专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种光伏组件室外暴露试验装置-CN202320140020.3有效
  • 蒋丽燕;董立超;陈良水;王鹏;王岩 - 环晟新能源(江苏)有限公司
  • 2023-01-30 - 2023-06-20 - H02S50/10
  • 本实用新型涉及光伏组件测试技术领域,尤其涉及一种光伏组件室外暴露试验装置。该装置用于对光伏组件进行室外暴露试验,包括安装支架、辐照度表、微型逆变器、温度热电偶和控制系统;光伏组件、辐照度表和微型逆变器均装设于安装支架上,温度热电偶设置于光伏组件的背面;控制系统与光伏组件、辐照度表、微型逆变器和温度热电偶电连接。本申请提供的测试装置通过控制系统实时掌握当前辐照度、组件温度情况,可以更准确的计算出室外暴露稳定测试的辐照量,为光伏组件衰减性能提供更加准确的数据,进而准确估算光伏组件室外衰减率,有利于后续组件性能的分析。此外,该测试装置可一次性测试多块光伏组件,具有测试效率高的优势。
  • 一种组件室外暴露试验装置
  • [实用新型]一种用于煤矿机电的接电箱-CN202222589378.2有效
  • 刘霁强;史峰;牛军辉;董立超 - 华亭煤业集团有限责任公司
  • 2022-09-29 - 2023-05-05 - H02B1/28
  • 本实用新型公开了一种用于煤矿机电的接电箱,涉及煤矿机电技术领域,包括箱体、散热扇和安装板,所述箱体一侧开设有进风口,所述进风口内部固定设有第一滤网板,所述箱体一侧设有扫尘机构,所述扫尘机构设在进风口前侧,所述扫尘机构包括安装罩,所述安装罩固定连接在箱体一侧,所述安装罩内部设有电动推杆和活动板,所述电动推杆前侧与安装罩内部前侧固定连接,所述活动板固定连接在电动推杆后侧,所述活动板一侧固定设有硬毛刷,通过扫尘机构中的电动推杆推动活动板移动,然后活动板移动时再通过硬毛刷将第一滤网板上附着的灰尘和杂物刷落,使得第一滤网板上的孔缝不会被杂物堵住而影响通风效果,有效提高了进风量以及散热效果。
  • 一种用于煤矿机电接电箱
  • [发明专利]光伏组件的静态载荷测试方法和装置-CN202310014118.9在审
  • 蒋丽燕;董立超;王鹏;陈良水;王岩 - 环晟新能源(江苏)有限公司
  • 2023-01-05 - 2023-05-02 - G01N3/14
  • 本发明提供了及一种光伏组件的静态载荷测试方法和装置。其中,该方法包括:获取待测组件,将待测组件通过支架横梁放置于测试支架座上;将沙袋均匀平铺于待测组件的表面;通过预先设置的多个形变量传感器采集待测组件的各个区域的形变量;通过外部的静态载荷测试系统为待测组件供电,并采集待测组件的电流信号;基于电流信号和形变量确定待测组件是否通过测试。将沙袋均匀平铺于待测组件的表面,确保待测组件受力均匀,可以提高待测组件测试的准确度。通过形变量传感器对待测组件的各个区域的形变量进行监控,可以便于对不同版型的待测组件的形变量变化进行分析。通过采集待测组件的电流信号,可以准确判断待测组件是否通过测试。
  • 组件静态载荷测试方法装置
  • [发明专利]表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质-CN202110047151.2有效
  • 董立超;赵东峰;艾立夫;刘艺;朱春霖;刘宝山;彭旭 - 歌尔股份有限公司
  • 2021-01-13 - 2023-05-02 - G06F30/23
  • 本发明涉及光学检测技术领域,公开了一种表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取待测元件表面的预设缺陷区域的散射光空间分布数据,并基于所述散射光空间分布数据确定所述预设缺陷区域的缺陷形状,获取所述预设缺陷区域的散射光强值,并基于所述散射光强值确定所述缺陷形状对应的缺陷尺寸,基于所述缺陷形状和所述缺陷尺寸进行表面缺陷检测,以获得所述待测元件表面的缺陷结构信息,通过本发明所述的散射法检测中的非成像法对待测元件表面缺陷进行检测,避免了现有技术中通过超声检测和光学检测中的成像法进行表面缺陷检测时所带来的弊端,实现了对多种类型的待测元件的高精度、高效率的表面微纳级别缺陷检测。
  • 表面缺陷检测方法装置设备存储介质

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