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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种动态可调的超窄带手性复合纳米装置-CN202111336611.X有效
发明人：王勇凯;李知多;董军;朱礼鹏;郑益朋 -专利权人：西安邮电大学
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本申请涉及手性装置领域，具体提供了一种动态可调的超窄带手性复合纳米装置，其特征在于，本发明装置从下至上依次包括：反射层、相变材料层、介质层，反射层、相变材料层、介质层的内部有贯穿孔结构，该贯穿孔结构贯穿上述反射层、相变材料层、介质层，贯穿孔结构具有手性。本发明装置的CD峰的半峰宽为0.12nm，本发明装置手性传感的精确度较高；CD峰的峰值可达0.61，本发明装置的灵敏度也较高；本发明能够通过改变相变材料层周围的温度，实现本装置手性的动态调控；本发明装置为微纳尺寸，符合器件微型化的趋势。
一种动态可调窄带手性复合纳米装置

[发明专利]可调控的介质手性纳米增强装置及系统-CN202110773209.1有效
发明人：王勇凯;董军;王倩颖;李知多 -专利权人：西安邮电大学
申请日： 2021-07-08 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N21/19 文献下载
摘要：本申请涉及可调控的介质手性纳米增强装置及系统，具体而言，涉及手性装置领域。本申请提供可调控的介质手性纳米增强装置，装置包括：基底、介质层、二硫化物层和复合结构层；该光信号在该复合结构层与介质层中产生导模共振，并在金属上表面产生表面产生表面等离极化激元共振，进而使得该二硫化物层的热损耗和表面电流增强，从而增强该复合结构层的光学手性，最终实现对手性增强的目的；由于该第二纳米棒、第三纳米棒、第四纳米棒和第五纳米棒的材料为相变材料，温度改变使得第二纳米棒、第三纳米棒、第四纳米棒和第五纳米棒的电导率的变化，从而引起本申请的装置的折射率的变化，即本申请可以通过改变温度，实现对CD信号的动态调控。
调控介质手性纳米增强装置系统

[发明专利]温度探测装置-CN202110487938.0有效
发明人：王勇凯;李知多;孙佳琳 -专利权人：西安邮电大学
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01K7/16 文献下载
摘要：本申请涉及温度探测装置，具体而言，涉及温度检测领域。本申请提供的温度探测装置，装置包括：吸热层、半导体柱、隔热层、绝缘层、石墨烯层、第一电极和第二电极；当温度探测装置探测外界温度时，该吸热层吸收外界热量，并将该热量传递到该半导体柱上，使得该“T”形结构的半导体柱的短端一侧温度升高，由于该半导体柱靠近该石墨烯层一端的长端温度不变，则该半导体柱的两端之间具有一定温差，进而该半导体柱上的载流子汇聚到该石墨烯层上，从而改变该石墨烯层的导电特性，通过检测该第一电极和第二电极之间的电导率的变化情况，并根据该第一电极和第二电极之间的电导率的变化情况与待测温度的对应关系，得到待测温度。
温度探测装置

[发明专利]温度探测装置及系统-CN202110484075.1在审
发明人：王勇凯;孙佳琳;李知多 -专利权人：西安邮电大学
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01K11/00 文献下载
摘要：本申请涉及温度探测装置及系统，具体而言，涉及温度检测领域；本申请提供的温度探测装置包括：壳体、吸热层、传热层、热膨胀材料部、反射镜、光电转化层和光源；当需要对待测温度检测时，由于该热膨胀材料部靠近光源的一端的厚度小于远离光源一端的厚度，则靠近光源一侧的形变小于远离光源一侧的形变，又由于该反射镜设置在该热膨胀材料部靠近光源的一侧，则在温度的作用下，该反射镜与该光源的夹角会发生变化，即反射镜接收到的光源的光信号减少，进而使得光源产生的光通过该反射镜反射到该光电转化层上的光的量减少，光电转化层上产生的电流相应的发生改变，通过对光电转化层上的电流进行检测，并根据电流与待测温度的对应关系，得到待测温度。
温度探测装置系统

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