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[发明专利]交换机自动配置管理方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210266963.0有效
发明人： 范凯航;刘子龙 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： H04L41/0806 文献下载
摘要：本发明提供了一种交换机自动配置管理方法、装置、电子设备及计算机存储介质，具体方案如下：检测到新加入交换机时，将所述新加入交换机分配到多个网段中的目标网段；根据所述目标网段对应的版本文件夹和所述新加入交换机的新加入配置文件生成版本待配置文件；根据所述目标网段中的所有交换机的工作任务和所述版本待配置文件确定待配置交换机的配置任务。该方法通过将多个交换机划分到对应的不同网段，并通过生成版本待配置文件以及确定待配置交换机的工作待配置文件，实现了自动确定待配置交换机的配置任务，简化了对多个交换机同时进行配置的工作流程，无需用户对每个交换机进行单独配置，减轻了用户和后台的工作压力。
交换机自动配置管理方法装置电子设备存储介质

[发明专利]流量分析设备及方法-CN202310485250.8在审
发明人： 范凯航;陈翔;李友 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： H04L43/062 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种流量分析设备及方法，其中，该设备包括：异构的第一硬件模块、第二硬件模块和第三硬件模块；第一硬件模块配置构建测试报文的第一规则和发送测试报文的第二规则，将第一规则发送至第二硬件模块，第二规则发送至第三硬件模块；第二硬件模块依据第一规则构建测试报文，将测试报文发送至第三硬件模块；第三硬件模块依据第二规则将测试报文发送至待测设备，接收待测设备反馈的测量结果报文，将测量结果报文发送至第二硬件模块；第二硬件模块解析测量结果报文得到流量分析结果，将流量分析结果反馈至第一硬件模块。通过本申请，解决了相关技术中因现有的流量分析测试仪器数量不足阻碍测试项目进展的技术问题。
流量分析设备方法

[发明专利]一种硬件连接测试方法、装置、设备和可读存储介质-CN202211362097.1在审
发明人： 范凯航;陈翔;李友 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G06F11/263 文献下载
摘要：本发明公开一种硬件连接测试方法、装置、设备和可读存储介质，涉及硬件测试技术领域。方法包括：将物理层芯片与待测硬件和测试终端机连接，并对物理层芯片进行初始化配置；使用测试终端机向物理层芯片发送测试指令，并获取所述待测硬件响应于测试指令的第一结果和第二结果；将第一结果和第二结果与测试参数集进行对比，判断第一结果的参数或第二结果的参数是否正常；若是，则执行端口环回测试，并获取端口环回测试的结果；分析端口环回测试的结果，获取连接测试的结果。以达到无需其他平台支撑，无需反复烧录，降低被测芯片的调试成本的效果，并且测试方法简洁、直观，降低SI工程师的学习成本和出错概率，极大地丰富了硬件测试的手段。
一种硬件连接测试方法装置设备可读存储介质

[发明专利]交换机物理层芯片的测试方法、装置及电子设备-CN202211448725.8在审
发明人： 范凯航;陈翔;李友 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： H04L43/0876 文献下载
摘要：本发明提供一种交换机物理层芯片的测试方法、装置及电子设备，所述方法包括：通过管理数据时钟MDC接口和管理数据输入输出MDIO接口，配置物理层PHY芯片的各PHY端口为环回状态；通过对各PHY端口进行线速流量测试，获取各PHY端口的端口测试结果，端口测试结果用于指示PHY端口是否通过测试。本发明通过MDC接口和MDIO接口，可以配置PHY芯片的各PHY端口为环回状态，进而可以对各PHY端口进行线速流量测试，测试过程中向PHY芯片的各PHY端口发送的测试用例数据，通过PHY芯片环回可以分析各PHY端口的环回数据，能够获取各PHY端口的端口测试结果，测试过程无需采用外部治具，能够提高测试效率。
交换机物理层芯片测试方法装置电子设备

[发明专利]非接触式光学计米方法及装置-CN202010568750.4有效
发明人：马浩洋;许根发;范凯航 -专利权人：常州工图视觉科技有限公司
申请日： 2020-06-20 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01B11/04 文献下载
摘要：本发明属于电子、计算机技术领域，具体涉及一种非接触式光学计米方法及装置，其中非接触式光学计米方法，包括：照射被测物体表面，通过显微成像方式连续获取被测物体表面的图像细节；计算相邻两张图像之间的位移；根据相邻两张图像之间的位移，获取被测物体在标准单位下的长度；以及获取被测物体实时速度，与被测物体无接触，不受压力、摩擦力影响，测量精度高；无须对光滑程度不同的被测物体反复校准，使用简单；没有机械损耗，寿命长；可以长期保持高精度。
接触光学方法装置