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[发明专利]一种基于以太网的一对多测试系统及测试方法-CN201811275740.0在审
发明人：陈亮;魏赫颖;徐妍 -专利权人：天津津航计算技术研究所
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-02-01 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明属于电子设备测试技术领域，具体涉及一种应用于电子产品测试过程的功能开发，为电子产品的功能、性能等验证测试提供支持的基于以太网的一对多测试系统及测试方法。本发明中，每台测试设备对硬件资源的访问元操作进行标准化设计，统一接口访问格式，内含完全一致的支撑软件，流程控制统一化；测试装置通过对多台测试设备顺序上电，动态分配每台测试设备的IP地址，然后基于IP地址对每台测试设备进行流程测试，达到便利性、高效性等效果。
测试设备测试系统一对多以太网电子产品测试电子设备测试标准化设计测试测试装置动态分配功能开发流程测试流程控制统一接口验证测试硬件资源便利性高效性元操作上电电子产品访问支撑应用统一

[实用新型]一种测试配置多种通讯协议的系统芯片的测试系统-CN201320449278.8有效
发明人：李鑫;朱天成;杨阳;郑炜;李岩;魏赫颖;王森 -专利权人：中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所
申请日： 2013-07-25 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试配置多种通讯协议的系统芯片的测试系统，包括一测试向量产生板和多块测试子卡，各测试子卡与测试向量产生板连接。本实用新型利用测试向量产生板和多块测试子卡有效解决了芯片测试设备外围接口资源不足的问题，适合于不同类型的芯片测试，可以有效的测试通讯类和算法类芯片的功能。每个芯片测试子卡和测试向量板是可以分离的，可根据现场的实际应用需求对子卡进行设计而不用对测试向量产生板卡进行更改，具有高度的灵活性和可扩展性。芯片测试子卡与测试向量产生板卡之间可以采用多种总线方式进行通讯，可以同时对多块子卡进行通讯，同时测试多片不同类型的芯片。提高了系统的测试效率。
一种测试配置多种通讯协议系统芯片

[发明专利]一种电子设备健康状态采集系统-CN201510431410.6在审
发明人：陈亮;叶旭鸣;刘剑锋;张大刚;朵慧智;魏赫颖 -专利权人：中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所
申请日： 2015-07-21 - 公布日： 2015-11-11 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明属于电子设备检测与健康管理设计领域，具体涉及一种电子设备健康状态采集系统，其具体应用于电子设备自身状况检测、器件使用情况统计、为电子设备提供健康状况提供数据支撑。其包括：处理器、总线探测接口、传感器集、存储器、交互接口；从处理器的视角出发，与传感器集之间的通信包括传感器设置输出、传感器指令发送输出与数据读取输入，与总线探测接口之间的通信包括探测指令发送输出与状态读取输入，与存储器之间的通信包括数据存储输出与数据读取输入，与交互接口之间的通信包括状态发送输出与指令接收输入；本发明技术方案成功地为电子设备的健康状态检测与监控、设备健康程度、元器件的工作状态，以及元器件的更换决策提供数据支持。
一种电子设备健康状态采集系统