专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体装置、角度值校正电路及其方法-CN201811284229.7有效
  • 澁谷佳孝;木村隼人 - 瑞萨电子株式会社
  • 2018-10-31 - 2023-10-24 - H02P23/14
  • 本发明涉及半导体装置、角度值校正电路及其方法。为了在不增加电路尺寸的情况下校正旋转角度值,旋转周期测量单元测量旋转轴的旋转周期,其中通过使用输出与旋转轴的旋转角度相对应的信号的旋转变压器来检测旋转角度。旋转速度计算单元基于旋转周期计算旋转轴的旋转速度。加速度计算单元计算当旋转轴的给定旋转角度被分成2n+1个间隔时每间隔的旋转速度的变化率,其中n是1或更大的整数。估计角度计算单元基于旋转速度和旋转速度的变化率假设旋转轴执行匀加速运动来计算旋转角度估计值。校正值计算单元计算从旋转变压器的输出信号转换的旋转角度值的校正值。校正值应用单元通过将校正值应用于旋转角度值来生成经过校正的角度值。
  • 半导体装置角度校正电路及其方法
  • [发明专利]化合物的制造方法-CN202180061618.7在审
  • 木村隼人;迎真志;松田敬幸 - 株式会社日本触媒
  • 2021-09-08 - 2023-05-02 - C07C51/25
  • 本发明提供安全且稳定地得到高品质的产品的方法。本发明为一种化合物的制造方法,该制造方法包括:将含有化合物的晶体的浆料向液压式清洗柱供给的工序;从该液压式清洗柱中提取含有晶体的循环浆料,将提取的循环浆料所包含的晶体熔解的工序;使用过滤器从该液压式清洗柱内的含有晶体的浆料提取母液的工序;以及将刚在该提取母液的工序中提取之后的母液的温度以上的液体从液压式清洗柱的外部导入到设置于液压式清洗柱的喷嘴的工序,所述喷嘴不包括设置于含有在该熔解的工序中得到的熔解液的循环液的回送口的喷嘴和将含有晶体的浆料向液压式清洗柱供给的管。
  • 化合物制造方法
  • [发明专利]光传感器装置及采用光传感器装置的盘片检查装置-CN01137736.4无效
  • 木村隼人;永石俊巳;土屋晴彦 - TB光学株式会社
  • 2001-10-31 - 2002-06-05 - G01N21/88
  • 在一个本体外壳(102)中设置将检查光投向被检查物的投光光纤(107)、将来自上述被检查物的反射光入射的受光光纤(108)、向上述投光光纤射出检查光的激光光源(114)、以及接受入射至上述受光光纤的反射光的光传感器(113),从而构成光传感器装置(100)。另外,设置使盘片旋转的转盘(204)、与盘片表面相对设置的光传感器本体(205)、以及使上述光传感器本体沿上述盘片表面向着相对于该盘片旋转方向交叉的方向作往复移动的移动手段,利用上述光传感器装置作为上述光传感器本体,构成对盘片表面状态进行检查的盘片检查装置。
  • 传感器装置用光盘片检查

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