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[发明专利]一种基于线性渐变滤光片的成像光谱仪杂散光抑制方法-CN202310717510.X在审
发明人：王晓旭;顾国超;李博;范纪泽;林冠宇;李寒霜 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-16 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：一种基于线性渐变滤光片的成像光谱仪杂散光抑制方法，涉及成像光谱仪领域，包括：设计杂散光抑制线性渐变滤光膜的各项参数；杂散光抑制线性渐变滤光膜的主要参数有：镀膜尺寸、线性渐变率、通带带宽、带外截止度和峰值透过率，由此设计完成一种带通形式的且光谱透过波段随空间位置连续变化的杂散光抑制线性渐变滤光膜。将该杂散光抑制线性渐变滤光膜耦合于成像光谱仪器探测器表面，使其透过谱段与探测器像面的目标光谱波段对齐重合，即可实现滤除光谱杂散光的功能，起到大幅度滤除光谱杂光的作用，并且本发明对于成像光谱仪光谱杂散光水平预计可提高数倍至1个量级以上。
一种基于线性渐变滤光成像光谱仪散光抑制方法

[发明专利]一种Dyson棱镜光谱仪-CN202110878494.3在审
发明人：李博;范纪泽;李寒霜;顾国超;杨小虎 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本申请提供的Dyson棱镜光谱仪，入射光经狭缝(1)进入所述校像差透镜组(2)，经校像差透镜组(2)消除像差后的光束进入校色差棱镜组(3)，经校色差棱镜组(3)以提高色散线性程度的光束进入超环反射面(4)，经超环反射面(4)进行色散校正后的反射光入射至棱镜组(3)再经所述透镜组(2)后进入折转反射镜(6)，并经折转反射镜(6)折转光路被所述探测器靶面(5)接收，本申请提供的Dyson棱镜光谱仪，通过引用不同色散特性材料的棱镜组成棱镜组(3)，对棱镜光谱仪的色散非线性进行改进，同时利用透镜组(2)进行整体像差校正，利用超环反射面(4)校正像散，使得棱镜色散的非线性得到改善，并且有着良好的像质。
一种 dyson 棱镜光谱仪

[发明专利]一种高光谱分辨率的offner成像光谱仪-CN202110729171.8在审
发明人：李博;范纪泽;林冠宇;顾国超;李寒霜 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明提供的一种高光谱分辨率的offner成像光谱仪，采用折转反射镜使得空间分布合理，可以合理分布探测器、狭缝以及邻近的透镜；衍射光栅部分因为其刻线密度较大而拥有了更高的分辨率，达到高精度观测的目标；探测器即像面与狭缝位于光栅同一侧，意味着光谱仪内光路较为对称，使得自身像差得以一定的校正，最终使整体的MTF接近衍射极限；本发明高光谱分辨率的offner光谱仪光谱分辨率为0.05nm，远优于一般offner光谱仪1nm的光谱分辨率；若需要继续加大分辨能力只需调整衍射光栅参数以及狭缝和探测器位置即可。
一种光谱分辨率 offner 成像光谱仪