专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种跌落测试系统、方法及控制设备-CN202211193349.2有效
  • 李克武 - 荣耀终端有限公司
  • 2022-09-28 - 2023-10-27 - G01M7/08
  • 本申请实施例提供了一种跌落测试系统、方法及控制设备。根据该跌落测试系统,在测试待测试设备的跌落可靠性时,可以通过传动装置为待测试设备提供向下的加速度,以令待测试设备先以该加速度做加速下落运动,然后在指定的高度做自由落体运动。由此,可以在有限的可上升高度的范围内,为待测试设备提供更宽泛的可测试的落地速度的范围,以及在测试相同的落地速度时,有效缩短待测试设备的上升高度,提高测试效率。并且,可以准确控制待测试设备的落体部位,以提高跌落可靠性的测试针对性。
  • 一种跌落测试系统方法控制设备
  • [发明专利]一种全stokes偏振矢量的测量装置及测量方法-CN202310325353.8在审
  • 李克武;崔志英;邱元芳;郑驰;沈开远 - 宁波永新光学股份有限公司
  • 2023-03-29 - 2023-07-21 - G01J4/00
  • 本发明公开了一种全stokes偏振矢量的测量装置,包括成像镜头和成像探测器,成像镜头将待测光线投射到成像探测器上,特点是成像探测器包括面阵列探测器,面阵列探测器的接收面上设置有由多个成像子单元组成的成像像元,成像像元上覆盖有基板,基板由通光光谱宽度大于等于成像探测器光谱宽度的材料制成,基板的外表面设置有多个基于全介质超表面的偏振测量单元,偏振测量单元由3对共6个偏振测量子单元组成,分别用于完成(I,I90°)、(I45°,I135°)和(IR,IL)3对正交偏振分量的转换分离和聚焦,偏振测量子单元与成像子单元一一对应,优点是能够同时实现线偏振光和圆偏振光的成像测量;且装置的重量轻,测量的分辨率高,测量速度快。
  • 一种stokes偏振矢量测量装置测量方法
  • [发明专利]一种宽光谱光学材料及元件的应力测量仪-CN202010787844.0有效
  • 李克武;王志斌 - 中北大学
  • 2020-08-07 - 2023-07-21 - G01N21/01
  • 本发明属于光学材料及元件的应力测量技术领域,具体涉及一种宽光谱光学材料及元件的应力测量仪,两个测量通道分别通过两个频率不相同的弹光调制器同时工作在谐振状态产生基频、差频等调制光信号,待测光学材料及元件5的应力双折射相位延迟量被加载到调制光信号中,通过对两个弹光调制器基频信号和差频信号的提取能够同时实现相位延迟量和快轴方位角的求解。本发明采用弹光调制技术克服了传统应力测量方法需要机械调节,检测精度和重复性低等问题,为光学材料结构应力、热应力和机械应力等测量评估提供了先进设备。本发明用于光学材料及元件的应力测量。
  • 一种光谱光学材料元件应力测量仪
  • [发明专利]一种基于弹光调制干涉具的高速傅里叶光谱椭偏测量装置-CN202211458821.0在审
  • 张瑞;薛鹏;杨帅;李克武;王志斌;李孟委 - 中北大学
  • 2022-11-17 - 2023-03-28 - G01J4/00
  • 本发明属于椭偏测量装置技术领域,具体涉及一种基于弹光调制干涉具的高速傅里叶光谱椭偏测量装置,所述宽波段复色红外光源的光路方向上设置有第一偏振片,所述第一偏振片的光路方向上设置有样品,所述样品设置在载物台上,所述样品的反射光路上设置有第一可旋转补偿器,所述第一可旋转补偿器的光路方向上设置有第二偏振片,所述第二偏振片的光路方向上设置有高速弹光调制干涉具,所述高速弹光调制干涉具的光路方向上设置有第三偏振片,所述第三偏振片的光路方向上设置有高速宽波段探测器。本发明通过对高速弹光调制傅里叶光谱技术,结合对光谱椭偏技术,解决宽波段光谱椭偏测量速度慢的问题,实现了可见到红外宽波段,毫秒级光谱椭偏测量。
  • 一种基于调制干涉高速傅里叶光谱测量装置
  • [发明专利]冲击测试装置及冲击测试系统-CN202211457821.9在审
  • 李克武 - 荣耀终端有限公司
  • 2022-11-21 - 2023-03-07 - G01M7/08
  • 本申请实施例提供一种冲击测试装置及冲击测试系统,该冲击测试装置用于对电子设备的抗冲击性能进行测试,冲击测试装置至少包括:冲击件以及水平位移机构;水平位移机构至少包括:水平导轨以及与水平导轨滑动连接的滑动平台;滑动平台沿着第一方向相对于水平导轨滑动;滑动平台包括:主体部以及位于主体部外周的凹槽,主体部用于固定电子设备;冲击件击打电子设备后,冲击件沿着主体部进入凹槽。这样,能够减少测试人员的手动操作流程,缩短测试时间,从而能够提升测试效率。
  • 冲击测试装置系统
  • [发明专利]一种双PEM偏振态分析精确修正装置及方法-CN202211181699.7在审
  • 张瑞;薛鹏;李克武;王志斌 - 中北大学
  • 2022-09-27 - 2023-02-03 - G01M11/02
  • 本发明属于偏振态分析精确修正方法技术领域,具体涉及一种双PEM偏振态分析精确修正装置及方法,包括被测光、第一弹光调制器、第二弹光调制器、检偏器、探测器、弹光驱动控制及多路数字锁相放大电路和计算机,所述被测光的光路方向上依次设置有第一弹光调制器、第二弹光调制器、检偏器和探测器,所述第一弹光调制器、第二弹光调制器和探测器电性连接在弹光驱动控制及多路数字锁相放大电路上,所述弹光驱动控制及多路数字锁相放大电路电性连接在计算机上。本发明通过两个弹光调制器,结合锁相放大获得多个不同差频及倍频信号,结合理论计算获得两个弹光调制器自身影响和环境影响导致静态相位延迟和调制相位幅值不稳定的修正。
  • 一种pem偏振分析精确修正装置方法
  • [发明专利]一种基于单弹光调制器的光谱椭偏精确测量装置及方法-CN202211181705.9在审
  • 张瑞;薛鹏;李克武;王志斌 - 中北大学
  • 2022-09-27 - 2023-02-03 - G01N21/21
  • 本发明属于光谱椭偏测量装置及方法技术领域,具体涉及一种基于单弹光调制器的光谱椭偏精确测量装置及方法,所述单色仪的光路方向上依次设置有起偏器、弹光调制器、被测样品,所述被测样品的反射光路上依次设置有检偏器、探测器。通过对单个弹光调制加单色仪宽波段单色光扫描,结合对调制后的光电信号进行多倍频信号锁相放大,提高信号的信噪比,结合对多倍频信号幅值理论计算实时获得弹光调制器自身调制相位幅值波动,解决长时间工作及环境影响导致弹光调制器相位延迟幅值不稳定问题,并且根据单色仪输出波长的不同可实时调节弹光调制器驱动电压,以保证最佳调制效率。
  • 一种基于单弹光调制器光谱精确测量装置方法
  • [发明专利]基于单弹光调制自反馈的超高速椭偏精确测量装置及方法-CN202211182428.3在审
  • 张瑞;薛鹏;李克武;王志斌 - 中北大学
  • 2022-09-27 - 2023-02-03 - G01N21/21
  • 本发明属于椭偏精确测量装置及方法技术领域,具体涉及一种基于单弹光调制自反馈的超高速椭偏精确测量装置及方法,所述光源的光路方向上依次设置有起偏器、四分之一波片、被测样品,所述被测样品的反射光路上依次设置有弹光调制器、检偏器、探测器,所述弹光调制器电性连接有弹光调制器驱动控制及多路数字锁相放大电路。本发明通过对单个弹光调制调制后的光电信号进行多倍频信号锁相放大,以弹光调制器驱动频率为参考,获得一倍频、二倍频、三倍频、四倍频的信号幅值,结合理论计算实时获得两个弹光调制器自身长期工作温度影响及环境影响导致调制相位幅值,进而实现被测样品的椭偏参数Δ和Ψ的精确测量。
  • 基于单弹光调制反馈超高速精确测量装置方法
  • [发明专利]一种基于双快轴可调弹光调制的广义椭偏分析装置-CN202110138831.5有效
  • 李克武;王爽;王志斌 - 中北大学
  • 2021-02-01 - 2022-11-08 - G01N21/21
  • 本发明属于本发明属于广义椭偏分析方法及仪器设备技术领域,具体涉及一种基于双快轴可调弹光调制的广义椭偏分析装置,所述准直光源的光路方向上依次设置有偏振发生器、样品夹具,所述样品夹具上固定有待测样品,所述样品夹具的底部与仪器旋转台转动连接,所述待测样品的光路方向上依次设置有偏折分析器、光谱测量系统,所述光谱测量系统通过导线连接有控制电脑PC,所述控制电脑PC连接有弹光调制系统控制模块,所述弹光调制系统控制模块分别与偏振发生器、偏折分析器连接。本发明无需机械调节,并且本发明快速、准确,能够为偏振测量相关领域提供新装置和新方法。本发明用于广义椭偏分析。
  • 一种基于双快轴可调调制广义分析装置
  • [发明专利]一种基于二向色镜和光栅衍射的宽波段激光告警结构-CN202010025916.8有效
  • 张瑞;王志斌;石金;王耀利;李克武 - 中北大学
  • 2020-01-10 - 2022-09-23 - G01J9/02
  • 本发明属于激光告警结构技术领域,具体涉及一种基于二向色镜和光栅衍射的宽波段激光告警结构,包括前置视场压缩光学系统、二向色镜、可见光闪耀光栅、近红外光闪耀光栅、第一后置聚焦光学系统、第二后置聚焦光学系统、近红外光焦平面探测器、可见光焦平面探测器,所述前置视场压缩光学系统的一侧设置有二向色镜,所述二向色镜的一侧依次设置有可见光闪耀光栅、第二后置聚焦光学系统、可见光焦平面探测器,所述二向色镜的另一侧依次设置有近红外光闪耀光栅、第一后置聚焦光学系统、近红外光焦平面探测器。本发明采用光栅衍射方法实现激光波长的探测,具有波长分辨率高、探测波段宽等优点。本发明用于激光告警。
  • 一种基于光栅衍射波段激光告警结构

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