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[发明专利]衬垫及其管理方法、系统以及程序-CN202180048450.6在审
发明人：赤松淑子;户田清华;高桥聪美;寺崎正;坂田义太朗;菊永和也;江头正浩 -专利权人：株式会社华尔卡;国立研究开发法人产业技术综合研究所
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： F16J15/10 文献下载
摘要：在本公开的技术中，在与被限制在凸缘(16‑1、16‑2)之间的约束部(2‑1)相邻的非约束部(2‑2)具有外切口(4‑1、4‑2、4‑3、4‑4)，所述外切口的形状因由所述约束部承受的载荷而发生变化。测量承受所述载荷而发生了变化的所述外切口的形状，根据所述形状来管理所述衬垫的紧固。由此，能够直接观测在凸缘间承受载荷的衬垫的形状变化，从而能够在衬垫的紧固的管理中使用观测结果来提高衬垫及其管理技术。
衬垫及其管理方法系统以及程序

[发明专利]衬垫的管理方法、系统以及程序-CN202180048296.2在审
发明人：赤松淑子;户田清华;高桥聪美;寺崎正;坂田义太朗;菊永和也;江头正浩 -专利权人：株式会社华尔卡;国立研究开发法人产业技术综合研究所
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： F16J15/00 文献下载
摘要：包含如下工序：对被限制在凸缘(6‑1、6‑2)间的衬垫(8)施加由于紧固而产生的载荷；以及观测因所述载荷而在所述衬垫上产生的形状变化，根据所述形状变化来管理所述衬垫的紧固。所述形状变化包括所述衬垫的至少所述凸缘间的间隔方向的变化或者与间隔方向交叉的交叉方向的变化中的任一方或双方。由此，只要观测承受载荷的衬垫的形状变化，就能够管理衬垫的紧固。
衬垫管理方法系统以及程序

[发明专利]衬垫及其管理方法、系统以及程序-CN202180048466.7在审
发明人：赤松淑子;户田清华;高桥聪美;寺崎正;坂田义太朗;菊永和也;江头正浩 -专利权人：株式会社华尔卡;国立研究开发法人产业技术综合研究所
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： F16J15/10 文献下载
摘要：在与被限制在凸缘(16‑1、16‑2)之间的约束部(2‑1)相邻的非约束部(2‑2)具有内切口(4)，所述内切口的形状因施加于所述约束部的载荷而发生变化。并且，根据所述内切口的形状变化得到极小点信息。由此，能够直接观测在凸缘间承受载荷的衬垫的形状变化，从而能够在衬垫的紧固的管理中使用观测结果来提高衬垫及其管理技术。
衬垫及其管理方法系统以及程序

[发明专利]静电分布测量装置以及静电分布测量方法-CN201480041180.6在审
发明人： 菊永和也;野中一洋 -专利权人：独立行政法人产业技术综合研究所
申请日： 2014-03-13 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： G01R29/12 文献下载
摘要：本发明提供对测量对象物(200)的测量面上的静电分布进行测量的静电分布测量装置(1)，其具有：阵列天线(2)，其接收由振动在测量面上的多个区域(211)的每个区域内产生的电场；振动单元(3)，其使测量对象物(200)或阵列天线(2)振动；测量单元(4)，其对阵列天线(2)接收的多个区域(211)的每个区域内的电场的强度、频率以及相位的至少一个进行测量；计算单元(5)，其根据测量单元(4)的测量结果，对多个区域(211)的每个区域内的静电量进行计算；以及描绘单元(6)，其根据多个区域(211)的每个区域内的静电量，对测量面上的静电分布进行描绘，阵列天线(2)具有对应于多个区域(211)的每个区域的多个天线元件(21)。
静电分布测量装置以及测量方法

[发明专利]静电量计量装置、静电量计量方法-CN201280020502.X无效
发明人： 菊永和也;野中一洋 -专利权人：独立行政法人产业技术综合研究所
申请日： 2012-04-11 - 公布日： 2014-01-08 - 主分类号： G01R29/12 文献下载
摘要：本发明提供一种静电量计量装置以及静电量计量方法，其适合于处于难以进行计量的状况的制造现场，简便并且高精度地计量电子部件、机械部件等的静电量。本发明的静电量计量装置(1)具备：接收部(2)，其接收由于向计量对象物(10)施加的振动而产生的虚拟电磁波；测量部(3)，其测量由接收部(2)接收到的虚拟电磁波的强度、频率以及相位的至少一个；计算部(4)，其根据测量部(3)的测量结果，计算计量对象物(10)的静电量。
静电计量装置方法

[发明专利]静电带电测量方法和装置-CN201280003745.2无效
发明人： 菊永和也;野中一洋 -专利权人：独立行政法人产业技术综合研究所
申请日： 2012-01-25 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G01R29/24 文献下载
摘要：本发明提供一种静电带电测量方法和装置，其同时满足以下的三个条件，即(1)非破坏性地测量静电带电，(2)在金属、绝缘物混杂时减少测量对象受环境的影响来测量静电带电，(3)非接近地测量静电带电。本发明的静电带电测量方法具备：施加步骤，对测量对象物施加预先选定的振动频率、振幅的振动；强度测量步骤，测量伴随着测量对象物的振动而产生的电磁波的强度；状态测量步骤，根据在测量步骤中测量出的电磁波的强度来对测量对象物的静电带电状态进行测量。
静电带电测量方法装置