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[发明专利]用于大型对象的快速工业计算机断层扫描-CN202011075401.5有效
发明人： 尼尔斯·罗思;安德烈亚斯·费舍尔 -专利权人：贝克休斯油田作业有限责任公司
申请日： 2020-10-09 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明题为“用于大型对象的快速工业计算机断层扫描”。用于计算机断层扫描检查的系统可包括台、固定辐射源、固定辐射检测器和控制器。台可将目标固定在其上并使目标围绕旋转轴线旋转。辐射源可从焦点发射穿透辐射的光束，该光束被引导到目标的一部分上。辐射检测器可包括感测面，该感测面被配置为采集作为位置的函数的入射在其上的辐射光束强度的测量值。控制器可命令台在横向于辐射光束的中心轴线的方向上从第一位置平移到第二位置。目标在第一位置和第二位置处的放大率可大致相等。在由检测器测量辐射光束强度期间，台不横向于辐射光束的中心轴线平移。
用于大型对象快速工业计算机断层扫描

[发明专利]计算机断层摄影系统校准-CN201980019916.2有效
发明人：安德烈亚斯·费舍尔;尼尔斯·罗思;亚历山大·苏佩斯;尤金·特拉佩 -专利权人：威盖特技术美国有限合伙人公司
申请日： 2019-03-27 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供了用于计算机断层摄影系统的校准或准确性规范验证的方法和设备。在一个实施方案中，该设备可包括：基座结构；第一组测试对象，该第一组测试对象沿第一轴线布置并耦接到该基座结构；和第二组测试对象，该第二组测试对象沿第二轴线布置并耦接到该基座结构。该第一组测试对象和该第二组测试对象具有第一几何形状。该设备还可包括第三组测试对象和第四组测试对象。该第三组测试对象和该第四组测试对象具有与该第一几何形状不同的第二几何形状。该第一组测试对象、该第二组测试对象、该第三组测试对象和该第四组测试对象相对于该基座结构的位置在空间上是固定的。该设备是适于计算机断层摄影系统的校准或准确性验证的试样。
计算机断层摄影系统校准

[发明专利]用于大型物体的快速工业计算机断层扫描-CN202080056693.X在审
发明人： E·诺伊泽;A·萨瓦茨基;尼尔斯·罗思;亚历山大·苏佩斯 -专利权人：贝克休斯油田作业有限责任公司
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供了通过计算机断层扫描进行非破坏性测试的系统和方法。该系统可包括静止辐射源、载物台和多个静止辐射检测器。源可被配置成从焦点发射具有三维几何形状的穿透辐射束并且将该束引导到入射到目标上的路径中。静止辐射源可相对于多个静止辐射检测器和载物台定位，使得第一多个束段路径限定在多个辐射检测器的焦点与相应感测面之间，并且至少一个第二束段路径限定在焦点与预定间隙之间。
用于大型物体快速工业计算机断层扫描

[发明专利]用于计算机断层摄影成像的散射校正-CN202111175098.0在审
发明人： 尼尔斯·罗思 -专利权人：贝克休斯油田作业有限责任公司
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明题为“用于计算机断层摄影成像的散射校正”。本发明提供了用于X射线图像的散射校正的系统和方法。可使用利用孔隙板采集的部分无散射图像来校正对象的散射图像。该板定位在对象和辐射检测器之间并且包括网格状的孔。原始X射线穿过这些孔并且散射的X射线可被该孔隙板阻挡。该孔隙板可移动到不同位置，从而允许在该孔隙板的每个位置处采集部分无散射图像。可通过组合部分无散射图像来生成完全无散射图像。这些散射图像和无散射图像还可用于训练散射校正模型。
用于计算机断层摄影成像散射校正

[发明专利]用于计算机断层摄影成像的散射校正-CN202111176456.X在审
发明人： 尼尔斯·罗思 -专利权人：贝克休斯油田作业有限责任公司
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明题为“用于计算机断层摄影成像的散射校正”。本发明提供了用于X射线图像的散射校正的系统和方法。可使用利用孔隙板采集的部分无散射图像来校正对象的散射图像。该板定位在对象和辐射检测器之间并且包括网格状的孔。原始X射线穿过这些孔并且散射的X射线可被该孔隙板阻挡。该孔隙板可移动到不同位置，从而允许在该孔隙板的每个位置处采集部分无散射图像。可通过组合部分无散射图像来生成完全无散射图像。这些散射图像和无散射图像还可用于训练散射校正模型。
用于计算机断层摄影成像散射校正