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[实用新型]一种玻璃制品尺寸测量工装-CN202121137248.4有效
发明人：王毕;涂炼;祝启欣;黄中亚;周叶;王争;柯宇锷 -专利权人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型属于玻璃制品尺寸测量技术领域，公开了一种玻璃制品尺寸测量工装，其包括：液体容器，其内盛放有匹配液，所述匹配液的折射率与玻璃制品的折射率相同，所述玻璃制品浸于所述匹配液中；显微镜，其用于测量玻璃制品的尺寸。匹配液的折射率与玻璃制品的折射率相同，玻璃制品浸于匹配液中，可以消除匹配液和玻璃制品分界面之间的反射损耗，且二者之间不存在折射现象。不仅可以消除光线的折射效应带来的影响，且不会对待测试品造成损坏，而且可以保证测量精度较高，对不规整的玻璃制品的测量也比较方便，操作难度较小，成本较低，适合应用于大规模工业化使用。
一种玻璃制品尺寸测量工装

[发明专利]阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置-CN201710202709.3有效
发明人：汪祥;许伟;柯宇锷 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2017-03-30 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G09F9/00 文献下载
摘要：一种阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置。该阵列基板具有显示区域和周边区域，并且包括第一电极层和第一测试线。第一电极层包括沿第一方向排布的多根第一信号线，第一信号线从周边区域延伸到显示区域；第一测试线设置在周边区域，沿第一方向延伸，与第一信号线相重叠且绝缘；第一测试线配置为通过与至少一根第一信号线短接实现包含阵列基板的显示面板的不良测试。该阵列基板、显示面板及其测试方法和显示装置可以提高显示面板或/和显示装置测试的准确性。
阵列显示面板及其测试方法显示装置

[发明专利]液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法-CN201810004513.8有效
发明人： 柯宇锷;杨怀伟;李纪;徐朝哲 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
申请日： 2018-01-03 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本公开提供一种液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法，涉及显示技术领域，用于对待测液晶显示面板进行分析测试，且在测试时配置于由待测液晶显示面板拆分而得的待测阵列基板和待测彩膜基板之间。所述液晶盒测试装置包括：相对设置的第一基板和第二基板；位于第一基板和第二基板之间的液晶层；位于第一基板面向液晶层一侧的第一取向层；位于第二基板面向液晶层一侧的第二取向层；其中，所述液晶层中的液晶分子与所述待测液晶显示面板中的液晶分子具有相同的类型。本公开可判断产生MURA不良的位置，从而提高不良解析效率。
液晶测试装置以及液晶显示面板方法

[实用新型]检测电路和驱动电路-CN201621073646.3有效
发明人： 柯宇锷;杨怀伟 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2016-09-22 - 公布日： 2017-03-29 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种检测电路和驱动电路，所述检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，激光单元用于对绝缘层进行激光击穿，以使测试线与待测信号线连接；测试线用于输出待测信号线的待测信号；判断单元用于根据待测信号判断驱动器的驱动信号是否异常。本实用新型提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对绝缘层进行激光击穿，以使测试线与待测信号线连接，此时测试线可以输出待测信号线的待测信号。本实用新型提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
检测电路驱动

[发明专利]检测电路及其工作方法、驱动电路-CN201610841935.1在审
发明人： 柯宇锷;杨怀伟 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2016-09-22 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测电路及其工作方法、驱动电路，检测电路包括测试线、激光单元以及判断单元，激光单元用于对绝缘层进行激光击穿，以使测试线与待测信号线连接；测试线用于输出待测信号线的待测信号；判断单元用于根据待测信号判断驱动器的驱动信号是否异常。本发明提供的测试线与信号线通过绝缘层进行隔离，需要测试驱动器的某一信号线的输出信号时，对绝缘层进行激光击穿，以使测试线与待测信号线连接，此时测试线可以输出待测信号线的待测信号。本发明提供的技术方案在不影响驱动器的正常工作的前提之下，对测试线输出的待测信号进行检测，就可以判断驱动器的输出信号是否异常，从而提高了不良解析效率，降低了不良解析成本。
检测电路及其工作方法驱动