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[发明专利]透镜测量装置及透镜测量方法-CN201910020833.7有效
发明人： 大森义幸 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-01-09 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：本发明提供透镜测量装置及透镜测量方法。透镜测量装置(1)包括：工作台(20)，其能够绕旋转轴线(Cr)旋转；透镜保持件(50)，其用于保持作为测量对象的透镜(L)，并能够以透镜(L)的光轴与旋转轴线(Cr)正交的方式载置于工作台(20)；触头(43)，其用于与透镜(L)的测量面接触；角度传感器，其用于检测工作台(20)的旋转角度；位移检测部(42)，其用于检测触头(43)的位移；以及控制装置(60)，其根据工作台(20)的每个旋转角度所对应的触头(43)的位移量计算透镜(L)的测量面的坐标信息作为以旋转轴线(Cr)为原点的极坐标，将计算出的极坐标变换为正交坐标。
透镜测量装置测量方法

[发明专利]圆度测量机-CN201710822477.1有效
发明人：中山树;大森义幸 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2017-09-13 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01B5/20 文献下载
摘要：圆度测量机(1)具有：基座；工作台(20)，其能够相对于基座进行旋转；探针(30)，其对载置于工作台(20)的工件(W)的表面进行检测；电动机(23)，其对工作台(20)进行旋转驱动；以及控制装置(50)，其对电动机(23)的旋转进行控制。控制装置(50)具有：启动电流检测部(541)，其能够检测电动机(23)的启动电流；以及加减速时间设定部(542)，其根据电动机(23)的启动电流来设定电动机(23)的加速时间和减速时间中的至少任一个。圆度测量机(1)能够将电动机(23)的加速时间或减速时间设定为与载置于工作台(20)的工件(W)的惯性矩相应的适当的长度。
测量

[发明专利]表面性质测定装置的参数校准方法-CN202010721875.6在审
发明人： 大森义幸 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01B7/28 文献下载
摘要：本发明提供能够容易校准与触针长或臂长对应的各参数的至少一方的表面性质测定装置的参数校准方法。参数校准方法包含：扫描规定面，获取测定数据的测定工序(步骤S1)；通过基于参数L、H修正测定数据，而获取修正完成数据的修正工序(步骤S4)；计算修正完成数据的正圆度，判定该正圆度是否为规定值t1以下的判定工序(步骤S5)；在判定为正圆度比规定值t1大的情况下，使参数L、H的至少一方增加或减少的调整工序(步骤S6)，反复实施修正工序、判定工序及调整工序，直到判定为正圆度为规定值t1以下。
表面性质测定装置参数校准方法

[发明专利]螺纹轴测量装置、螺纹轴测量方法和调整夹具-CN201810922008.1在审
发明人： 大森义幸 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2018-08-14 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：一种螺纹轴测量装置包括：工作台，其支撑要被测量的螺纹轴，且能调整绕垂直Z轴线的旋转位置，调整绕水平且与Z轴线相交的X轴线的旋转位置，和调整在水平且与X轴线相交的Y轴线方向上的位置；探针，其执行对螺纹轴表面的扫描测量。在工作台上安装能接触螺纹轴的调整夹具和让调整夹具接触螺纹轴的升降器。调整夹具包括邻接底表面；邻接侧表面；测量表面；和轴线标记，其使得相对于X轴线的倾斜度能被检测。
螺纹轴调整夹具测量装置旋转位置测量邻接相交倾斜度扫描测量侧表面升降器工作台探针垂直检测支撑

[发明专利]形状测量机、形状测量机的调整方法以及形状测量方法-CN201310489579.8有效
发明人：进藤秀树;大森义幸 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2013-10-18 - 公布日： 2017-08-25 - 主分类号： G01B5/20 文献下载
摘要：本发明提供一种形状测量机、形状测量机的调整方法以及形状测量方法。形状测量机（1）用于对旋转体形状的工件进行旋转仿形测量和直线仿形测量，其包括旋转台（10），其用于载置上述工件，并且能够绕规定的旋转轴线旋转；旋转仿形测量部（20），其用于测量被载置在上述旋转台（10）上的上述工件的表面的位移；直线仿形测量部（30），其用于测量被载置在上述旋转台（10）上的上述工件的表面的沿着规定的测量轴线的轮廓形状；以及对准调整机构（40），其用于使上述直线仿形测量部（30）和上述旋转台（10）向与上述测量轴线交叉的方向相对移动，将上述直线仿形测量部（30）和上述旋转台（10）调整为上述测量轴线穿过上述旋转轴线的相对位置。
形状测量调整方法以及测量方法

[发明专利]校准表面结构测量装置的方法-CN201210149384.4有效
发明人： 大森义幸;三木章生 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2012-03-19 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：校准表面结构测量装置的方法，包括：获取Y轴形状测量数据和最大直径部分，以从当向下的和向上的触针分别与参考球的上和下表面接触时通过在Y轴方向上相对移动而获取的Y轴上部和下部形状数据来获取参考球的上部和下部最大直径部分；获取X轴形状测量数据，从而当向下的触针与参考球的上部直径部分接触以及向上的触针与参考球的下部直径部分接触时，通过相对地在X轴方向移动来获取参考球的X轴上部和下部形状数据；以及由形状数据获取的中心坐标O3和O4计算向上的和向下的触针的偏移量Δx和Δz。
校准表面结构测量装置方法

[发明专利]表面性质和形状测定机和表面性质和形状测定方法-CN201010506182.1有效
发明人：松宫贞行;大森义幸;有田贞治;平野宏太郎;福本泰;小松浩一;竹村文宏 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2010-10-12 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种表面性质和形状测定机，具备：工作台、具有测头的接触式检测器(20)、图像探测器(30)、相对移动机构(40)和控制装置(50)。控制装置(50)包括：中心位置计算机构，其当通过图像探测器而被输入被测定物的圆形凹状部或圆形凸状部的圆形轮廓线中至少三点以上的位置数据时，对输入的位置数据适当配置圆并求圆的中心位置；测头设置机构，其在求出中心位置时则使相对移动机构动作，使接触式检测器的测头位于中心位置。
表面性质形状测定方法