专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]镀层测量方法、镀层测量装置及镀层生产线-CN202211307533.5在审
  • 陶兴荣 - 北京核夕菁科技有限公司
  • 2022-10-24 - 2023-01-17 - G01B11/06
  • 本申请公开了一种镀层测量方法、镀层测量装置及镀层生产线,包括:向待测量材料发射X射线,待测量材料为镀材和基材结合后形成的材料;接收由待测量材料反射的X射线并形成X射线光谱;基于X射线光谱确定已标定的镀材频率点和基材频率点,基材频率点为X射线光谱上与基材对应的波峰两侧的频率点f0和f1,镀材频率点为X射线光谱上与镀材对应的波峰两侧的频率点f2和f3,依据面积的比表征成分的量的比来对X射线光谱中(f0,f1)和(f2,f3)积分得到镀层的厚度,由于是通过对反射的X射线进行光谱分析,因此对待测量材料的震动不敏感,可以获得高精度的镀层厚度测量,同时能够针对多镀层的待测量材料进行各个镀层的厚度测量。
  • 镀层测量方法测量装置生产线
  • [发明专利]镀层测量方法和装置-CN201810558812.6有效
  • 曹鸿章;陶兴荣 - 北京核夕菁科技有限公司
  • 2018-06-01 - 2021-03-02 - G01B15/02
  • 本申请公开了一种镀层测量方法和装置。所述方法包括对完成镀层基板的一测量线上同一点或两个点分别发射第一射线和第二射线,分别接收穿过基板的第一射线和第二射线,确定第一射线的接收强度和第二射线的接收强度,其中,第一射线的发射强度和第二射线的发射强度不同,测量线垂直于基板的通长方向;根据第一射线的发射强度和接收强度以及第二射线的发射强度和接收强度,确定基板上测量线所在位置的镀层厚度。本申请解决了现有技术中在带钢镀层生产线上无法精确地确定测量镀层厚度,无法及时验证带钢的镀层厚度是否符合标准的技术问题。
  • 镀层测量方法装置
  • [发明专利]镀层测量方法和装置-CN201810489475.X有效
  • 曹鸿章;陶兴荣 - 北京核夕菁科技有限公司
  • 2018-05-21 - 2020-11-27 - G01B15/02
  • 本申请公开了一种镀层测量方法和装置。所述方法包括对未进行镀层的基板上一测量位置发射第一射线,接收穿过基板的第一射线,确定第一射线的接收强度;对完成镀层的基板上的测量位置发射第二射线,接收穿过基板的第二射线,确定第二射线的接收强度;根据第一射线的接收强度、第二射线的接收强度以及镀层材料对第二射线的吸收系数,确定测量位置上的镀层厚度。本申请解决了现有技术中在带钢镀层生产线上无法精确地确定测量镀层厚度,无法及时验证带钢的镀层厚度是否符合标准的技术问题。
  • 镀层测量方法装置

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