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[发明专利]测定装置及测定方法-CN201811552998.0有效
发明人： 长井秀行;寺岛隆幸 -专利权人：日置电机株式会社
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01R27/08 文献下载
摘要：本发明提供一种测定装置及测定方法，用于提高电子元器件的待测量的测定精度。其具备电流提供部、电压检测部和处理部，处理部基于从各电流提供部分别经由第一输出端子和第二输出端子而提供的各测定用电流的各电流值、由电压检测部检测出的电压值，测定多个电阻值，并计算对各电阻值进行数值处理而得的处理值作为贴片电阻的电阻值，其中，第一输出端子分别与贴片电阻的本体部的一端部所设的端子上沿着与连接本体部的一端部与另一端部的第一方向相交的第二方向彼此分离的2处第一提供位置连接，第二输出端子分别与本体部的另一端部所设的端子上沿着第二方向彼此分离的2处第二提供位置连接。
测定装置方法

[发明专利]阻抗测定装置及阻抗测定方法-CN201610768675.X有效
发明人：饭岛淳司;长井秀行 -专利权人：日置电机株式会社
申请日： 2016-08-30 - 公布日： 2020-03-13 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明提供能够进行稳定的测定的阻抗测定装置及测定方法；利用多个测定频率进行下述测定并求出噪声少的测定频率，该测定是指：利用与测定信号同步且相位呈正交的两个基准信号、即同步信号，对未被供给测定信号状态下的测定对象、即试样中出现的检测信号进行同步检波，而测定试样的噪声电平；将噪声少的频率的测定信号供给试样，并利用基准信号对该检测信号进行同步检波而测定试样的阻抗；或者，对作为测定对象的试样提供规定频率的测定信号，生成与测定信号同步的基准信号并利用上述基准信号对试样中出现的检测信号进行同步检波；利用特性不同的多个低通滤波器使同步检波后的信号通过，选择多个低通滤波器中的任意一个，并且通过无噪声影响的测定值的取得而结束该选择。
阻抗测定装置方法