专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]片材电阻测定器-CN202111063266.7在审
  • 汤川浩平;尾形健太 - 富士胶片商业创新有限公司
  • 2021-09-10 - 2022-11-25 - G01R27/02
  • 本发明提供一种片材电阻测定器,与仅通过将片材插入框体的间隙来使片材与电极接触的情况相比,抑制片材的褶皱的产生。片材电阻测定器包括:框体,形成有供片材插入的间隙;引入部,设于所述框体,引入被插入所述间隙的所述片材;停止部件,设于所述框体,停止所述引入部对所述片材的引入;以及一对电极,设于所述框体,使停止的所述片材接触,以测定所述片材的电阻。
  • 电阻测定
  • [发明专利]片材电阻测定器-CN202111074074.6在审
  • 汤川浩平;尾形健太 - 富士胶片商业创新有限公司
  • 2021-09-14 - 2022-11-25 - G01N27/04
  • 本发明提供一种片材电阻测定器,与仅利用电极来与片材接触的情况相比,抑制片材的褶皱的产生。片材电阻测定器包括:一对框体,从两面夹着片材;一对电极,被设于其中一个所述框体,将所述片材夹在与另一个所述框体之间而测定所述片材的电阻;以及接触构件,被设在其中一个所述框体中的一对所述电极之间,与所述片材接触。
  • 电阻测定
  • [发明专利]测定装置以及图像形成装置-CN202111092892.9在审
  • 尾形健太;汤川浩平 - 富士胶片商业创新有限公司
  • 2021-09-17 - 2022-11-25 - G01R27/14
  • 本发明提供一种测定装置以及图像形成装置,抑制因第一测定部中产生的作为噪声的振动而导致第二测定部中的测定受到阻碍的现象。测定装置包括:第一测定部,配置在与片材状的测定对象的一部分相向的第一相向位置,通过超声波来使所述测定对象振动而对所述测定对象的第一物性进行测定;第二测定部,在所述第一测定部与所述一部分相向的状态下,配置在与所述测定对象的另一部分相向的第二相向位置,在厚度方向上夹着所述另一部分而进行限制,对所述测定对象的第一物性以外的第二物性进行测定;以及配置部,在相对于所述测定对象的厚度方向的交叉方向上,配置在所述第一测定部与所述第二测定部之间。
  • 测定装置以及图像形成
  • [发明专利]测定装置以及图像形成装置-CN202111079562.6在审
  • 尾形健太;汤川浩平 - 富士胶片商业创新有限公司
  • 2021-09-15 - 2022-11-25 - G03G15/00
  • 本发明提供一种测定装置以及图像形成装置,测定装置包括:测定部,通过赋予超声波来使测定对象振动,以对所述测定对象的物性进行测定,且所述测定部具有第一模式与第二模式,所述第一模式是使用在预先规定的物性值的第一范围内具有灵敏度的第一猝发波来测定物性的模式,所述第二模式是使用在与所述第一范围不同的物性值的第二范围内具有灵敏度的第二猝发波来测定物性的模式;以及控制部,对所述测定部进行使所述测定部执行所述第一模式以及所述第二模式中的至少一个的控制。
  • 测定装置以及图像形成
  • [发明专利]测定装置以及图像形成装置-CN202111069291.6在审
  • 尾形健太;汤川浩平 - 富士胶片商业创新有限公司
  • 2021-09-13 - 2022-11-25 - G03G15/00
  • 一种测定装置以及图像形成装置,测定装置包括:测定部,具有以预先规定的电阻值的第一范围来对在图像形成装置中使用的记录介质的电阻进行测定的第一模式、和以与所述第一范围不同的电阻值的第二范围来测定所述电阻的第二模式,且所述测定部中,所述第二范围以及所述第一范围被设定为,关于多个品牌的记录介质的电阻,属于所述第二范围的品牌数比属于所述第一范围的品牌数多;以及控制部,对所述测定部进行比所述第一模式优先执行所述第二模式的控制。
  • 测定装置以及图像形成
  • [发明专利]测定装置以及图像形成装置-CN202111055761.3在审
  • 尾形健太;汤川浩平 - 富士胶片商业创新有限公司
  • 2021-09-09 - 2022-11-22 - G01R27/08
  • 本发明提供一种测定装置以及图像形成装置。测定装置包括:电阻测定部,测定测定对象的电阻;第一测定部,具有对表示第一物性的信息进行探测的探测部,根据探测结果来测定第一物性;第二测定部,具有对表示第二物性的信息进行探测的探测部,根据探测结果来测定第二物性,且第二测定部的从探测部的驱动开始直至实际测定的开始为止的时间比第一测定部中的所述时间长;以及控制部,对第一测定部进行第一控制,与由电阻测定部执行的测定动作并行地执行第一物性的测定动作,且控制部对第二测定部进行第二控制,与由电阻测定部执行的测定动作并行地执行第二物性的测定动作,且在第一测定部中的探测部的驱动开始前使第二测定部中的探测部的驱动开始。
  • 测定装置以及图像形成
  • [发明专利]检测装置、处理装置、图像形成装置和检测方法-CN201310071798.4有效
  • 尾形健太 - 富士施乐株式会社
  • 2013-03-07 - 2017-06-16 - G03G15/00
  • 本发明提供了一种检测装置、处理装置、图像形成装置和检测方法。检测装置包括发射部,其发射第一检测波,以检测对象的存在;第一接收部,其接收第一检测波到达对象并且在对象上反射的反射波,并且基于反射波输出表示对应于到对象的距离的值的信号;确定部,其基于当第一检测波到达基准板并且在其上反射时由第一接收部输出的第一信号的值确定对应于预定第二距离的阈值;以及第一检测部,其比较当由第一接收部输出的第二信号的值与由确定部确定的阈值,并且检测对象是否处于到第一接收部的距离短于第二距离的第一范围内。
  • 检测装置处理图像形成方法
  • [发明专利]检测装置和图像形成装置-CN201310073130.3有效
  • 尾形健太;山崎直哉;中岛玄 - 富士施乐株式会社
  • 2013-03-07 - 2017-04-12 - G03G15/00
  • 本发明提供了一种检测装置和图像形成装置。该检测装置包括照射单元,其利用第一照射光照射介质;第一光学系统,其具有第一入射表面并且将第一照射光改变为第二照射光;第二光学系统,其具有第二入射表面并且将第一照射光改变为第三照射光;以及光接收单元,其设置在第二照射光和第三照射光的由介质镜面反射的反射光的行进方向上并且接收第二照射光和第三照射光的由介质镜面反射的反射光,以检测形成在介质上的图像的位置偏差量并且检测形成在介质上的图像的浓度偏差量。
  • 检测装置图像形成

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