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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光子计数装置、光子计数方法和光子计数处理程序-CN202180095045.X在审
发明人： 樋口贵文;高桥辉雄;中岛真央;中本胜大 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：光子计数装置具备：多个像素，包括光电转换元件和将由光电转换元件转换的电荷放大并转换为电压的放大器；A/D转换器，将从多个像素的放大器输出的电压转换为数字值；第一导出部，基于数字值，导出多个像素中的各像素的光子数的暂定值；和第二导出部，根据基于光子数分布的第一概率和基于读出噪声的第二概率，导出对象像素中的光子数的确定值。
光子计数装置方法处理程序

[发明专利]光子计数装置和光子计数方法-CN202211226537.0在审
发明人：丸野正;户田英儿;中岛真央;高桥辉雄;樋口贵文 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-18 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G01J1/44 文献下载
摘要：光子计数装置包括：多个像素，其包含将输入的光转换为电荷的光电转换元件和将由光电转换元件转换后的电荷放大而转换为电压的放大器；A/D转换器，其将从多个像素各自的放大器输出的电压转换为数字值并输出；修正部，其以抑制多个像素间的增益和偏置值的偏差的影响的方式，修正从A/D转换器输出的数字值；运算部，其将与至少2个像素对应的修正后的数字值相加，输出相加值；和转换部，其将从运算部输出的相加值转换为光子数。
光子计数装置方法

[发明专利]光子计数装置和光子计数方法-CN201880074983.X有效
发明人：丸野正;户田英儿;中岛真央;高桥辉雄;樋口贵文 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-18 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： H04N5/365 文献下载
摘要：光子计数装置包括：多个像素，其包含将输入的光转换为电荷的光电转换元件和将由光电转换元件转换后的电荷放大而转换为电压的放大器；A/D转换器，其将从多个像素各自的放大器输出的电压转换为数字值并输出；修正部，其以抑制多个像素间的增益和偏置值的偏差的影响的方式，修正从A/D转换器输出的数字值；运算部，其将与至少2个像素对应的修正后的数字值相加，输出相加值；和转换部，其将从运算部输出的相加值转换为光子数。
光子计数装置方法

[发明专利]光子计数装置、光子计数方法和程序-CN202210639954.1在审
发明人：丸野正;户田英儿;中岛真央;高桥辉雄;樋口贵文 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-18 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： H04N5/378 文献下载
摘要：一种装置是将从图像传感器输出的数字值转换为光子数的装置，图像传感器包括：多个像素，其包括将输入的光转换为电荷的光电转换元件和将由光电转换元件转换后的电荷放大并转换为电压的放大器；以及A/D转换器，其将从多个像素的放大器输出的电压转换为数字值，该装置包括：转换部，其基于对应的用于区分光子数的参照数据来将数字值转换为光子数；和数据处理部，其基于由转换部转换后的光子数，生成表示多个像素中的各个的光子数的二维图像。
光子计数装置方法程序

[发明专利]光子计数装置和光子计数方法-CN202210640023.3在审
发明人：丸野正;户田英儿;中岛真央;高桥辉雄;樋口贵文 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-18 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： H04N5/378 文献下载
摘要：一种光子计数装置包括：多个像素，其是构成图像传感器的多个像素，并且包含将输入的光转换为电荷的光电转换元件和将由光电转换元件转换后的电荷放大并转换为电压的放大器；A/D转换器，其将从多个像素的放大器输出的电压转换为数字值；和转换部，其基于对应的用于区分光子数的阈值数据来将数字值转换为光子数，阈值数据为表示阈值范围的数据，该阈值范围包含相对于各光子数设定的、修正后的数字值的上限值及下限值。
光子计数装置方法

[发明专利]光子计数装置和光子计数方法-CN202210640380.X在审
发明人：丸野正;户田英儿;中岛真央;高桥辉雄;樋口贵文 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-18 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： H04N5/378 文献下载
摘要：一种光子计数装置包括：多个像素，其是构成图像传感器的多个像素，并且包含将输入的光转换为电荷的光电转换元件和将由光电转换元件转换后的电荷放大并转换为电压的放大器；A/D转换器，其将从多个像素的放大器输出的电压转换为数字值；和转换部，其通过修正构成多个像素的放大器中的各个的增益和偏移值的偏差来修正数字值，并且基于对应的用于区分光子数的阈值数据将修正后的数字值转换为光子数。
光子计数装置方法

[发明专利]光子计数装置和光子计数方法-CN201880075244.2有效
发明人：丸野正;户田英儿;中岛真央;高桥辉雄;樋口贵文 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2018-06-18 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： H04N5/365 文献下载
摘要：光子计数装置包括：多个像素，其包括将输入的光转换为电荷的光电转换元件和将由光电转换元件转换后的电荷放大并转换为电压的放大器；A/D转换器，其将从多个像素的所述放大器输出的电压转换为数字值；和转换部，其按多个像素的每个，参考参照数据将从A/D转换器输出的数字值转换为光子数，参照数据是基于多个像素每个的增益和偏移值而创建的。
光子计数装置方法

[发明专利]半导体检查装置及半导体检查方法-CN202080041571.3在审
发明人：竹嶋智亲;樋口贵文;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2020-04-16 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明的观察系统(1)具备：检测器(3)、二维相机(5)，它们检测来自半导体器件(S)的光并输出检测信号；光学装置(13)，其将光导引至检测器(3)及二维相机(5)；图像处理部(29)，其基于检测信号，生成半导体器件(S)的第一光学图像，且受理第一CAD图像的输入；图像解析部(31)，其将第一光学图像用作教学数据，通过机器学习来学习第一CAD图像的转换处理，通过基于该学习的结果的转换处理，而将第一CAD图像转换为与第一光学图像相似的第二CAD图像；及位置对准部，其基于第二光学图像与第二CAD图像进行位置对准。
半导体检查装置方法

[发明专利]半导体器件检查方法及半导体器件检查装置-CN202080039909.1在审
发明人：竹嶋智亲;樋口贵文;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2020-04-09 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明的半导体器件检查方法具备以下步骤：根据来自包含有半导体器件中的多个驱动元件的第1光射束点的光，取得基于来自多个驱动元件的信号的第1干扰波形；根据来自区域与第1点的一部分重复并包含有多个驱动元件的第2光射束点的光，取得基于来自多个驱动元件的信号的第2干扰波形；及基于第1及第2干扰波形，对第1及第2点内的每一驱动元件分离波形信号。
半导体器件检查方法装置

[发明专利]半导体器件检查方法及半导体器件检查装置-CN202080040025.8在审
发明人：竹嶋智亲;樋口贵文;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2020-04-09 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明的半导体器件检查方法具备以下步骤：根据来自包含有半导体器件中的多个驱动元件的第1光射束点的光，取得基于来自多个驱动元件的信号的第1干扰波形；根据来自区域与第1点的一部分重复并包含有多个驱动元件的第2光射束点的光，取得基于来自多个驱动元件的信号的第2干扰波形；及基于第1及第2干扰波形，对第1及第2点内的每一驱动元件分离波形信号。
半导体器件检查方法装置

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