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[发明专利]一种多通道模拟量采集电路-CN202310915981.1在审
发明人：李兵;雷佳;崔红卫;刘天宇;袁博;李跃阳;吕永国;高严;种含伟;杨挺轩 -专利权人：陕西省电子技术研究所有限公司
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明涉及一种多通道模拟量采集电路，包括标准信号单元、多路模拟开关单元、仪表放大器单元、模数转换器单元和微控制器单元，多路模拟开关单元包括两个多路模拟开关，标准信号单元产生多路标准信号输入至其中一个多路模拟开关，多路被测信号输入至另一个多路模拟开关，微控制器单元分别控制多路模拟开关将标椎信号或被测信号输入到仪表放大器单元，通过仪表放大器单元放大后的标椎信号或被测信号输出至模数转换器单元，微控制器单元控制模数转换器单元进行模数转换。本发明采用SE508型多路模拟开关和SE620型仪表放大器，通过低温漂基准源产生已知标准信号对系统实现硬件实时校准，消除测量通道上的误差和器件非理想参数误差，实现校准标定功能。
一种通道模拟采集电路

[发明专利]一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法-CN202311018335.1在审
发明人：李兵;刘天宇;何飞翔;崔红卫;金山;雷佳;袁博;谷雨;李跃阳;吕永国;高严;种含伟;杨挺轩 -专利权人：陕西省电子技术研究所有限公司
申请日： 2023-08-14 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：本发明提供一种基于FPGA的ADC性能测试系统及其测试方法，其系统包括FPGA处理芯片，FPGA处理芯片电连接有DDR3存储器、ADC电流采样芯片和被测ADC芯片，FPGA处理芯片与上位机连接通信，上位机向FPGA处理芯片发送测试信号指令对被测ADC芯片进行采样，被测ADC芯片连接有产生测试模拟信号的信号源，被测ADC芯片将测试模拟信号转化为数字信号传输至FPGA处理芯片，ADC电流采样芯片采集被测ADC芯片的电流、电压模拟信号并转换为数字信号传输至FPGA处理芯片，FPGA处理芯片将数字信号作为测试数据存储至DDR3存储器，FPGA处理芯片读取DDR3存储器的测试数据并进行处理后以获得被测ADC芯片的测试性能参数。本发明减轻了FPGA处理芯片内部总线的负担，提高了模数转换芯片的测试效率。
一种基于 fpga adc 性能测试系统及其方法