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[发明专利]一种双本振亚毫米波超导探测系统-CN202310222161.4在审
发明人：曹铎;汪树勤;李尧;李晓温;刘锋;何晓勇;林方婷;石旺舟 -专利权人：上海师范大学
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01V8/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种双本振亚毫米波超导探测系统，该系统包括第一本振源、第二本振源、第一耦合器、第二耦合器、箱体、超导混频器、信号放大器以及中后端处理系统；第一本振源和第二本振源形成的两路本振信号，分别通过设有的信号窗口进入箱体，经过第一耦合器耦合后，得到双本振输出信号；被探测信号经过设有的信号窗口进入箱体，与双本振输出信号进行二次耦合；两次耦合后的信号汇集至超导混频器的馈源，经过超导混频器混频后输出中频信号，然后经信号放大器处理后输出至中频后端处理系统，完成亚毫米波信号的探测。与现有技术相比，本发明可以有效避免分立观测带来的指向，校准和仪器误差等问题，有助于实现高质量宽频差谱线的观测。
一种亚毫米波超导探测系统

[实用新型]一种基于傅里叶光谱仪窄带光源气体浓度探测装置-CN202220267747.3有效
发明人：孙艳;文政绩;李晓温;周东劼;郝加明;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2022-02-10 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本专利公开一种基于傅里叶光谱仪窄带光源气体浓度探测装置。本专利是为了解决现有气体浓度测试方法中与气体有接触或测试灵敏度低、测试手段单一等问题。该探测装置由窄带辐射光源发出的红外窄带光进入傅里叶光谱仪，气体仓放在傅里叶光谱仪样品仓中，最后由探测器探测光谱。窄带辐射光源通过加热窄带辐射器发出窄带红外光，或者由宽带红外光源通过窄带滤波片获得窄带红外光源。窄带辐射光源通过外接光源端口入射到傅里叶光谱仪中。气体仓中加入待测气体，并且可以控制充入气体的浓度。该气体浓度探测方法具有灵敏度高，无接触探测等优点。
一种基于傅里叶光谱仪窄带光源气体浓度探测装置

[发明专利]基于傅里叶光谱仪窄带光源气体浓度探测装置及测量方法-CN202210123386.X在审
发明人：孙艳;文政绩;李晓温;周东劼;郝加明;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2022-02-10 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开一种基于傅里叶光谱仪窄带光源气体浓度探测装置及测量方法。本发明是为了解决现有气体浓度测试方法中与气体有接触或测试灵敏度低、测试手段单一等问题。该探测装置由窄带辐射光源发出的红外窄带光进入傅里叶光谱仪，气体仓放在傅里叶光谱仪样品仓中，最后由探测器探测光谱。窄带辐射光源通过加热窄带辐射器发出窄带红外光，或者由宽带红外光源通过窄带滤波片获得窄带红外光源。窄带辐射光源通过外接光源端口入射到傅里叶光谱仪中。气体仓中加入待测气体，并且可以控制充入气体的浓度。该气体浓度探测方法具有灵敏度高，无接触探测等优点。
基于傅里叶光谱仪窄带光源气体浓度探测装置测量方法

[发明专利]一种准周期大面积耐高温的红外热辐射器及其制备方法-CN202111493941.X在审
发明人：刘锋;李晓温;文政绩;郝加明;许昊;石溪 -专利权人：上海师范大学
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： H01K1/08 文献下载
摘要：本发明公开一种准周期大面积耐高温的红外热辐射器及其制备方法，该辐射器由多层膜结构组成，包括衬底、金属层、介质a、介质b，介质层厚度由遗传算法优化得出，每层厚度为100‑600nm，膜系的制备方法可以采用磁控溅射、离子束溅射、电子束蒸发、热蒸发、脉冲激光沉积、原子层沉积等其中的一种或者多种组合。这种红外辐射器具有高辐射率，峰值辐射率接近100％的优势，并且结构简单，易于大面积制备、波长可调控，可制备在柔性衬底上，能耐1000K高温等一系列优点，在红外光源、化学分子特征峰探测、红外成像、光电特征标识和新型红外光谱仪上有良好的应用前景。
一种周期大面积耐高温红外辐射器及其制备方法

[实用新型]一种反射光相位信息表征装置-CN202020747343.5有效
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-05-09 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本专利公开一种反射光相位信息表征装置，该装置分为左臂和右臂，包括：光源、起偏器、第一1/4波片、第一偏振分束器、第一样品台、第二偏振分束器、第一反射镜、第二样品台、第二反射镜、第二1/4波片、检偏器、探测器。左、右臂围绕垂直样品台的中心轴旋转可改变入、出射角度。光束经过第一偏振分束器后分为光路1与光路2，汇聚于第二偏振分束器。本装置可同时测量样品不同入射角度条件下反射光的强度和相位信息，即可获取反射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种反射光相位信息表征装置

[实用新型]一种正入射式反射光相位信息表征光路系统-CN202021233907.X有效
发明人：刘锋;李晓温;徐笛瑞;俞伟伟;许昊;郝加明 -专利权人：上海师范大学
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种正入射式反射光相位信息表征光路系统，光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括激光器、起偏器、偏振分束器、第一1/4波片、第一样品台、第二1/4波片、第二样品台、第三1/4波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过偏振分束器后分为光路a与光路b，分别经过1/4波片与样品平台后反射，之后两束光从新汇聚于偏振分束器。本光路系统可同时测量样品反射光的强度信息和相位信息，即可获取反射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种入射反射光相位信息表征系统

[实用新型]一种正入射式透射光相位信息表征光路系统-CN202021235738.3有效
发明人：刘锋;李晓温;徐笛瑞;俞伟伟;许昊;郝加明 -专利权人：上海师范大学
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种正入射式透射光相位信息表征光路系统，该光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括：激光器、起偏器、第一偏振分束器、第一反射镜、第一样品台、第二反射镜、第二样品台、第二偏振分束器、1/4波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路a与光路b，汇聚与第二偏振分束器。本光路系统可以同时测量样品透射光的强度信息和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种入射透射相位信息表征系统

[实用新型]一种显微角分辨反射光相位信息表征系统-CN202021262374.8有效
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-07-01 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本专利公开一种显微角分辨反射光相位信息表征系统，该装置分为光路1和光路2，两条光路均具有显微功能，两个样品平台前的透镜为物镜，可当作傅里叶变换器件，实现样品发出光的角度与物镜焦平面上位置的对应关系；后端1/4波片、检偏器对光进行调制，最后透过透镜将光汇聚到像平面。本装置可同时测量样品微区域不同入射角度条件下反射光的强度和相位信息，即可获取反射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种显微分辨反射光相位信息表征系统

[实用新型]一种显微角分辨透射光相位信息表征系统-CN202021262393.0有效
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-07-01 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本专利涉及一种显微角分辨透射光相位信息表征系统，该装置分为光路1和光路2，两条光路均具有显微功能，两个样品平台前的透镜为物镜，可当作傅里叶变换器件，实现样品发出光的角度与物镜焦平面上位置的对应关系；后端1/4波片、检偏器对光进行调制，最后透过透镜将光汇聚到像平面。本装置可同时测量样品微区域不同入射角度条件下透射光的强度和相位信息，即可获取透射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种显微分辨透射相位信息表征系统

[实用新型]一种透射光相位信息表征装置-CN202020747427.9有效
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-05-09 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本专利公开了一种透射光相位信息表征装置，该装置由两部分组成光路1与光路2，包括：光源、起偏器、第一1/4波片、第一偏振分束器、第一样品台、第二偏振分束器、第一反射镜、第二样品台、第二反射镜、第二1/4波片、检偏器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路1与光路2，汇聚于第二偏振分束器。本装置可以同时测量样品透射光的强度和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种透射相位信息表征装置

[发明专利]一种正入射式反射光相位信息表征光路系统及方法-CN202010607213.6在审
发明人：刘锋;李晓温;徐笛瑞;俞伟伟;许昊;郝加明 -专利权人：上海师范大学
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种正入射式反射光相位信息表征光路系统及方法，光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括激光器、起偏器、偏振分束器、第一1/4波片、第一样品台、第二1/4波片、第二样品台、第三1/4波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过偏振分束器后分为光路a与光路b，分别经过1/4波片与样品平台后反射，之后两束光从新汇聚于偏振分束器。本光路系统可同时测量样品反射光的强度信息和相位信息，即可获取反射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种入射反射光相位信息表征系统方法

[发明专利]一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法-CN202010607230.X在审
发明人：刘锋;李晓温;徐笛瑞;俞伟伟;许昊;郝加明 -专利权人：上海师范大学
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明涉及一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法，该光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括：激光器、起偏器、第一偏振分束器、第一反射镜、第一样品台、第二反射镜、第二样品台、第二偏振分束器、1/4波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路a与光路b，汇聚与第二偏振分束器。本光路系统可以同时测量样品透射光的强度信息和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种入射透射相位信息表征系统方法

[发明专利]一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法-CN202010623578.8在审
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-07-01 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种显微角分辨透射光相位信息表征系统及其测量方法，该装置分为光路1和光路2，两条光路均具有显微功能，两个样品平台前的透镜为物镜，可当作傅里叶变换器件，实现样品发出光的角度与物镜焦平面上位置的对应关系；后端1/4波片、检偏器对光进行调制，最后透过透镜将光汇聚到像平面。本装置可同时测量样品微区域不同入射角度条件下透射光的强度和相位信息，即可获取透射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种显微分辨透射相位信息表征系统及其测量方法

[发明专利]一种显微角分辨反射光相位信息表征系统及其测量方法-CN202010623585.8在审
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-07-01 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开一种显微角分辨反射光相位信息表征系统及其测量方法，该装置分为光路1和光路2，两条光路均具有显微功能，两个样品平台前的透镜为物镜，可当作傅里叶变换器件，实现样品发出光的角度与物镜焦平面上位置的对应关系；后端1/4波片、检偏器对光进行调制，最后透过透镜将光汇聚到像平面。本装置可同时测量样品微区域不同入射角度条件下反射光的强度和相位信息，即可获取反射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种显微分辨反射光相位信息表征系统及其测量方法

[发明专利]一种反射光相位信息表征装置及其测量方法-CN202010384274.0在审
发明人：郝加明;李晓温;俞伟伟;文政绩;周子骥;刘锋 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-05-09 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开一种反射光相位信息表征装置及其测量方法，该装置分为左臂和右臂，包括：光源、起偏器、第一1/4波片、第一偏振分束器、第一样品台、第二偏振分束器、第一反射镜、第二样品台、第二反射镜、第二1/4波片、检偏器、探测器。左、右臂围绕垂直样品台的中心轴旋转可改变入、出射角度。光束经过第一偏振分束器后分为光路1与光路2，汇聚于第二偏振分束器。本装置可同时测量样品不同入射角度条件下反射光的强度和相位信息，即可获取反射光谱的全面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
一种反射光相位信息表征装置及其测量方法

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