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[发明专利]三维形貌测量装置-CN202011042935.8有效
发明人：余良彬;王湧锋;陈俊玓 -专利权人： 鉴微科技股份有限公司
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种三维形貌测量装置，包含：一投射装置、一取像装置、以及一影像处理装置。投射装置投射多个结构光于一场景上，每一个结构光的投射时间彼此错开，结构光依序在一第一投射期间及一第二投射期间投射，结构光分别具有一频率及一平均位准，其中，第一投射期间的结构光的平均位准和第二投射期间的结构光的平均位准相同，第一投射期间的结构光的频率和第二投射期间的结构光的频率不同；取像装置在每一个结构光的投射时间内撷取场景而获得一影像；以及影像处理装置根据影像获得场景内的待测物的三维形貌。
三维形貌测量装置

[发明专利]三维扫描系统-CN201811625882.5有效
发明人：余良彬;王湧锋;陈俊玓;管雲平 -专利权人： 鉴微科技股份有限公司
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：一种三维扫描系统，包含投射光源、影像捕获设备及信号处理装置。投射光源用以对一目标物投射二维光，其中二维光具有一空间频率。影像捕获设备撷取照射有二维光的目标物的影像。信号处理装置耦接投射光源与影像捕获设备，以分析二维光影像的清晰度，若二维光影像的清晰度低于一需求标准，则降低二维光的空间频率。
三维扫描系统