“马库斯·比勒”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]优化布线器设置以提高集成电路产量的方法-CN200710091626.8无效
发明人：珍妮·P.·比克福德;于尔根·克尔;马库斯·比勒;丹尼尔·N.·梅纳德;詹森·希伯勒 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2007-04-03 - 公布日： 2007-10-17 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：在这里的实施例提供了一种优化布线器设置以提高IC产量的方法、计算机程序产品等。方法以检查集成电路生产线上的产量数据，以识别影响集成电路产量的结构特定机制开始。然后，方法为每个结构特定机制确立一个结构标识符，这些结构标识符包括导线码、标签和/或唯一标识符。为包括具有不同宽度的导线确立不同的结构标识符。此外，方法还为每个结构特定机制确立一个加权因子，其中为包括接近多条粗导线的粗导线的结构确立较大的加权因子。方法为单宽导线、双宽导线和三宽导线之间的间隔的发生率和为在大金属接触面之上的导线的发生率确立结构标识符和加权因子。接着，根据结构标识符和加权因子修改布线器设置，以使系统性缺陷减至最少。
优化布线设置提高集成电路产量方法

[发明专利]半导体产品的测试成品率估计方法和系统-CN200610136544.6无效
发明人：珍妮·P.·比克福德;马库斯·比勒;于尔根·克尔;詹森·D.·希伯勒 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-10-25 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：公开了一种在设计布局之前，预测半导体产品的测试成品率的方法。这是通过将临界区分析应用于用于形成特定产品的各个库单元、并通过估计组合这些库单元的测试成品率影响完成的。例如，该方法考虑了对库单元与库单元短路的敏感性造成的测试成品率影响和对布线缺陷的敏感性造成的测试成品率影响。所公开的方法进一步允许了管芯尺寸增大与对测试成品率较高的库单元的使用之间的折衷，以便提供最佳设计解决方案。因此，该方法可以用于修改库单元选择，以便使测试成品率最佳化。最后，该方法进一步在关键设计检验点上重复该方法本身，以便重新验证向客户报价时作出的最初测试成品率(和成本)假设。因此，该方法通过设计提供了从最初尺寸确定得出的测试成品率估计值的更高准确性，并进一步使设计得到修改，以提高测试成品率。
半导体产品测试成品率估计方法系统