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[发明专利]一种α源探测成像光学装置和方法-CN202310160096.7在审
发明人：常军林;高祎宁;盛增理;徐红鹃;王海山;付立民 -专利权人：卡迪诺科技（北京）有限公司
申请日： 2023-02-24 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01T1/16 文献下载
摘要：本发明涉及提出了一种用于α源探测的成像光学系统和方法，所述成像光学系统包括紫外成像光学装置和阵列式光电倍增管PMT单光子探测装置；紫外成像光学装置，用于收集预设范围的散射光信号，并将散射光信号处理后，得到紫外荧光信号，将紫外荧光信号传送到所述阵列式PMT单光子探测装置；阵列式PMT单光子探测装置，用于利用α粒子激发空气中氮气所产生的紫外荧光持续时间特征对所述紫外荧光信号进行处理，得到α粒子激发空气中的氮气所产生的紫外荧光信号。本发明实现了在现场条件下为利用阵列式PMT通过单光子探测方式α源远距离非接触检测的系统或者检测仪器提供可以灵活组合的紫外成像光学装置，提高了α源现场检测的安全性和工作效率。
一种探测成像光学装置方法

[发明专利]一种通用伺服系统性能测试平台-CN201610779823.8有效
发明人：谢伟;张蕾;兰天;高祎宁;胡涟 -专利权人：北京精密机电控制设备研究所;中国运载火箭技术研究院
申请日： 2016-08-30 - 公布日： 2019-03-26 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：一种通用伺服系统性能测试平台，包括常规测试子系统、特殊测试子系统以及数据处理子系统。常规测试子系统完成总成测试、单元测试等常规的伺服系统测试，特殊测试子系统完成有特殊要求的伺服系统热试车等长程测试，常规测试子系统和特殊测试子系统将平台的测试参数信息和测试后得到的测试数据转化为数据处理配置文件包输出给数据处理子系统，数据处理子系统对接收的数据处理配置文件包进行解析，得到待测试特性参数和特性曲线，并对待测试特性参数进行判读，从而判断伺服系统是否合格。本发明的测试平台能够实现伺服系统的各类测试，且数据格式一致，极大地简化了测试流程，提高了测试可靠性。
一种通用伺服系统性能测试平台