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[发明专利]自动分析装置-CN201880042375.0有效
发明人： 熊谷孝宏;大草武德 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供能够适当地分类丢弃消耗品的自动分析装置。因此，自动分析装置具有由共通的机构搬运多个种类的消耗品的共通搬运机构(114)、与其分开地设置的多个搬运路径、以及判定由共通搬运机构(114)搬运中的消耗品的类别的类别判定部(122)。该自动分析装置根据类别判定部(122)的判定结果选择多个搬运路径中的某一个，并控制为在该选择的搬运路径搬运来自共通搬运机构(114)的消耗品。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN202180043945.X在审
发明人： 熊谷孝宏;铃木洋一郎;佐川彰太郎;宫川拓士 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：具备进行检体的分析的分析模块(20)和向分析模块(20)供给液体的供给系统，供给系统具有：缓冲罐(3)，其暂时贮存从装置外部的纯水制造装置(50)供给的纯水；供给流路(7)，其向分析模块(20)输送缓冲罐(3)内的纯水；循环水泵(4)，其输送缓冲罐(3)内的纯水；循环流路(8)，其使从循环水泵(4)排出的纯水返回到缓冲罐(3)；杀菌机构(5)，其进行供给系统内的纯水的杀菌；以及控制部(30)，其控制供给系统内的各设备的动作。由此，提供一种自动分析装置，通过与以往相比抑制菌类在缓冲罐中的繁殖，从而与以往相比减少清扫的频率，能够减少操作员的维护作业时间。
自动分析装置

[发明专利]电解质分析装置-CN202180045584.2在审
发明人：宫川拓士;渡边凉太;岩濑友一;熊谷孝宏;三宅雅文 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：具备：具有测定样本的电解质的浓度的ISE电极1的多个分析槽(50)；和控制包含分析槽(50)的电解质分析装置(100)内的动作的控制装置(29)，多个分析槽(50)的ISE电极(1)分析相同分析项目，控制装置(29)对应于多个ISE电极(1)各自的剩余能测定数和测定委托状况来从多个分析槽(50)中选择测定中使用的分析槽(50)。由此提供与过去相比能在发挥分析处理能力的同时合适地进行消耗品的更换的电解质分析装置。
电解质分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN202080025627.6有效
发明人： 熊谷孝宏;野田和广;福田将也 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-02-04 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： F25D23/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供保持保管试剂容器的试剂保冷箱中清洁的自动分析装置。该自动分析装置分析样品，其特征在于，具备：试剂保冷箱，其以预定的温度保管容纳与上述样品反应的试剂的试剂容器；试剂容器更换部，其具有用于使上述试剂容器出入上述试剂保冷箱的开口，上述开口被开闭而更换上述试剂容器；以及正压部，其在上述开口打开时，将上述试剂保冷箱中相对于上述试剂保冷箱的周围正压化。
自动分析装置

[发明专利]电解质分析装置-CN202080093006.1在审
发明人： 熊谷孝宏;宫川拓士;岩濑友一;山本遇哲;川原铁士 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-12-03 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01N27/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种电解质分析装置(100)，其基于由离子选择电极(1)测定预先决定的离子浓度的试剂后的结果以及由离子选择电极测定样本后的结果，来测定样本中的特定离子的浓度，该电解质分析装置具备利用纯水将浓度比预先决定的离子浓度高的浓缩内部标准液进行稀释还原而生成预先决定的离子浓度的试剂的试剂部(103)以及机构部(104)，试剂生成部以使由稀释还原而得到的试剂与纯水的温度差的绝对值比由稀释还原而得到的试剂与试剂原液的温度差的绝对值小的方式生成试剂。由此，能够用更简便的结构来控制试剂的温度。
电解质分析装置

[发明专利]电解质分析装置-CN202080090800.0在审
发明人：岩濑友一;宫川拓士;熊谷孝宏;山本遇哲;川原铁士 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-12-03 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：具备：第一流路，从容纳高浓度试剂的高浓度试剂瓶输送高浓度试剂；第二流路，从容纳用于稀释高浓度试剂的试剂稀释液的试剂稀释液瓶输送试剂稀释液；合流部，使第一流路与第二流路合流；第三流路，从合流部输送作为高浓度试剂与试剂稀释液的混合液的调制试剂；稀释槽，容纳调制试剂；调制试剂喷出管嘴，用于将由第三流路输送的调制试剂向稀释槽喷出；输送机构，将高浓度试剂和试剂稀释液以预定的比率向合流部输送，以使经由第三流路从调制试剂喷出管嘴向稀释槽喷出的调制试剂成为预定的浓度；以及分析部，利用容纳于稀释槽的调制试剂进行分析。由此，能够以更简便的装置结构更高精度地稀释试剂来进行调制。
电解质分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN201780017240.4有效
发明人：野田和广;福垣达也;熊谷孝宏 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2017-01-30 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供自动分析装置及自动检体处理系统，其具有供给机构，在该供给机构中，将一次性部件搭载于部件架，从堆积有多个的部件架的状态起，仅使堆积的最上层的部件架与其它部件架分离，并向自动分析装置、或自动检体处理系统供给，该供给机构具备部件架分离机构，避免了由于受到因其中堆积的部件架的堆积状态以及部件架与分离机构的非对称性等所引起的位置偏移的影响而使部件架不可分离的问题，并能够稳定地供给部件架。具体而言，在自动分析装置及自动检体处理系统中，具有供给机构，该供给机构具备分离机构，该分离机构从堆积有多个的部件架的状态起，仅使堆积的最上层的部件架与其它部件架分离，特征在于，分离机构具备：可动机构，其具有能够使堆积的部件架的最上层与第二层之间分离的一对下降阻止构件；修正机构，其具有能够不受堆积的部件架的位置偏移影响地修正部件架的位置偏移的一对修正构件。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN201980054567.8在审
发明人： 熊谷孝宏;野田和广;坂下敬道 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-05-29 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：若从下方拍摄分注吸头，则附着于该吸头的液体向下落下，拍摄机构被污染。具备：缓冲器，其具有为了保持分注用的吸头而供该吸头贯通的孔；分注用的探针，其将吸头安装于前端；拍摄部，其对吸头进行拍摄；以及控制部，其进行以下控制，即通过贯通孔而将探针按压于保持在缓冲器的吸头，从而将吸头安装于探针，拍摄部配置为从重力方向上侧朝向下侧对吸头进行拍摄。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN201980037863.7在审
发明人：坂入进;大草武德;熊谷孝宏 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2019-03-20 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：由于安装不良、向废弃路径的分注嘴前端的残留物的附着、污染而分注嘴向废弃路径附着而不能够废弃，另外，落下的分注嘴竹笋状地重叠，从废弃箱中溢出。在检测体分注嘴的设置座的分注嘴安装位置(132)背面追加锪孔(201)，减少从设置座提升时的嘴侧面的接触量，实现分注嘴安装的稳定化。另外，在分注嘴的废弃位置上追加落下时的姿势控制部件，通过使嘴垂直地落下，抑制向废弃路径的检测体的附着。而且，分注嘴脱离时的分注探针上升时，上升至嘴的上端与底座接触的位置暂且停止之后，通过再次实施上升动作而使脱离时的嘴的姿势稳定。另外，设置多个使嘴脱离的位置，在每个废弃的时机变更位置。
自动分析装置

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