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专利名称

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申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]具有动态编程校准的存储器装置-CN201880042451.8有效
发明人： 布鲁斯·A·利卡宁;拉里·J·考德莱 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-05-22 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：一种存储器系统包含：存储器阵列，其包含多个存储器单元；及控制器，其耦合到所述存储器阵列，所述控制器经配置以：确定与编程步阶相关联的背景记录，其中所述背景记录用于表示先前数据操作；基于所述背景记录计算触发量度，其中所述触发量度用于估计错误复原机构的实施；及基于所述触发量度产生经调整步阶。
具有动态编程校准存储器装置

[发明专利]基于位错误率的动态编程步进特性调整-CN201911243097.8在审
发明人： 布鲁斯·A·利卡宁 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-12-06 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本申请涉及基于位错误率的动态编程步进特性调整。确定与经由具有一或多个编程步进特性的编程信号编程的一组存储器单元相对应的BER。将所确定BER与目标BER进行比较。响应于所述所确定BER不同于所述目标BER，调整一或多个编程步进特性以将所述所确定BER调整为所述目标BER。
基于错误率动态编程步进特性调整

[发明专利]存储器元件配置处理和操作调整-CN201911076966.2在审
发明人： F·丘;布鲁斯·A·利卡宁 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本申请案涉及存储器元件配置处理和操作调整。一种存储器配置处理系统可以在存储器组件的运行时间期间为所述存储器组件的目标存储器单元生成配置文件。所述存储器配置处理系统可以基于触发条件来识别目标存储器单元，所述触发条件例如为存储器单元跨越错误恢复中指定深度，接收特定于供应商VS的命令，存储器单元停用或过高的后台扫描速率。所述存储器配置处理系统可以存储所述所生成的配置文件，且可以利用所述所生成的配置文件来实时地调整所述存储器装置的一或多个存储元件的操作参数。
存储器元件配置处理操作调整

[发明专利]具有动态处理电平校准的存储器装置-CN201880043217.7在审
发明人：拉里·J·考德莱;布鲁斯·A·利卡宁 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-05-22 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：一种存储器装置包含：存储器阵列，其包含多个存储器单元；及控制器，其耦合到所述存储器阵列，所述控制器经配置以反复地：确定对应于用于处理对应于所述多个存储器单元的子集的数据的当前处理电平的第一错误率；使用用于处理对应于所述多个存储器单元的所述子集的所述数据的偏移处理电平确定第二错误率，其中所述偏移处理电平从所述当前处理电平偏移达第一偏移量；及基于所述第一错误率与所述第二错误率的比较产生所述多个存储器单元的所述子集的经更新处理电平。
具有动态处理电平校准存储器装置

[发明专利]使用可调整电荷状态电平对存储器单元进行编程的设备和方法-CN201280064031.2有效
发明人：约翰·L·西伯里;布鲁斯·A·利卡宁 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2012-12-21 - 公布日： 2018-04-24 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：本发明揭示设备和方法，包含一种编程方法，其涉及确定存储器单元的错误率，以及使用至少部分地基于所述经确定错误率的电荷状态的电荷状态电平对所述存储器单元进行编程。
使用可调整电荷状态电平存储器单元进行编程设备方法

[发明专利]基于存储器质量监视器的补偿方法及设备-CN201180053846.6有效
发明人： 布鲁斯·A·利卡宁;杰拉尔德·L·卡德洛尼;拉里·J·考德莱;约翰·L·西伯里;斯蒂芬·P·范阿肯;盖伊·R·瓦格纳 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2011-09-08 - 公布日： 2013-07-17 - 主分类号： G06F12/00 文献下载
摘要：在一个实施例中，编码器从存储器单元读取数据集合以获得由于已被存储而受一个或一个以上失真机制影响的所检索数据。响应于所述所检索数据而产生质量度量，所述质量度量响应于用户数据与相关联的所检索数据之间的差而在值上改变。质量监视器确立所述质量度量的当前值与阈值之间的关系且将所述关系监视为指示所述所检索数据的质量的降级，且选择性地起始误差响应。在另一实施例中，在监视质量度量时使校正值迭代通过值集合，以使得可选择所述质量度量的最紧密接近所述质量度量的紧跟在所述数据的初始写入之后的值的值。
基于存储器质量监视器补偿方法设备

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