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- [发明专利]D触发器及鉴频鉴相器电路-CN201811385705.4有效
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阳怡伟;陈春平
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珠海市杰理科技股份有限公司
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2018-11-20
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2023-05-05
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H03L7/091
- 本发明涉及一种D触发器及鉴频鉴相器电路。其中,D触发器通过输入电路、预充电路和输出电路构成真单一时钟逻辑结构动态D触发器,实现D触发器的基本功能。同时,通过第一锁存电路,稳定D触发器在工作频率较低时预充电路输出端的电位,以拓展D触发器的工作频率范围。同时,鉴频鉴相器通过采用宽工作频率范围的第一D触发器和第二D触发器,拓展鉴频鉴相器的工作频率范围。同时,在引入控制信号后,通过第一控制模块和第二控制模块,使参考时钟信号和反馈时钟信号的相位差在π至2π时,复位反馈电路不会产生输出至第一D触发器和第二D触发器的复位信号,以消除鉴相盲区。基于此,提供一种宽工作频率、无鉴相盲区且锁定速度快的鉴频鉴相器。
- 触发器鉴频鉴相器电路
- [发明专利]蓝牙测试方法及测试机-CN201910952776.6有效
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姚志彬;王昌继;蔡秉铨
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珠海市杰理科技股份有限公司
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2019-10-09
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2023-05-02
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H04W4/80
- 本发明提供蓝牙测试方法及测试机,蓝牙测试机的蓝牙测试方法包括S101:蓝牙测试机启用带外通信与待测蓝牙设备建立连接;S102:蓝牙测试机采用带外通信向待测蓝牙设备发送蓝牙测试机的蓝牙地址、本机时钟以及约定询问时刻T;S103:蓝牙测试机根据蓝牙测试机的蓝牙地址、本机时钟配置当下跳频序列;S104:蓝牙测试机采用跳频序列中与约定询问时刻T对应的频点与待测蓝牙设备进行首包通信;S105:蓝牙测试机在首包通信成功后与待测蓝牙设备建立蓝牙连接;S106:所述蓝牙测试机与所述待测蓝牙设备建立HOST层链路,传输用于功能测试的数据。本发明采用带外通信交互跳频信息与首包时刻,提高了建立蓝牙连接的效率,进而提高了批量测试的效率。
- 蓝牙测试方法
- [发明专利]主动降噪方法、装置、电路、设备和系统-CN202111247742.0在审
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方泽凯;朱嘉俊
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珠海市杰理科技股份有限公司
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2021-10-26
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2023-04-28
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H04R3/00
- 本发明公开了一种抗低频饱和的降噪方法、装置、电路、设备和系统,其中,所述方法包括:步骤S100,获取噪声麦克风采集的环境音频信号;步骤S200,将环境音频信号分别输入至直流估计模块和低频幅度估计模块,以使直流估计模块对环境音频信号进行直流估计得到直流信号、低频幅度估计模块对环境音频信号进行低频幅度估计得到低频幅度估计信号;步骤S300,依据信号差值大小确定低频信号,信号差值为低频幅度估计信号与直流信号的差值大小;步骤S400,根据调整后的低频信号生成降噪信号;步骤S500,基于降噪信号对环境降噪。可以动态确定低频,从而使得直流估计与低频动态结合在一起,可以做到控制动态保证通路不饱和的同时,保持降噪量基本不变。
- 主动方法装置电路设备系统
- [发明专利]AB类运算放大器、电路、芯片及电子设备-CN202211120889.8在审
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徐辉
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珠海市杰理科技股份有限公司
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2022-09-15
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2023-04-07
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H03F1/56
- 一种AB类运算放大器、电路、芯片及电子设备,该AB类运算放大器的差分输入模块用于接收并放大差分电压输入信号,以得到第一差分电流信号;共源共栅放大模块接收并放大第一差分电流信号,以得到第二差分电压信号;共源放大模块接收并放大第二差分电压信号,以得到第三差分电压信号;输出模块接收第三差分电压信号,并将第三差分电压信号转换为第四差分电压信号后向外部电路输出。其中,共源放大模块的共源放大子模块的信号输入端接收第二差分电压信号,正向电压变化端与负向电压变化端的电压大小交替变化,从而得到并向输出模块输出第三差分电压信号。本实施例公开的AB类运放能够在有效提升运放增益的同时,保证了运放的节能性。
- ab运算放大器电路芯片电子设备
- [发明专利]芯片烧写装置及芯片烧写测试方法-CN201910769290.9有效
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林耀聪;陈琛;张波
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珠海市杰理科技股份有限公司
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2019-08-20
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2023-04-07
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G06F8/61
- 本申请涉及一种芯片烧写装置及芯片烧写测试方法。所述芯片烧写装置包括:连接单元,用于接入配置有目标芯片的整机;主控单元,通过连接单元电连接至整机,还用于电连接上位机,获取上位机发送的烧写程序,并将烧写程序烧写至目标芯片;电流测试单元,电连接主控单元及整机,用于根据主控单元的控制,对配置目标芯片的整机进行电流测试。采用本方法能够通过连接单元为主控单元及电流测试单元接入配置有目标芯片的整机,主控单元将上位机发送的烧写程序烧写至目标芯片,烧写完成后直接对配置了该目标芯片的整机进行电流测试,能够直接筛选出异常的整机,无需在烧写完成后再安装芯片,避免了在拆装过程中对芯片造成损坏。
- 芯片装置测试方法
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