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[发明专利]用于测试电子元件的处理器-CN202110302478.X在审
发明人：罗闰成;朴洙昌;林采光;金在虎 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明涉及用于测试电子元件的处理器。根据本发明的用于测试电子元件的处理器中，将从测试室传送到除热室的测试托盘的输送通道分为第一区域和长度短于第一区域的第二区域，在打开第一区域之前，能够使设置于第二输送装置的把持构件的把持部位预先通过第二区域移动到测试室以等待测试。根据本发明，由于能够在结束测试时将测试托盘从测试传送到除热室，因此能够缩短测试托盘的循环时间而最终提高处理器的运转率。
用于测试电子元件处理器

[发明专利]用于测试电子元件的处理器-CN201810891362.2有效
发明人：罗闰成;朴洙昌;林采光;金在虎 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明涉及用于测试电子元件的处理器。根据本发明的用于测试电子元件的处理器中，将从测试室传送到除热室的测试托盘的输送通道分为第一区域和长度短于第一区域的第二区域，在打开第一区域之前，能够使设置于第二输送装置的把持构件的把持部位预先通过第二区域移动到测试室以等待测试。根据本发明，由于能够在结束测试时将测试托盘从测试传送到除热室，因此能够缩短测试托盘的循环时间而最终提高处理器的运转率。
用于测试电子元件处理器