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[发明专利]物体检测装置及其物体检测方法、以及记录介质-CN201811599238.5有效
发明人：段志辉 -专利权人： 度逢株式会社
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：本发明涉及物体检测装置及其物体检测方法、以及记录介质。在物体检测装置中设置有投射激光束的半导体激光管模块；固定于支撑部件的扭簧；被固定于上述扭簧的一个面且反射上述激光束的反射镜；以跨越上述扭簧的旋转轴的方式固定于扭簧的另一面的永久磁铁；驱动线圈；以及围绕驱动线圈的磁性体，使上述反射镜根据对驱动线圈施加的驱动信号而往复运动。还设置有作为检测上述反射镜的旋转速度的检测部的检测电路，以及根据上述检测电路检测出的旋转速度控制半导体激光管模块投射的激光束的亮灭周期的控制电路。
物体检测装置及其方法以及记录介质

[发明专利]光扫描装置、物体检测装置、光扫描方法、物体检测方法及程序-CN201911347071.8在审
发明人：段志辉 -专利权人： 度逢株式会社
申请日： 2019-12-24 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G02B26/10 文献下载
摘要：本发明提供光扫描装置、物体检测装置、光扫描方法、物体检测方法及程序。通过光束形成相互在副扫描方向的不同位置的多条主扫描线，通过调整部调整各主扫描线的扫描范围，以使一部分主扫描线与剩余的主扫描线相比在主扫描方向上扫描更大的范围即可。此时，在所述一部分主扫描线上，与所述剩余的主扫描线上相比，由光束形成的光点稀疏。所述调整部包括：第一棱镜，使通过所述一部分主扫描线的某个部分的光束越靠近主扫描方向的边缘侧越强地向该边缘侧折射；以及第二棱镜，使通过与所述一部分主扫描线(111a)的其他部分的光束越靠近主扫描方向的另一边缘侧越强地向该另一边缘侧折射。
扫描装置物体检测方法程序

[发明专利]物体检测装置-CN201911342998.2在审
发明人：段志辉 -专利权人： 度逢株式会社
申请日： 2019-12-24 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明公开一种物体检测装置。在致动器上设置：扭簧，固定在作为支承部件的顶磁轭上；永久磁铁，其N极和S极以隔着所述扭簧的旋转轴的方式配置；驱动线圈；驱动部，向驱动线圈施加电压或电流周期性地变化的驱动信号；以及反射镜单元，包括第一反射镜和第二反射镜，所述第一反射镜位于所述扭簧的中央附近，所述第二反射镜位于所述第一反射镜的周围且与所述第一反射镜平行。与包含所述第一反射镜的反射面的平面相比，包含所述第二反射镜的反射面的平面处于更接近扭簧的旋转轴的位置，所述反射镜单元根据所述驱动信号的施加进行往复运动。
物体检测装置

[发明专利]物体检测装置-CN201911346881.1在审
发明人：段志辉 -专利权人： 度逢株式会社
申请日： 2019-12-24 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明公开一种物体检测装置。在致动器中设置S极和N极隔着中心轴对置的柱状的永久磁铁，并通过轴承以能够以所述中心轴为中心旋转的方式支承，将驱动线圈配置在所述永久磁铁的附近，其第一部分和第二部分隔着所述永久磁铁相对，所述第一部分包含与所述中心轴大致平行的导线束，所述第二部分包含与所述中心轴大致平行的导线束，并在通电时电流向与所述第一部分相反的方向流动，在所述驱动线圈的外侧设置在与所述中心轴垂直的平面上的距所述中心轴的距离根据距所述中心轴的方向而不同的磁轭，设置向所述驱动线圈施加电压或电流周期性地变化的驱动信号的驱动部，使所述磁铁根据所述驱动信号的施加进行往复旋转运动。
物体检测装置

[发明专利]物体检测装置、物体检测方法及物体检测装置的设计方法-CN201811595754.0在审
发明人：段志辉 -专利权人： 度逢株式会社
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01S17/89 文献下载
摘要：本发明涉及物体检测装置、物体检测方法及物体检测装置的设计方法。物体检测装置包括：透镜，从多个发光点输出的激光生成激光束，所述激光束在上述多个发光点的分布方向上具有发散角；以及光学系统，将激光束投射到外部，并在与该投射光轴相同的轴向上导入从外部入射的入射光，将该入射光导向受光元件，物体检测装置检测到上述激光束光路上物体的距离及该物体的方向，在上述光学系统中，设置有使入射光成像在规定的焦平面上的聚光透镜、以及配置在上述聚光透镜的焦平面上的光阑。将上述发散角的大小设为α、将上述光阑透光区域的与上述发散角对应方向的大小设为D、将从上述聚光透镜到上述光阑的距离设为d、并设为β＝arctan(D/d)的情况下，上述光阑满足α≤β。
物体检测装置激光束光阑聚光透镜发散角入射光光学系统物体检测发光点焦平面投射透镜受光元件透光区域外部光轴入射成像激光输出检测配置