专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于电气部件测试的插座-CN202210368805.6在审
  • 安住玲雄 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2022-04-08 - 2023-10-24 - G01R1/04
  • 本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座,包括:插座本体,插座本体的内部设置有第一探针收纳部和第二探针收纳部,第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层,插座本体的底部设置有凹槽,凹槽与第二探针收纳部连通,凹槽的槽壁设置有第二导电层;接触探针,接触探针包括接地探针和信号探针,接地探针收纳于第一探针收纳部,信号探针收纳于第二探针收纳部,信号探针与第二导电层之间设置有间距;基板,基板设置在插座本体的底部,基板包括绝缘层和第一贯穿电极,第一贯穿电极的一端与信号探针的第一端接触,第一贯穿电极在靠近插座本体的一侧设置有容纳区域,容纳区域用于容纳信号探针的第一端。
  • 用于电气部件测试插座
  • [发明专利]用于电气部件测试的插座-CN202210368652.5在审
  • 安住玲雄 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2022-04-08 - 2023-10-24 - H01R13/40
  • 本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座,包括:插座本体,插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部,第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层,插座本体的底部设置有凹槽,凹槽与第二探针收纳部连通,凹槽的槽壁设置有第二导电层,信号探针与第二导电层之间设置有间距;接触探针,接触探针包括接地探针以及信号探针,接地探针收纳于第一探针收纳部,信号探针收纳于第二探针收纳部;导向件,导向件固定安装于插座本体,导向件上设置有导向部,导向部用于对信号探针进行导向。在本申请实施例中,通过在凹槽的槽壁设置第二导电层,使第二导电层与信号探针的距离较小,进而改善信号探针的高频特性。
  • 用于电气部件测试插座
  • [发明专利]用于电气部件测试的插座-CN202210368992.8在审
  • 安住玲雄 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2022-04-08 - 2023-10-24 - H01R13/40
  • 本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座,包括插座本体,插座本体包括第一本体部、第二本体部以及位于第一本体部和第二本体部之间的第三本体部,插座本体的内部设置有第一探针收纳部,第二本体部和第三本体部靠近第一探针收纳部的部位设置有通孔,通孔与第一探针收纳部连通,通孔的位于第二本体部的孔壁设置有第一导电层,通孔的位于第三本体部的孔壁设置有第二导电层;接触探针,接触探针包括信号探针,信号探针收纳于第一探针收纳部,信号探针与第一导电层之间、信号探针与第二导电层之间均具有间距;绝缘性导向件,导向件位于第二本体部与第三本体部之间,导向件上设置有导向部,导向部用于供信号探针穿过。
  • 用于电气部件测试插座
  • [发明专利]接触探针及用于电气部件测试的插座-CN202210258169.1在审
  • 谢明华;井上优太 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2022-03-16 - 2023-09-22 - H01R13/24
  • 本申请实施例提供了一种接触探针及用于电气部件测试的插座。接触探针包括:管状结构,管状结构的内部形成有容纳腔,在管状结构的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部;弹簧,弹簧设置在容纳腔中;柱塞,柱塞以可滑动的方式与管状结构连接,柱塞为板状金属件,在柱塞的一端设置有弹簧定位结构,弹簧定位结构包括凸起部、形成在凸起部一侧的第一限位部和形成在凸起部另一侧的倾斜部,凸起部向靠近弹簧的方向隆起,倾斜部为相对于接触探针的轴线方向倾斜设置的倾斜面;弹簧的第一端套设在凸起部上,弹簧的第一端包括限定在第一限位部的第一部分和抵在倾斜部上的第二部分,第一限位部用于限定第一部分在接触探针的轴线方向上的运动。
  • 接触探针用于电气部件测试插座
  • [实用新型]一种背光模组和显示装置-CN202320402341.6有效
  • 野上将辉;藤井悠生 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2023-03-03 - 2023-09-08 - G02F1/13357
  • 本申请实施例提供了一种背光模组和显示装置。背光模组包括至少一个基板;多个发光装置,所述多个发光装置配置在至少一个基板上,且在正交的虚拟直线的交点配置成矩阵状,具有:发光元件,用于发出第一颜色光;透光构件,用于将所述第一颜色光转换为第二颜色光;光束控制部件,用于扩散并射出所述第二颜色光;反射构件,至少配置在所述多个发光装置之间;光扩散构件,配置在所述发光装置的光出射侧;其中,所述反射构件的与所述光扩散构件相向的表面具有呈现第一颜色的光学补色的着色区域AA,各个着色区域AA至少位于相邻四个发光装置所围成的区域的重心位置。
  • 一种背光模组显示装置
  • [发明专利]用于电气部件测试的插座-CN202210189780.3在审
  • 安住玲雄 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2022-02-28 - 2023-09-05 - G01R1/04
  • 本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座,包括:插座本体,所述插座本体的内部设置有探针收纳孔;接触探针,所述接触探针收纳于所述探针收纳孔,所述接触探针的一端设置有柱塞,所述柱塞的一端设置有凸起部;柔性板,所述柔性板设置在所述插座本体的用于与第二电气部件接触的一侧,所述柔性板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的贯穿电极,所述贯穿电极的一端用于与第二电气部件接触,所述贯穿电极的另一端用于与所述柱塞的一端接触;其中,在所述贯穿电极与所述柱塞的一端接触的情况下,所述贯穿电极至少不接触所述凸起部的顶点。
  • 用于电气部件测试插座
  • [发明专利]一种用于电气部件测试的插座-CN202111564831.8在审
  • 昌益民 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2021-12-20 - 2023-06-23 - H01R13/502
  • 本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座,其特征在于,包括:插座主体,所述插座主体的底部用于与外部电路板连接,所述插座主体上设置有用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电连接的接触收纳部;插座盖,所述插座盖用于压紧所述电气部件;第一导电组件,第一导电组件设置在所述插座主体的内部,所述第一导电组件的一端伸出所述插座主体,以使所述插座盖在压紧所述电气部件的过程中先与所述第一导电组件接触,所述第一导电组件的另一端用于与所述电路板的接地端相接触。本申请实施例的插座通过设置第一导电组件对插座盖构建导电通路,有利于避免插座盖对电气部件放电进而导致测试失败,甚至损坏电气部件。
  • 一种用于电气部件测试插座
  • [发明专利]一种用于电气部件测试的插座-CN202111563272.9在审
  • 昌益民 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2021-12-20 - 2023-06-23 - H01R13/502
  • 本申请提供了一种用于电气部件测试的插座,所述插座包括:插座主体,用于与外部电路板连接;导向结构,所述导向结构包括设置在所述插座主体上的多个浮动导向块和多个固定导向块,所述浮动导向块和所述固定导向块在所述插座主体上共同限定出接触收纳部,所述接触收纳部用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电性连接;所述浮动导向块和所述固定导向块的靠近所述接触收纳部的一侧设置有导向面,所述浮动导向块通过第一弹性元件与所述插座主体连接;插座盖,所述插座盖用于压紧所述电气部件,所述插座盖在插座主体上的投影覆盖所述导向结构在所述插座主体上的投影。本申请实施例中的插座有利于避免在电气部件上产生压痕。
  • 一种用于电气部件测试插座
  • [发明专利]IC插座-CN201980036547.8有效
  • 大岛久男;小松泰成 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2019-05-21 - 2023-02-28 - H01R13/24
  • 本发明提供IC插座,其即使在减少柱塞的侧面的加工工序,也能够防止探针被错误地组装在插座主体上。探针(4)的柱塞(8)通过在径向两处切除圆棒材(20)而形成有滑块部(16)以及第一定位面(17)第二定位面(18),所述滑块部(16)以不转动的状态卡合于在插座主体(5)形成的柱塞引导孔(15),所述第一定位面(17)和第二定位面(18)沿着探针(4)的中心轴(4a)的方向的高度位置不同。探针收纳孔(6)形成有在以正确姿态插入探针的情况下第一定位面能够抵接的第一止挡突起(26)和第二定位面能够抵接的第二止挡突起(27)。在以错误姿态插入柱塞的情况下,第一定位面与第二止挡突起抵接,使柱塞不从柱塞引导孔突出或比设计尺寸小地突出。
  • ic插座
  • [发明专利]行星齿轮载架的成型系统和方法-CN202210506027.2在审
  • 山田和貴;久井孝喜 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2022-05-10 - 2022-11-11 - B29C45/26
  • 用于制造行星齿轮载架的端板的模具的一个方面包括模具主体和从模具主体的前表面延伸的圆柱形突出部。圆柱形突出部限定了流体地连接到模具主体的内部空间的圆柱形内部空间。模具还包括被设置在模具主体的后表面上并与圆柱形突出部的纵向轴线对齐的注射口,其中注射口被构造成允许注射喷嘴将成型材料从模具主体的外部注射到内部空间中。在一些方面,成型材料包括可以改善所得模制零件的性能的添加剂。本公开的其他方面包括用于行星齿轮装置的模制载架,以及用于制造类似模制零件的相关工艺或方法。
  • 行星齿轮成型系统方法
  • [发明专利]接触探针及用于电气部件测试的插座-CN202111319070.X在审
  • 井上优太;坂本泰之;三浦玲;小畑圭史;小松泰成 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2021-11-09 - 2022-10-04 - G01R1/04
  • 本公开实施例提供了一种接触探针及用于电气部件测试的插座。接触探针包括:管状结构,管状结构的内部形成有容纳腔,在管状结构的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部;弹簧,弹簧设置在容纳腔中;柱塞,柱塞以可滑动的方式与管状结构连接,柱塞的第一端设置有弹簧定位部,弹簧定位部与弹簧相抵接,弹簧定位部为偏离柱塞的中轴线设置的偏心结构体,柱塞的第二端从管状结构的第二端伸出。本公开实施例的接触探针,通过将弹簧定位部设置为偏心结构体,可以达到提高接触探针的通电接触载荷的效果,从而减少接触探针的电阻值出现大于容许电阻值的情况,进而提高插座的电气测试的可靠性。
  • 接触探针用于电气部件测试插座
  • [发明专利]用于电气部件测试的插座-CN202110266765.X在审
  • 谢印洲 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2021-03-11 - 2022-09-20 - H01R13/502
  • 本公开实施例提供一种用于电气部件测试的插座,包括:插座主体,包括框架和位于所述框架内的接触收纳部,所述接触收纳部用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电性连接;及插座盖,与所述框架的后部通过至少一组铰轴组件铰接,且具有锁定部,其中一组所述铰轴组件包括能够与所述锁定部锁定的锁定件;所述锁定件和所述锁定部在锁定状态,所述插座盖相对所述插座主体打开设定角度;所述锁定件和所述锁定部在解锁状态,所述插座盖能够相对所述插座主体转动。
  • 用于电气部件测试插座
  • [发明专利]用于电气部件测试的插座-CN202110266999.4在审
  • 谢印洲;谢明华 - 恩普乐斯股份有限公司
  • 2021-03-11 - 2022-09-20 - H01R13/502
  • 本公开实施例提供一种用于电气部件测试的插座,包括:插座主体,包括框架和位于框架内的接触收纳部,接触收纳部用于容纳电气部件并与电气部件电性连接;插座盖,包括盖支架,及设于盖支架的靠近插座主体的一侧且能够相对盖支架浮动的压板,盖支架与框架的后部通过至少一个第一销轴铰接;操作杆,与盖支架通过至少一个第二销轴铰接,操作杆针对每个第二销轴设有与第二销轴连接的至少一个盘形凸轮,在插座盖与插座主体处于锁合状态且操作杆旋转至施压位置时,每个盘形凸轮按压压板,以通过压板向电气部件施加压力;盖支架针对每个第二销轴设有长度方向与压板的浮动方向正交的长圆孔,第二销轴可转动且可滑动的设于长圆孔内。
  • 用于电气部件测试插座

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