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[发明专利]自动分析装置和自动分析装置的控制方法-CN201880075912.1有效
发明人：信木俊一郎;滨崎孝伸;坂诘卓;山下善宽;田上英嗣;高仓树 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-11-19 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：在使用了光电倍增管的自动分析装置中，不利用高电压值的调整就能够控制光电倍增管的灵敏度。本发明的自动分析装置的特征在于，具备：光电倍增管，其检测来自反应容器的光；判定部，其判定向上述光电倍增管照射了第一光的情况下的上述光电倍增管的输出信号；控制部，其根据上述判定部的判定结果，向上述光电倍增管照射第二光而使上述光电倍增管的灵敏度下降。
自动分析装置控制方法

[发明专利]自动分析装置和光测量方法-CN201980051219.5有效
发明人：铃木康祐;大西富士夫;田上英嗣 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明提供一种高精度地校正光电元件的倍增因子的变动的自动分析装置和光测量方法。自动分析装置包括:光电元件，该光电元件用于通过光来产生电子并输出电流信号；电压施加部，该电压施加部用于向光电元件施加电压；以及处理部，该处理部用于校正光电元件的倍增因子的变动，光电元件输出脉冲状信号作为电流信号，并且处理部基于脉冲状信号的脉冲面积来校正倍增因子的变动。
自动分析装置测量方法

[发明专利]自动分析装置以及自动分析装置中的试剂的保管方法-CN202180084135.9在审
发明人：梅木博也;安居晃启;田上英嗣 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明具备保管容纳有试剂的试剂包(201、301)的试剂保管库(105)，试剂保管库(105)具有：第一保持部(403)，其能够仅保持容纳有试剂中的第一试剂的免疫试剂包(201)；第二保持部(404)，其能够仅保持容纳有种类与第一试剂不同的第二试剂的生化试剂包(301)；以及第三保持部(405)，其能够保持免疫试剂包(201)以及生化试剂包(301)的双方。由此，提供一种与试剂包的设置相关的制约比现有装置小的自动分析装置以及自动分析装置中的试剂的保管方法。
自动分析装置以及中的试剂保管方法

[发明专利]自动分析装置-CN202180050271.6在审
发明人：畠山幸二;山本谕;田上英嗣;中野弘基 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-02-12 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：本发明提供能够确认由检体分注部吸取的检体的量的自动分析装置。一种对检体进行分析的自动分析装置，其特征在于，具备：培养箱，其保持容纳有所述检体与试剂的混合液的反应容器；检体分注部，其从容纳有所述检体的检体容器吸取所述检体，在将所吸取的所述检体贮存于贮存部之后，向所述反应容器排出，从而分注所述检体；以及测量部，其基于一边向所述贮存部照射光一边对透过所述贮存部的光进行检测而得到的检测信号，对所述贮存部中的检体量进行测量。
自动分析装置

[发明专利]计算机、识别器的学习方法以及分析系统-CN202180008949.4在审
发明人：柿下容弓;服部英春;铃木洋一郎;田上英嗣 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-01-18 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明的计算机具备：存储部，其存储学习数据；学习部，其执行用于使用学习数据来生成识别器的学习处理；以及生成部，其生成学习数据，生成部使用存储于存储部的学习数据来计算出识别器处理的特征量向量，并基于特征量向量来分析特征量空间中的学习数据的分布，由此确定特征量空间中的识别器的识别结果变化的边界，使用存在于边界附近的学习数据来生成新学习数据。
计算机识别学习方法以及分析系统

[发明专利]自动分析装置-CN201780017723.4有效
发明人： 田上英嗣;铃木洋一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2017-01-24 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：自动分析装置(100)在第一试剂探针(204)与清洗液(208)接触的时刻和第二试剂探针(214)与清洗液(218)接触的时刻为同时的情况下准备，包括电荷储存部(240)，该电荷储存部(240)被设于由与清洗液(208、218)电导通的导电性材料构成的提供口和装置壳体(243)之间，具有第一试剂探针(204)、第二试剂探针(214)的静电容量以上的静电容量。由此，能防止多个探针之间的液面接触判定部彼此的干扰。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN202080030329.6在审
发明人：高田英一郎;山下善宽;田上英嗣;深谷昌史;根桥文耶 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-02-05 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供一种自动分析装置，其能够通过紧凑的机构来实现不同的分析过程的测定。在能够实施多个不同的分析过程的检查的自动分析装置中，具有：保温箱(1)，其将多个反应容器(2)保持在圆周状的工位上；以及第一分注机构(8)和第二分注机构(9)，它们具有能够进行以旋转轴为中心的圆弧运动和上下运动的分注喷嘴，相对于保温箱(1)上的配置反应容器(2)的圆周，第一分注机构(8)的分注喷嘴的圆弧运动的第一轨迹和第二分注机构(9)的分注喷嘴的圆弧运动的第二轨迹分别在两个工位交叉，并且第一轨迹和第二轨迹不交叉，第一分注机构(8)用于具备第一反应时间的第一检查中的分注动作，第二分注机构(9)用于具备比第一反应时间长的第二反应时间的第二检查中的分注动作。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN201980004701.3在审
发明人：中野弘基;田上英嗣;铃木洋一郎;大草武德 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-01-29 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供一种准确地检测试剂的液量而与试剂容器的形状无关的自动分析装置。其包括：收纳试剂的试剂容器；设置于试剂容器的外部并且射出光以使得该光通过该试剂容器的内部的射出部；设置于试剂容器的外部并接受来自射出部的光的受光部；以及基于受光部所接受到的光来检测试剂容器的内部的液面高度并根据该液面高度判断试剂容器的液量是否在规定值以下的判断部，基于试剂容器的材料以及试剂的种类来决定光的波长。
自动分析装置

[发明专利]光量检测装置、利用其的免疫分析装置及电荷粒子束装置-CN201680018266.6有效
发明人：笠井优;大西富士夫;田崎修;田上英嗣;田中一启 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2016-03-16 - 公布日： 2018-09-07 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：一种光量检测装置，对由光电倍增管(2)检测、由前置放大器(5)放大、且转换成数字信号的检测信号进行基准补偿处理即将低于预定的基准阈值的信号成分的时间平均值计算为基准电压，并补偿检测信号以使基准电压成为0，对已进行基准补偿处理的信号进行阈值处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分、和光未入射至光电倍增管(2)的状态下的基准补偿处理，对其输出信号进行暗电流计算处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分，并使由阈值处理得到的检测光的信号成分减去由暗电流计算处理得到的暗电流的信号成分的时间平均值来计算发光信号量。由此，通过辨别暗电流脉冲和本底噪声，可以提高基准电压的精度，可以提高光的检测精度。
检测装置利用免疫分析电荷粒子束

[发明专利]自动分析装置-CN201280027708.5有效
发明人： 田上英嗣;田中一启 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-06-04 - 公布日： 2014-02-19 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：本发明实现了一种使用多个探针来进行静电电容检测式的液面检测的自动分析装置，其中，能够减少基于由发射器的频率差导致的干扰的液面误检测的发生，并能够高精度且迅速地进行分注。检测器振荡器（307）、（201）的频率f1、f2本来是同一频率，但是由于制造偏差导致存在数Hz左右的差，这时，振荡波形施加在液面检测电压上，在正确的液接触时刻以前的错误的时刻判定为进行了液接触。在本发明中，故意使检测器振荡器（307）、（201）的频率f1、f2存在数kHz的差。这种情况下，除了由液面接触导致的净静电电容变化以外，将对应于频率f1、f2的频率差的振荡波形施加在检测电压上，但是能够通过高频率衰减部（208）使高频率成分的振幅值衰减，能够抑制在同时使用多个探针时的液面检测精度低下。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN201180020898.3有效
发明人： 田上英嗣 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-04-25 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01N21/76 文献下载
摘要：自动分析装置对于微量的反应液也能够实现稳定且高S/N的检测。经由光学窗（102）用光电倍增器（111）检测来自于包含发光物质（114）的反应液（109）的光。在处理其输出并分析包含于所述反应液（109）中的发光物质（114）的量的情况下，在光学窗（102）和光电倍增器（111）之间设置光传输光学系统（110），该光传输光学系统包括与所述光学窗面对的入射口、与所述检测器的受光面面对的射出口、以及使从所述入射口入射的光反射并向所述射出口传播的反射面。由此，通过抑制来自于发光物质（114）的光量的降低，并减少来自于流动池（101）的由温度引起的干扰的影响，实现高S/N的分析。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN200980104361.8无效
发明人：佐佐木孝浩;有贺洋一;田上英嗣 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2009-05-01 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种自动分析装置，即使在同时测定浓度水平不同的多个项目时，也可以对各个项目实施精度良好的分析。使用通过照射而激发的物质作为附着在测定对象上的标识，使其具有可变动照射强度的功能，对每个分析项目或分析容器(1)调整照射强度，以控制项目标识发出的发光量。另外，使其具有在照射中能够控制分析容器(1)的位置或角度中的至少任一种的功能，对每个分析项目调整照射光源和分析容器(1)的距离或角度中的至少任一种，以控制对测定对象的照射量。另外，使其具有可变动测光机构(2)的积分时间的功能，以对每个分析项目或分析容器(1)控制积分时间。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN200810131581.7无效
发明人： 田上英嗣;铃木洋一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2008-07-17 - 公布日： 2009-01-21 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明涉及自动分析装置。现有的分析装置中，其进行搅拌动作和分注动作的机构是独立的，在各个动作之间存在至少数秒时间间隔。因此，从搅拌动作结束的时刻起便开始固体粒子的沉降，在分注时液体抽吸动作使沉降过程呈现过渡现象，在该沉降过程的过渡期内抽吸含有固体粒子的液体成为在已分注的液体中所含有的固体粒子的数量不均的主要原因。本发明的自动分析装置通过同时实现含有固体粒子的液体试剂的搅拌动作和试剂的保持动作的机构解决了上述问题。
自动分析装置

[发明专利]发光测定装置-CN200810009897.9无效
发明人： 田上英嗣;石泽雅人;铃木洋一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2008-02-27 - 公布日： 2008-09-03 - 主分类号： G01N21/76 文献下载
摘要：本发明提供一种发光测定装置，能够获得更多的直接光，尽可能地减少直接光因与存放发光体的容器、或用于聚光的构造物及其它检测系统部件的支撑构造物作用而引起的光量衰减，可检测来自样品的微弱发光。在使遮蔽向检测器的光的构造体外滑的同时，使存放发光体的容器内滑而移动到检测器的正下方，通过使发光体和检测器最接近，从而增加直接光，减少在检测系统部件的支撑构造物中的反射。
发光测定装置

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