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[发明专利]分光分析装置-CN201880078509.4有效
发明人：村山广大;伊东笃志;渡边芙美枝 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2018-11-29 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N21/19 文献下载
摘要：本发明具有：光源，其将包含多个波长成分的光射出；偏振片，其将从光源射出的光变换为向样品照射的直线偏振光的光；偏振衍射元件，其使经过了样品的光所包含的第1偏振成分向第1方向衍射而进行波长分散，使第2偏振成分向与所述第1方向不同的第2方向衍射而进行波长分散；棱镜，其配置于偏振衍射元件的出射侧，具有与第1方向相交叉的第1出射面和与第2方向相交叉的第2出射面，第1出射面及第2出射面相对于包含第1方向及第2方向在内的基准面的角度彼此不同；拍摄元件，其对从棱镜的第1出射面射出的第1偏振成分的像和从第2出射面射出的第2偏振成分的像进行拍摄；以及处理装置，其基于拍摄元件的拍摄结果对样品进行分析。
分光分析装置

[发明专利]分光分析装置以及分光分析方法-CN202080078426.2在审
发明人：村山广大;猿谷敏之;渡边芙美枝;原理纱 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2020-10-20 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：在本公开所涉及的分光分析装置(1)中，控制部(40)基于分光光谱中的、仅产生表面等离激元的共振光谱的第一波段中的第一分光光谱的信息来获取样品(S)的折射率信息，基于获取到的折射率信息，在分光光谱中的、产生共振光谱以及样品(S)的吸收光谱的第二波段中的第二分光光谱中，决定共振光谱的峰值波长与吸收光谱的峰值波长相互一致的、由照射部(10)照射的照射光(L1)相对于膜(M)的入射角度，并从基于所决定的入射角度得到的第二分光光谱的信息来分析样品(S)的状态。
分光分析装置以及方法

[发明专利]光谱分析设备、光学系统及方法-CN202110987862.8在审
发明人：村山广大;猿谷敏之;渡边芙美枝;原理纱 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2021-08-26 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本公开提供了一种光谱分析设备，该光谱分析设备包括：膜，该膜与接受光谱分析的样品接触；第一照射器，该第一照射器照射具有跃迁能量的第一照射光，以分解附着于膜的边界表面上的附着材料；以及光波导，该光波导传输从第一照射器照射的第一照射光。在光波导的前表面上生成基于第一照射光的第一倏逝波，然后使该第一倏逝波投射在附着材料的附着区域上。
光谱分析设备光学系统方法

[发明专利]光谱分析装置以及用于光谱分析装置的操作方法和程序-CN202110352030.9在审
发明人：原理纱;猿谷敏之;村山广大;渡边芙美枝 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01N21/552 文献下载
摘要：本公开提供了一种光谱分析装置，其包括检测器和处理器。所述检测器检测通过用辐照光辐照包含物质的样品而获得的测量光，所述样品设置于在其上产生表面等离激元的膜上。所述测量光包括关于所述样品的光谱的信息，并且所述信息包括所述表面等离激元的共振光谱和所述样品的吸收光谱。所述处理器：计算出产生所述共振光谱和所述吸收光谱的波长带中的峰值波长；基于所包含的物质的吸收带计算出所包含的物质的峰值吸光度；并且基于所述峰值波长和所述峰值吸光度计算出所包含的物质与所述样品的比率。
光谱分析装置以及用于操作方法程序

[发明专利]光谱分析装置-CN201880072703.1在审
发明人：村山广大;杉野弘幸;渡边芙美枝;伊东笃志 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2018-10-24 - 公布日： 2020-08-14 - 主分类号： G01N21/552 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种光谱分析装置，该光谱分析装置能够更快速地进行液相的成分分析，并且该光谱分析装置更紧凑且更稳定。该光谱分析装置通过利用光照射样品而获得的反射光的反射吸收光谱来对样品进行成分分析，其中，光谱分析装置设置有：光源，其发射用于照射样品的光；棱镜，其被粘附到样品并且全反射从光源发射的光；偏振光分离元件，其将由棱镜全反射的光分离为彼此正交的第一偏振光分量和第二偏振光分量；波长色散元件，其对由偏振光分离元件分离的第一偏振光分量和第二偏振光分量的对应的波长分量进行色散；图像拍摄元件，其拍摄由波长色散元件色散的第一偏振光分量和第二偏振光分量的对应的图像；以及处理单元，其通过使用从图像拍摄元件输出的成像信号获得每个波长下的吸光度来对样品进行成分分析。
光谱分析装置