专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]核电数字仪控系统可靠性测试方法及装置-CN202111038015.3在审
  • 张硕;齐敏;黄君龙;黄太新;段长亮 - 北京广利核系统工程有限公司
  • 2021-09-06 - 2023-03-10 - G05B23/02
  • 本申请公开了一种核电数字仪控系统可靠性测试方法及装置。其中,核电数字仪控系统可靠性测试方法包括:获取核电数字仪控系统的设计需求,并根据设计需求确定核电数字仪控系统的测试对象,测试对象包括硬件单产品和系统产品;针对测试对象编写对应的测试用例,测试用例包括硬件单产品测试用例和系统产品测试用例;在产品设计阶段执行硬件单产品测试用例,以对硬件单产品的可靠性进行测试;在系统设计阶段执行系统产品测试用例,以对系统产品的可靠性进行测试。本申请实施例的核电数字仪控系统可靠性测试方法及装置,可有效快速识别硬件单产品和系统产品容错性能、安全性能,方案实现容易,降低成本。
  • 核电数字系统可靠性测试方法装置
  • [发明专利]一种硬件板卡周期运行时间的测试方法-CN201010576423.X有效
  • 黄太新;钱升华 - 北京广利核系统工程有限公司;中国广东核电集团有限公司
  • 2010-12-01 - 2012-06-06 - G04F10/00
  • 本发明公开一种硬件板卡周期运行时间的测试方法,涉及光学领域,包括如下步骤:步骤1、将经过时间检验的高精度示波器的信号线连接在测试板卡的TP点上;步骤2、在测试板卡的周期运行程序中插入测试代码;步骤3、根据测试代码在高精度示波器上显示的波形,确定周期运行程序的周期运行时间;步骤4、将高精度示波器得出的周期运行时间与设计的周期运行时间比较,即得到被测试板卡周期运行程序真实的周期运行时间与设计的周期运行时间时间的误差值。本方案采用高精度示波器来测试板卡的周期运行时间,使测试使用的时钟源与板卡自身的时钟源独立开来,避免了由于系统时钟不准确导致的测试周期时间不准确的问题,保证了整个设备的时间统一性。
  • 一种硬件板卡周期运行时间测试方法

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