专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种芯片测试系统以及芯片测试方法-CN202310179200.7有效
  • 张灵子;时拓;刘琦;田杨 - 之江实验室
  • 2023-02-20 - 2023-07-14 - G01R31/28
  • 本说明书公开了一种芯片测试系统以及芯片测试方法,在控制芯片和待测试芯片之间设有各选通开关,在各选通开关中预设有多个用于在待测试芯片中写入行数据、读取行数据、写入列数据、读取列数据的通道,控制芯片可以根据测试需求,从各选通开关中确定出各目标选通开关,并向各目标选通开关发送控制指令,以通过这些处于选通状态的选通通道完成测试操作,从而对待测试芯片的每个行线和每个列线的读取数据以及写入数据功能进行测试,进而可以降低测试成本,并且可以提高测试效率。
  • 一种芯片测试系统以及方法

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