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- [发明专利]一种上电软启动电路-CN202210256141.4在审
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刘剑锋;黄裕泉;邓凌思
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辉芒微电子(深圳)股份有限公司
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2022-03-15
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2023-09-22
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H02M1/36
- 本发明公开了一种上电软启动电路,包括:基准值产生电路,用于在上电启动过程中输出缓慢增长的基准值;保护阈值产生电路,用于在上电启动过程中输出缓慢增长的保护阈值,如此本发明可实现更为平顺的电流输出,极大的改善了输出电流浪涌的风险,保障输出电压的平稳输出;进一步地,本发明还增加了频率调制电路,在启动初期输出电压较小时,可以很好的限制此时的平均输出电流,减少芯片损坏的风险,尤其在异常情况下,如输出短路,通过降低工作频率,带来的平均输出电流的减小,如此可以极大的提高系统可靠性;进一步地,本发明还增加了启动时间检测电路,可以避免长时间工作在峰值电流而出现损坏。
- 一种上电软启动电路
- [发明专利]一种自动化电子元器件测试机构-CN201710941084.2在审
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陈能强;邓凌思
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无锡昌鼎电子有限公司
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2017-10-11
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2018-04-27
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G01B21/00
- 本发明涉及电子元器件的检测设备领域,具体是一种自动化电子元器件测试机构,包括入料轨道、移料装置、测试片和底座,所述入料轨道通过固定座与所述底座连接,所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动,所述测试片安装于所述入料轨道的末端。本机构通过移料装置套设于所述入料轨道来对待检测材料移动行为进行调整与控制,不仅能够对待检测材料有条不紊的控制,而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制,使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的控制,不会对正在检测的材料产生干扰,与传统吹气控制待检测材料前进相比,整体机构更加小型化,装运和安装更加方便快捷。
- 一种自动化电子元器件测试机构
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