤姆森 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-17 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G06F11/263 文献下载
摘要：产生表示与存储器组件的测试的使用参数对应的目标向量。将测试样本指配给所述目标向量并且产生用于所述测试样本的路径变量集。使用所述测试样本根据所述路径变量集执行所述测试的测试过程以产生测试结果。识别与所述测试结果相关联的失败。
存储器组件多维使用空间测试

[发明专利]管理测试资源以执行存储器组件的可靠性测试-CN201980088824.X在审
发明人： A·提鲁文加达姆;S·帕塔萨拉蒂;D·斯科比;F·詹森 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-16 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G06F11/263 文献下载
摘要：确定与要对一或多个存储器组件执行的测试相关联的滤波器信息。可以保留与所述滤波器信息匹配的一组存储器组件用于测试。确定定义所述测试的一组测试过程的测试执行信息。可以建立与第一测试过程的连接，并将其用于接收与所述测试过程的执行相关联的反馈信息。基于所述反馈信息，可以识别所述第一测试过程的失败。
管理测试资源执行存储器组件可靠性

[发明专利]用于热控制部件的热腔室-CN201980089116.8在审
发明人： D·G·斯科比;A·塞门纽克;A·提鲁文加达姆 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-11 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G06F1/20 文献下载
摘要：本公开提供了一种热腔室，所述热腔室包括多个面，诸如背面、正面、第一端、第二端、顶面和底面。所述多个面形成腔体。顶面包括一或多个端口。所述一或多个端口中的每一个包括暴露热腔室内的腔体的顶面开放区域。所述一或多个端口中的每一个被配置为接收温度控制部件，所述温度控制部件将热能传递进出经由腔体暴露的电气装置。所述一或多个端口的顶面开放区域具有所述底面的位于所述顶面开放区域下方的对应底面开放区域。底面开放区域被配置为允许温度控制部件接触经由底面开放区域暴露的电气装置。
用于控制部件热腔室

[发明专利]具有传热组件的双热电组件设备-CN201980089281.3在审
发明人： D·G·斯科比;A·塞门纽克;A·提鲁文加达姆 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-10 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： H01L35/02 文献下载
摘要：第一热电组件(TEC)包含顶面及底面。所述第一TEC经配置以基于施加到所述第一TEC的电压电势来同时提高所述顶面的温度并降低所述底面的温度或同时降低所述顶面的温度并提高所述底面的温度以在所述顶面与所述底面之间传递热能。传热组件包含顶面及底面。所述传热组件的所述底面经耦合到所述第一TEC的所述顶面。所述传热组件经渐缩使得所述底面小于所述顶面。第二TEC包含顶面及底面。所述第二TEC的所述底面经耦合到所述传热组件的所述顶面。所述第二TEC大于所述第一TEC。
具有传热组件热电设备

[发明专利]以容错性进行存储器组件的测试-CN201980087874.6在审
发明人： A·提鲁文加达姆;S·帕塔萨拉蒂;D·斯科比 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-04 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：可接收测试平台的测试资源已故障的指示。所述测试资源可与进行存储器组件的测试的一部分相关联。可确定出故障的所述测试资源的特性。可基于出故障的所述测试资源的所述特性来识别所述测试平台的另一测试资源。可基于所述测试平台的所述另一测试资源来进行所述存储器组件的测试的所述部分。
容错进行存储器组件测试

[发明专利]分配执行存储器组件的测试的测试资源-CN201980087906.2在审
发明人： A·提鲁文加达姆;S·帕塔萨拉蒂;F·詹森 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-04 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：可接收用以利用一或多个存储器组件执行测试的请求。可确定与存储器组件相关联的测试平台的可用测试资源。可确定由所述测试指定的所述一或多个存储器组件的期望特性。可基于与所述可用测试资源中的一或多个相关联的各别存储器组件的特性和所述测试的所述一或多个存储器组件的所述期望特性而将所述测试平台的所述可用测试资源中的所述一或多个指派给所述测试。此外，可利用所述测试平台的所述可用测试资源中的所指派一或多个来执行所述测试。
分配执行存储器组件测试资源

[发明专利]基于阈值分布的存储器子系统分析-CN202011521379.2在审
发明人： A·提鲁文加达姆;D·L·洛伦斯;J·菲尔普斯;P·B·哈林顿 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本申请案涉及基于阈值分布的存储器子系统分析。公开一种系统，其包含：存储器组件，其具有多个存储器单元，能够处于多个状态，所述多个状态中的每一状态对应于由所述存储器单元存储的值；及处理装置，其与所述存储器组件进行操作耦合，以执行包括以下各项的操作：针对所述多个存储器单元获得多个阈值电压分布，其中所述多个分布中的每一个对应于所述多个状态中的一个；将所述多个分布中的每一个分类在多个分类中的一个当中；产生包括多个分量的矢量，其中所述多个分量中的每一个表示所述多个分布中的相应一个的所述类别；及使用分类器处理所述所产生矢量以确定所述存储器组件将在目标时间段内产生故障的可能性。
基于阈值分布存储器子系统分析

[发明专利]存储器装置上的可配置修整设置-CN201880071647.X在审
发明人： A·提鲁文加达姆;D·L·洛伦斯;P·菲利 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-11-02 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：本发明包含与存储器装置上的可配置修整设置相关的设备及方法。实例设备可包含配置存储器单元阵列的一组修整设置，使得响应于用所述修整设置组操作，所述存储器单元阵列具有所要操作特性。
存储器装置配置修整设置

1
共 13 条