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- [发明专利]芯片寄存器RTL代码的生成方法及装置-CN202210736288.3在审
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崔玥
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集睿致远(厦门)科技有限公司
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2022-06-27
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2022-09-30
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G06F30/367
- 本发明提供了一种芯片寄存器RTL代码的生成方法及装置,方法包括:获取芯片的端口信号列表;端口信号列表包括若干个信号的信号属性,信号属性至少包括寄存器标记,寄存器标记用于通过指定偏移地址或自动偏移地址来表征对应信号是否与寄存器相关联;根据寄存器标记,确定端口信号列表中与寄存器相关联的目标信号;基于目标信号所对应寄存器标记中的指定偏移地址或自动偏移地址,生成偏移地址字典;偏移地址字典中包括目标信号的相关信息,相关信息至少包括偏移地址;根据偏移地址字典中的偏移地址对偏移地址字典进行逐域处理,生成寄存器文档;根据寄存器文档中每一行的代码逻辑,生成寄存器RTL代码。本方案能够提高寄存器RTL代码的生成效率和准确度。
- 芯片寄存器rtl代码生成方法装置
- [发明专利]一种芯片测试方法和测试系统-CN202210211437.4在审
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赵宁;侯建桥
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集睿致远(厦门)科技有限公司
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2022-02-28
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2022-06-03
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G01R31/28
- 本申请涉及电子技术领域,特别涉及一种芯片测试方法及测试系统。该方法用于对待测芯片中预设数量的测试信号进行测试,包括:确定芯片中用于测试的输出端口的个数和每一个输出端口所需输出的测试信号的数量;在芯片内部设置与每一个测试输出端口对应的标记信号;针对每一个测试输出端口,基于芯片内部设置的并串信号转换器,根据时钟信号按照预设采样频率对测试输出端口所需输出的测试信号和对应的标记信号进行采样,将得到的串行信号从测试输出端口输出;利用可编辑逻辑器件将接收到的串行信号进行恢复,得到预设数量的测试信号,利用逻辑分析仪对该预设数量的测试信号进行测试。该方法能够节省芯片测试用输出端口,降低芯片的开发周期和成本。
- 一种芯片测试方法系统
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