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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[其他]测定用插座-CN202090000905.8有效
发明人：扇浦彻哉 -专利权人： 株式会社SDK
申请日： 2020-11-11 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： H01R33/76 文献下载
摘要：提供一种可正确地对电子光学零件进行定位而进行可靠的导通及光轴对准的测定用插座。本实用新型的一实施例的测定用插座以电子光学零件为测定对象，且包括：基座，具有收容电子光学零件的凹部；盖体，覆盖在基座上；按压构件，用于将电子光学零件压抵到基准壁；以及时间点调整构件，调整开始按压构件的动作的时间点，并且在电子光学零件被收容在凹部的状态下，基于盖体关闭的动作，由时间点调整构件按压按压构件，电子光学零件被压抵到基准壁，因此可正确地对电子光学零件进行定位而进行可靠的导通及光轴对准。
测定插座

[实用新型]接触装置、测定用插座及前端部适配器-CN201721182189.6有效
发明人：扇浦彻哉;関瑜 -专利权人： 株式会社SDK
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： H01R13/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种接触装置、测定用插座及前端部适配器，将在柔性基板上连接有电子零件及连接器的电子模块作为测定对象，可实现准确的接触、确实的导通及优异的耐久性。本实用新型为一种接触装置，其用以将在柔性基板上连接有电子零件及连接器的电子模块作为测定对象，并获得与电子模块的导通。所述接触装置具备与设于连接器的凸型的电极端子接触的探头。探头具有按压部，朝一方向施力；以及前端部，由按压部按压至电极端子侧，并具有与电极端子接触的凹部。前端部在凹部的面的至少两部位与电极端子接触。
接触装置测定插座前端适配器

[实用新型]测定用插座-CN201621422974.X有效
发明人：三森周治;鸣海栄彦 -专利权人： 株式会社SDK
申请日： 2016-12-22 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： H01R33/76 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测定用插座，本实用新型是将由电子组件及连接器连接于挠性基板而成的电子模块作为测定对象的测定用插座，包括基座，具有载置电子模块的凹部；以及按压部，用以将电子组件推到基准壁上，将盖体盖在载置有电子模块的基座上，由此，使设置于盖体的引导部与连接器嵌合，其次与盖体的闭合动作联动，通过按压部将电子组件推到基准壁上，然后将盖体固定于基座。因此，能够正确地对由电子组件连接于挠性基板而成的电子模块进行定位，从而获得切实的导通。
测定插座

[实用新型]测定用插座-CN201621422984.3有效
发明人：三森周治;鸣海栄彦 -专利权人： 株式会社SDK
申请日： 2016-12-22 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： H01R33/76 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测定用插座，本实用新型是将电子光学组件作为测定对象的测定用插座，包括基座，具有载置电子光学组件的凹部；按压部，用以将电子光学组件推到基准壁上；盖体，经由铰链而可转动地安装于基座；以及碰锁，设置在盖体或基座的铰链的相反侧，用以将盖体固定于基座，当将盖体闭合在载置有电子光学组件的基座上时，与碰锁的动作联动，通过按压部将电子光学组件推到基准壁上。所述测定用插座即使是转动盖体进行开闭的插座，也能够正确地使电子光学组件对准光学位置。
测定插座

[实用新型]测定用插座以及接触装置-CN201621423033.8有效
发明人：三森周治 -专利权人： 株式会社SDK
申请日： 2016-12-22 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测定用插座以及接触装置。本实用新型是将电子模块作为测定对象的测定用插座，包括基座，具有载置电子模块的凹部；第一盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于第一盖体，用以获得与电子模块之间的导通，当在将电子模块载置于基座的状态下闭合第一盖体时，第二盖体比第一盖体先盖在电子模块上。从而能够正确地对电子模块进行定位而获得切实的导通。
测定插座以及接触装置

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