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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]耳机的充电放电方法及系统-CN202310667987.1在审
发明人： 罗岐元;王丽 -专利权人：深圳市豪恩声学股份有限公司
申请日： 2023-06-06 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H04R1/10 文献下载
摘要：本申请提供一种耳机的充电放电方法及系统。上述的耳机的充电放电方法，其包括测试电脑和测试耳机，测试电脑和测试耳机电连接，该方法包括：测试电脑获取测试耳机的初始电压信息；测试电脑将初始电压信息和预设电压进行对比，确定充放电信息，并将充放电信息发送给测试耳机，其中，充放电信息涉及测试耳机的充电需求或测试耳机的放电需求；测试耳机接收充放电信息，并根据充放电信息播放预设音频或进入充电状态。在测试耳机的充电和放电过程中，无需借助充放电老化柜，减少了充放电老化柜的购买支出，降低了成本，也避免充放电老化柜占用较大的场地。
耳机充电放电方法系统

[发明专利]一种射频测试方法、装置、测试终端和存储介质-CN202110248970.3在审
发明人： 罗岐元;冷明星;王丽 -专利权人：深圳市豪恩声学股份有限公司
申请日： 2021-03-08 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： H04W24/08 文献下载
摘要：本申请适用于计算机领域，提供了一种射频测试方法、装置、测试终端和存储介质。其中，该射频测试方法包括：向待测终端发送测试指令，所述测试指令用于指示所述待测终端根据测试频点发送射频信号；获取根据所述射频信号生成的目标功率频谱图，得到所述射频信号的最大输出功率；将所述射频信号的最大输出功率与第一功率阈值进行比对，得到所述待测终端在所述测试频点的射频测试结果。本申请的实施例提供的方法能够实现对产品Wifi射频能力的测试。
一种射频测试方法装置终端存储介质

[发明专利]一种入耳式耳机佩戴检测装置和方法-CN201911424196.6有效
发明人： 罗岐元;冷明星;温志锋;王丽 -专利权人：深圳市豪恩声学股份有限公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种入耳式耳机佩戴检测装置和方法，该入耳式耳机佩戴检测装置用于入耳式耳机的佩戴性能检测，包括检测器、检测治具以及控制器；检测器具有检测台；检测治具，安装在检测台上，检测治具整体由导电的POM材料制成，且检测治具上设有供入耳式耳机适配卡入的检测槽，检测槽的内壁面与入耳式耳机的外壳贴合；控制器内置于检测器的内部，并与检测治具以及入耳式耳机电连接。该入耳式耳机佩戴检测方法首先分别测试入耳式耳机未放入检测治时的第一测试值，和放入检测治具后测试的第二测试值，然后计算两者差值并判定是否在预设合格范围内。本发明的技术方案可提高测试结果的稳定性和测试效率。
一种入耳耳机佩戴检测装置方法

[实用新型]耳机声学检测装置-CN202122457538.3有效
发明人： 罗岐元;冷明星;王丽 -专利权人：深圳市豪恩声学股份有限公司
申请日： 2021-10-12 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： H04R1/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种耳机声学检测装置，包括：支架，所述支架用于放置待检测的耳机；至少一夹紧组件，所述夹紧组件包括有固定座、压紧件和弹性体，所述固定座设置在所述支架上，所述压紧件可滑动设置且能够靠近或远离所述固定座，所述弹性体连接所述压紧件，且所述弹性体可通过自身的复位弹力带动所述压紧件向靠近所述固定座的方向移动，以使所述压紧件能够将待检测耳机夹紧于所述固定座上；能够快速地将待检测耳机夹紧在固定座上，提高耳机测试过程的效率，满足生产效益。
耳机声学检测装置

[发明专利]接口测试系统-CN202011359098.1在审
发明人： 罗岐元;冷明星;王丽 -专利权人：深圳市豪恩声学股份有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种接口测试系统，属于电子技术领域。所述系统用于对目标Type‑C接口进行测试，所述目标Type‑C接口中的电路板具有第一面和第二面，所述第一面和所述第二面具有相同的引脚，所述系统包括：测试设备和转接板；所述转接板连接于所述测试设备与所述目标Type‑C接口之间，用于将所述测试设备在所述第一面与所述第二面之间切换连接。本申请在测试过程中，只需将目标Type‑C接口连接至转接板一次，就可以通过控制转接板完成对目标Type‑C接口中的电路板的第一面和第二面的通信测试。由于不需要重复插拔目标Type‑C接口，所以不仅减少了目标Type‑C接口的损耗，降低了生产成本，而且减少了测试时长，提高了测试效率。
接口测试系统

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