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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]基于频率引导一维S变换的三维面形垂直测量方法及系统-CN202310228444.X在审
发明人：钟敏;胡峥岩;甘耀玮 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供了基于频率引导一维S变换的三维面形垂直测量方法，包括如下步骤：S1.获取任意标定面，且已知其相对参考面的高度值；S2.基于频率引导一维S变换法，确定所述标定面不同投影焦距位置处的调制度分布；S3.在所述标定面光场上的任意一行位置处，基于频率引导一维S变换法，计算其调制度分布曲线，确定最大调制度值‑高度的映射关系；S4.基于所述最大调制度值‑高度的映射关系，确定被测物体三维面形每个像素点深度信息。本发明具有良好的时频分析特性，可以更好地提取物体高频细节信息，具有比标准一维S变换更好的降噪能力，能够更精确地提取调制度分布，获得更高的重建精度。
基于频率引导变换三维垂直测量方法系统

[发明专利]基于频率引导二维S变换的三维面形垂直测量方法及系统-CN202310228441.6在审
发明人：钟敏;甘耀玮;戴湘麟;陈小龙;黄锴志 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供了基于频率引导二维S变换的三维面形垂直测量方法，包括如下步骤：S1.获取任意标定面，且已知其相对参考面的高度值；S2.基于频率引导二维S变换法，确定所述标定面不同投影焦距位置处的调制度分布；S3.在所述标定面光场上的任意像素位置处，基于频率引导二维S变换法，计算其调制度分布曲线，确定最大调制度值‑高度的映射关系；S4.基于所述最大调制度值‑高度的映射关系，确定被测物体三维面形每个像素点深度信息。本发明可以更好地提取物体高频细节信息，具有比标准二维S变换更好的降噪能力，能够更精确地提取调制度分布，获得更高的重建精度。
基于频率引导二维变换三维垂直测量方法系统

[发明专利]一种基于广义一维S变换的调制度测量轮廓方法及系统-CN202310228439.9在审
发明人：钟敏;戴湘麟;甘耀玮 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于广义一维S变换的调制度测量轮廓方法，包括如下步骤：S1.获取任意标定面，且已知其相对参考面的高度值；S2.基于广义一维S变换法，确定所述标定面不同投影焦距位置处的调制度分布；S3.在所述标定面光场上的任意一行位置处，基于广义一维S变换法，计算其调制度分布曲线，确定最大调制度值‑高度的映射关系；S4.基于所述最大调制度值‑高度的映射关系，确定被测物体三维面形每个像素点的深度信息。本发明克服了基于传统的标准一维S变换调制度测量轮廓术能量不够集中和细节信息提取不够准确的缺陷。
一种基于广义变换调制测量轮廓方法系统

[发明专利]基于广义二维S变换的三维面形垂直测量方法及系统-CN202310228431.2在审
发明人：钟敏;戴湘麟;甘耀玮;黄锴志;陈小龙 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供了基于广义二维S变换的三维面形垂直测量方法，包括如下步骤：S1.获取任意标定面，且已知其相对参考面的高度值；S2.基于广义二维S变换法，确定所述标定面不同投影焦距位置处的调制度分布；S3.在所述标定面光场上的任意像素位置处，基于广义二维S变换法，计算其调制度分布曲线，确定最大调制度值‑高度的映射关系；S4.基于所述最大调制度值‑高度的映射关系，确定被测物体三维面形每个像素点的深度信息。本发明克服了基于传统的标准二维S变换调制度测量轮廓术能量不够集中和细节信息提取不够准确的缺陷。
基于广义二维变换三维垂直测量方法系统

[发明专利]基于相移与焦移三维面形垂直测量方法、装置、介质-CN202111409461.0在审
发明人：钟敏;陆泳屹;赵旭;王嘉卉;甘耀玮;戴湘麟;黄锴志 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-01-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相移与焦移三维面形垂直测量方法、装置、介质，投影仪进行变焦扫描被测物体深度信息时，利用三步相移中的三帧条纹图连续依次循环投影到被测物体表面，相机同步采集对应的条纹图。在计算在投影仪每一焦距值的调制度分布时，利用到该焦距前后相邻焦距值的条纹图进行近似计算该焦距处的调制度值分布，从而重建被测物体的三维形貌。该技术既减少了条纹图的投影和采集量，同时还能避免被测物体细节丢失的现象，可获取与相移法相同的精度。本发明能为微观三维面形轮廓术领域的发展提供新思路，具有重要的意义和广阔的应用前景。
基于相移三维垂直测量方法装置介质

[发明专利]基于旋转光栅投影三维面形垂直测量方法、装置、介质-CN202111409264.9在审
发明人：钟敏;王嘉卉;赵旭;陆泳屹;甘耀玮;戴湘麟;黄锴志 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于旋转光栅投影三维面形垂直测量方法、装置、介质，投影仪进行变焦扫描被测物体深度信息时，连续循环投影六幅旋转夹角30°的光栅图到被测物体表面，相机同步采集物体表面上的光场分布，将每六幅条纹为一组，且依次两帧相减再求和进行数据保存。在计算条纹图调制度信息时，直接对单帧条纹图利用傅里叶变换操作，选取旋转滤波器分别滤取六个方向角的基频分量，再进行逆傅里叶变换和取模计算获得六幅调制度分布，进而重建被测物体的三维形貌。本发明不仅减少了条纹的存储量和计算量，同时还可避免单帧条纹图中零频对基频的影响，获得更高的重建精度。
基于旋转光栅投影三维垂直测量方法装置介质

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