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[发明专利]用于在透明材料中的钻孔的系统和方法-CN201980060712.3有效
发明人：松本·久;杰恩·克雷能特;林智斌 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2019-10-02 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： B23K26/382 文献下载
摘要：一种用于在具有相对的第一表面及第二表面的基板中形成穿孔的方法，其可包括将激光脉冲的一聚焦光束导引至该基板中穿过该基板的该第一表面且随后穿过该基板的该第二表面。激光脉冲的该聚焦光束可具有一波长，该基板对于该波长至少实质上是透明的，且激光脉冲的该聚焦光束的光束腰部相比于该第一表面更接近于该第二表面。激光脉冲的该聚焦光束的特征在于脉冲重复率、在该基板处的峰值光学强度及在该基板处的平均功率，其足以：熔融该基板中靠近该第二表面的区域，由此在该基板内产生熔融区；向该第一表面传播该熔融区；且蒸发或沸腾该基板的材料并被定位于该熔融区内。
用于透明材料中的钻孔系统方法

[发明专利]激光加工设备、操作此设备的方法以及使用其加工工件的方法-CN202180078290.X在审
发明人： 杰恩·克雷能特;陈若霖;詹姆斯·布鲁克伊塞;马克·昂瑞斯;胡宏华 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2021-11-23 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：本发明提供一种激光加工设备，该激光加工设备可实施一制程以借由引导激光能量至具有一第一材料的一工件上使得该激光能量入射于该第一材料上而在该工件中形成一贯孔，该第一材料形成于一第二材料上，其中该激光能量具有一波长，该第一材料比该第二材料对该波长反射更多。该设备可包括：一背向反射感测系统，其可操作以捕捉对应于经引导至该工件并由该第一材料反射的激光能量的一部分的一背向反射信号且基于该捕捉的背向反射信号产生一感测器信号；及一控制器，其以通信方式耦接至该背向反射感测系统的一输出端，其中该控制器可操作以基于该感测器信号控制形成该贯孔的该制程的一剩余部分。
激光加工设备操作方法以及使用工件

[发明专利]光学中继系统以及使用和制造方法-CN202180072040.5在审
发明人：詹姆斯·布鲁克伊塞;杰恩·克雷能特;杰瑞德·瑞智特尔;马克·昂瑞斯 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2021-11-23 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G02B17/06 文献下载
摘要：本发明揭示光学中继系统的大量具体实例。在一个具体实例中，一激光加工设备包括光学中继系统，该光学中继系统经组态以借由维持第一定位器与扫描透镜之间的激光能量光束的光学路径长度来校正光束置放误差。在另一具体实例中，该光学中继系统可包括第一透镜、第二透镜及配置于该第一透镜与该第二透镜之间的变焦透镜组装件，其中该变焦透镜组装件包括第一透镜群组及第二透镜群组。该变焦透镜组装件可相对于该第一透镜及该第二透镜移动(例如，安装于诸如运动载物台的定位器上)。该第一透镜群组中的这些透镜之间的距离及该第二透镜群组中的这些透镜之间的距离可为固定的或可变的。
光学中继系统以及使用制造方法

[发明专利]激光加工设备、其操作方法以及使用其加工工件的方法-CN202310211386.X在审
发明人：派崔克·莱歇尔;马克·昂瑞斯;杰克·罗伯兹;乔瑟夫·哈斯提;詹姆斯·布鲁克伊塞;扎克里·唐;克里斯多福·汉默;杰佛利·洛特;雅各·梅格斯;杰克·罗戴尔;杰弗瑞·豪尔顿;杰恩·克雷能特;道格·豪尔;盖瑞·拉森;朱莉·威尔森;李·彼得森;马克·韦格纳;克尔特·伊藤 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2019-06-04 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：改良用于激光加工工件的设备与技术，并且提供新功能。本发明讨论的某些实施例和使用射束特征化工具达成适应性加工、加工控制、以及其它所希望的特点有关。其它实施例则关于并入积分球的激光功率传感器。本发明的再其它实施例关于能够同步提供不同工件给共同激光加工设备的工件搬运系统。本发明亦详细说明众多其它实施例和配置。
激光加工设备操作方法以及使用工件方法

[发明专利]用于导电电镀的镭射种晶-CN201780011096.3有效
发明人：杰伊尔·卻瑞本恩;杰恩·克雷能特 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2017-03-31 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： H01L23/15 文献下载
摘要：一具有例如是一玻璃基板的基板的工件(100)可以藉由一镭射或是藉由其它手段来加以蚀刻以产生凹陷的特点(200、202)。一镭射诱导向前转移(LIFT)制程或是金属氧化物印刷制程可被利用以施加一例如是金属的晶种材料(402)到该玻璃基板之上，尤其是到该些凹陷的特点(200、202)中。若为所要的话，该些种晶后的凹陷的特点可以藉由例如是无电的电镀的现有的技术来加以电镀，以提供具有可预测且更佳的电气特性的导电的特点(500)。该工件(100)可以用一堆栈来加以连接，使得后续堆栈的工件(100)可以在适当处加以修改。
用于导电电镀镭射

[发明专利]激光加工设备、其操作方法以及使用其加工工件的方法-CN201980030416.9有效
发明人：派崔克·莱歇尔;马克·昂瑞斯;杰克·罗伯兹;乔瑟夫·哈斯提;詹姆斯·布鲁克伊塞;扎克里·唐;克里斯多福·汉默;杰佛利·洛特;雅各·梅格斯;杰克·罗戴尔;杰弗瑞·豪尔顿;杰恩·克雷能特;道格·豪尔;盖瑞·拉森;朱莉·威尔森;李·彼得森;马克·韦格纳;克尔特·伊藤 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2019-06-04 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： B23K26/70 文献下载
摘要：改良用于激光加工工件的设备与技术，并且提供新功能。本发明讨论的某些实施例和使用射束特征化工具达成适应性加工、加工控制、以及其它所希望的特点有关。其它实施例则关于并入积分球的激光功率传感器。本发明的再其它实施例关于能够同步提供不同工件给共同激光加工设备的工件搬运系统。本发明亦详细说明众多其它实施例和配置。
激光加工设备操作方法以及使用工件方法

[发明专利]具有相位移反射器的声光系统-CN202210584764.4在审
发明人：詹姆斯·布鲁克伊塞;杰恩·克雷能特;杰瑞德·瑞智特尔;克尔特·伊藤 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G02F1/29 文献下载
摘要：本发明关于一种光束定位器，其大体经特性化为包括第一声光(AO)偏转器(AOD)，该第一声光(AO)偏转器(AOD)可操作用以使线性偏振镭射光的入射光束绕射，其中该第一AOD具有第一绕射轴且其中该第一AOD定向使得该第一绕射轴与该线性偏振镭射光的偏振平面具有预定空间关系。该光束定位器可包括配置于光束路径内的至少一个相移反射器，光可沿着该光束路径自该第一AOD传播。该至少一个相移反射器可被配置及定向以旋转由该第一AOD绕射的光的偏振平面。
具有相位反射声光系统

[发明专利]具有相位移反射器的声光系统-CN201880055941.1有效
发明人：詹姆斯·布鲁克伊塞;杰恩·克雷能特;杰瑞德·瑞智特尔;克尔特·伊藤 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：本发明关于一种光束定位器，其大体经特性化为包括第一声光(AO)偏转器(AOD)，该第一声光(AO)偏转器(AOD)可操作用以使线性偏振镭射光的入射光束绕射，其中该第一AOD具有第一绕射轴且其中该第一AOD定向使得该第一绕射轴与该线性偏振镭射光的偏振平面具有预定空间关系。该光束定位器可包括配置于光束路径内的至少一个相移反射器，光可沿着该光束路径自该第一AOD传播。该至少一个相移反射器可被配置及定向以旋转由该第一AOD绕射的光的偏振平面。
具有相位反射声光系统

[发明专利]多轴工具机-CN201910052560.4有效
发明人：陆广;穆罕默德·阿尔帕伊;麦可·泰勒;徐倩;杰恩·克雷能特;林智斌;吉姆·布鲁克伊塞;卢可伟;克尔特·M·伊藤 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2016-06-21 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： B23Q1/30 文献下载
摘要：一种多轴工具机，包括有镭射源、工件定位总成、工具尖定位总成和控制器。该镭射源被配置为产生包括光束腰的聚焦的激光束；该工件定位总成被配置为将工件定位在可传播聚焦的该激光束的路径中，其中该工件定位总成进一步操作以使该工件绕至少一轴旋转并且使该工件沿至少一轴平移；该工具尖定位总成的操作以使由该镭射源产生的该激光束的该光束腰沿至少一轴移动，其中该工具尖定位总成包括由以下所组成的群组所选出的至少一者：声光偏转器系统、微机电系统镜系统和自适应光学系统；该控制器在操作上耦合至该镭射源、该工件定位总成和该工具尖定位总成，并且被配置至该镭射源、该工件定位总成和该工具尖定位总成的操作。
工具机

[发明专利]镭射加工设备、其操作方法以及使用其加工工件的方法-CN202080029432.9在审
发明人： 杰恩·克雷能特;林智斌;杰伊尔·卻瑞本恩;马克·昂瑞斯;胡宏华;陈若霖;杨川;杰佛利·洛特;达瑞·芬恩 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： B23K26/382 文献下载
摘要：本发明揭示众多具体实例。其中许多关于在诸如印刷电路板的工件中形成通孔的方法。一些具体实例关于用于借由在间接地烧蚀例如印刷电路板的电导体结构之前使镭射能量在空间上贯穿该电导体的一区分配而间接地烧蚀该区的技术。其他具体实例关于用于在时间上划分镭射脉冲、调变镭射脉冲内的光学功率等的技术。
镭射加工设备操作方法以及使用工件方法

[发明专利]用于材料处理的相位阵列射束操纵-CN202080006675.0在审
发明人： 杰恩·克雷能特;贾斯汀·雷德;詹姆斯·布鲁克伊塞 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2020-02-04 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： H01S3/10 文献下载
摘要：一种系统，所述系统包括：多通道射束分光器，其被排列及配置以将输入光学信号分裂成多个分裂光学信号；多个相位调变器，其中所述多个相位调变器中的每一相位调变器可操作以响应于控制信号而修改所述多个分裂光学信号中的对应分裂光学信号的相位；波导，其排列在所述多个相位调变器的光学输出端，所述波导被配置以将自所述多个相位调变器输出的所述分裂光学信号在空间上重新排列成一图案，借此产生光学信号图案；及光学放大器，其排列在所述波导的光学输出端，其中所述光学放大器被配置以放大由所述波导产生的所述光学信号图案。
用于材料处理相位阵列操纵

[发明专利]用于激光射束定位系统的相位阵列操纵-CN202110117715.5在审
发明人： 杰恩·克雷能特 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2014-03-14 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： H01S3/10 文献下载
摘要：一种以激光为基础样本的处理系统(112)的激光射束定位系统(110)自一全光纤耦接光学相位阵列激光射束操纵系统(80)在射束定位器载台(124)处产生一操纵激光输入射束(106)。系统(110)透过一或更多其它射束定位器载台(130、131、134)来导引射束(106)以形成一处理激光射束(116)，其处理安装在一支撑件(122)上的工件(120)的目标特征(118)。
用于激光定位系统相位阵列操纵

[发明专利]激光加工设备、其操作方法及使用其加工工件的方法-CN202080005766.2在审
发明人：詹姆斯·布鲁克伊塞;杰恩·克雷能特;马克·寇摩斯基;提摩太·纽寇斯;杰瑞德·瑞智特尔;吉野郁世;史蒂夫·密里萨;穆罕默德·阿尔帕伊;刘源;克尔特·伊藤 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2020-01-03 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： B23K26/067 文献下载
摘要：本发明揭示了众多具体实例。在一个具体实例中，一种激光加工设备包括配置于光束路径内的定位器，激光能量光束可沿该光束路径传播。控制器可用以控制该定位器的操作以使该光束路径在第一主要角范围及第二主要角范围内偏转，且使该光束路径偏转至该第一主要角范围及该第二主要角范围中的每一者内的多个角度。在另一具体实例中，一种整合式光束截止器系统包括：框架；及耦接至该框架的检拾器镜面及光束截止器。在又一具体实例中，一种波前校正光学件包括具有反射表面的镜面，该反射表面具有特征在于条纹任尼克项Z4及Z9的特定比率的形状。本发明揭示有更多具体实例。
激光加工设备操作方法使用工件方法

[发明专利]用于激光射束定位系统的相位阵列操纵-CN201480015621.5有效
发明人： 杰恩·克雷能特 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2014-03-14 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： H01S3/105 文献下载
摘要：一种以激光为基础样本的处理系统(112)的激光射束定位系统(110)自一全光纤耦接光学相位阵列激光射束操纵系统(80)在射束定位器载台(124)处产生一操纵激光输入射束(106)。系统(110)透过一或更多其它射束定位器载台(130、131、134)来导引射束(106)以形成一处理激光射束(116)，其处理安装在一支撑件(122)上的工件(120)的目标特征(118)。
用于激光定位系统相位阵列操纵

[发明专利]镭射处理设备和镭射处理工件的方法-CN201780054282.5在审
发明人：达瑞·芬恩;麦可·凯斯林卓;杰恩·克雷能特;林智斌 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2017-07-21 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： B23K26/0622 文献下载
摘要：一种处理工件的方法，该工件具有第一表面以及和该第一表面反向的第二表面，该方法包含：产生第一镭射脉冲射束，其具有以大于500kHz的脉冲重复率时小于200ps的脉冲时间持续长度；沿着与该工件相交的射束轴引导该第一镭射脉冲射束；以及沿着处理轨线扫描该射束轴。该射束轴被扫描，使得连续引导的镭射脉冲以非零咬合尺寸照射在该工件上，以便在该工件的该第一表面形成特征元件。例如咬合尺寸、脉冲时间持续长度、脉冲重复率、镭射脉冲点尺寸以及镭射脉冲能量之一或更多个参数是被选择用以确保该特征元件的经处理工件表面的平均表面粗糙度(Ra)小于或等于1.0μm。
镭射脉冲第一表面射束轴脉冲重复率处理工件脉冲射束时间持续特征元件咬合扫描平均表面粗糙度处理工件表面处理设备第二表面连续引导脉冲能量非零轨线相交照射

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