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[实用新型]一种基于PXIE架构的电源卡-CN201920481012.9有效
发明人：周文君;谷陈鹏;鲁斌;田雄伟;李晨光 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2019-04-10 - 公布日： 2020-01-21 - 主分类号： G01R1/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于PXIE架构的电源卡，包括模数转换器单元、若干DPS芯片单元、背板连接器单元、控制器单元、DUT连接器单元，所述控制器单元与所述模数转换器单元电性连接，所述模数转换器单元将模拟信号转换为数字信号传输至所述控制器单元，每个所述DPS芯片单元分别与所述控制器单元电性连接，每个所述DPS芯片单元的输出端并联且与所述模数转换器单元的输入端电性连接。本实用新型公开的基于PXIE架构的电源卡，其具有过压、过流、钳位保护功能，能应用在芯片测试中电源供电，测试芯片的动态的电流等特性。
控制器单元模数转换器芯片单元本实用新型电性连接电源卡架构模拟信号转换数字信号传输背板连接器连接器单元测试芯片单元电性电源供电钳位保护芯片测试动态的输出端输入端并联应用

[实用新型]一种基于MIPI控制器的板卡-CN201920482047.4有效
发明人：周文君;田雄伟;鲁斌;谷陈鹏;唐维林 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2019-04-10 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于MIPI控制器的板卡，包括模数转换器模块、若干PE芯片模块、背板连接器模块、MIPI控制器模块、DUT连接器模块，所述MIPI模块控制器模块与所述模数转换器模块电性连接，所述模数转换器模块将模拟信号转换为数字信号并且传输至所述MIPI控制器模块，每个所述PE芯片模块分别与所述MIPI控制器模块电性连接，每个所述PE芯片模块的输出端并联且与所述模数转换器模块的输入端电性连接。本实用新型公开的基于MIPI控制器的板卡，其具有MIPI输出信号电压幅值可调、频率可变、可调采样延时等功能。
模数转换器模块控制器模块电性连接芯片模块控制器板卡本实用新型背板连接器模块模拟信号转换输出信号电压连接器模块模块控制器采样延时幅值可调频率可变数字信号输出端输入端并联可调传输

[实用新型]一种半导体ATE芯片测试机-CN201821781306.5有效
发明人：田雄伟;鲁斌;谷陈鹏;周文君 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2018-10-31 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体ATE芯片测试机，包括PC计算机和PXI机箱，PC计算机包含有若干PCle板卡、PCle×8电缆连接器，PCle板卡的输出端连接有PCle×8电缆连接器，PCle×8电缆连接器的输出端连接有若干PXle板卡，PXle板卡位于PXI机箱的内部。本实用新型中通过PXI机箱和各种板卡的组合，P1可以很容易地提供先进的数字、模拟或RF测试能力，基于PXI的开放体系结构，P1提供了灵活和可扩展的解决方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，Filter的射频测试应用的测试需求范围，是半导体ATE芯片测试的理想解决方案。
板卡电缆连接器半导体本实用新型输出端连接芯片测试机开放体系结构测试需求射频测试芯片测试可扩展灵活配置应用

[实用新型]手机LED驱动测试探针卡-CN201821769123.1有效
发明人：赵永昌;鲁斌;谷陈鹏;刘诚 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种手机LED驱动测试探针卡，包括与待测器件对接的探针和至少一个手机LED驱动测试模块，各个手机LED驱动测试模块直接安装于接口电路板，各个手机LED驱动测试模块同时与探针相连，所述手机LED驱动测试模块包括第一至第三开关K1～K3、总线控制模块和双通道LED校正模块。本实用新型公开的手机LED驱动测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机LED驱动测试模块，完成手机LED驱动芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。
手机测试模块测试探针卡本实用新型测试探针多工位并行测试总线控制模块接口电路板测试成本待测器件电源仪表分析仪表校正模块信号发生直接安装并行度测试机双通道

[实用新型]手机音频驱动测试探针卡-CN201821769116.1有效
发明人：赵永昌;鲁斌;谷陈鹏;刘诚 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种手机音频驱动测试探针卡，包括与待测器件对接的探针和至少一个手机音频驱动测试模块，各个手机音频驱动测试模块直接安装于接口电路板，各个手机音频驱动测试模块同时与探针相连，所述手机音频驱动测试模块包括第一至第五开关K1～K5、输入电阻匹配模块、二阶低通滤波模块和音频负载模拟模块。本实用新型公开的手机音频驱动测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机音频驱动测试模块，完成手机音频驱动芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。
手机音频驱动测试模块测试探针卡本实用新型测试探针多工位并行测试二阶低通滤波接口电路板测试成本待测器件电源仪表分析仪表模拟模块匹配模块驱动芯片输入电阻信号发生音频负载直接安装并行度测试机

[实用新型]手机过压保护芯片测试探针卡-CN201821769122.7有效
发明人：赵永昌;鲁斌;谷陈鹏;刘诚 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种手机过压保护芯片测试探针卡，包括与待测器件对接探针和至少一个手机过压保护测试模块，各个手机过压保护测试模块直接安装于接口电路板，各个手机过压保护测试模块同时与探针相连，所述手机过压保护测试模块包括第一至第四开关K1～K4、芯片断电响应测试模块和负载模拟模块。本实用新型公开的手机过压保护芯片测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机过压保护测试模块，完成手机过压保护芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。
手机测试模块过压保护过压保护芯片测试探针卡本实用新型测试探针多工位并行测试负载模拟模块接口电路板测试成本待测器件电源仪表分析仪表响应测试信号发生直接安装并行度测试机断电芯片

[实用新型]屏幕面板偏压芯片测试探针卡-CN201821769582.X有效
发明人：赵永昌;鲁斌;谷陈鹏;宋旭 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种屏幕面板偏压芯片测试探针卡，包括与待测器件对接的探针、与探针相连的探针座子和至少一个屏幕面板偏压芯片测试模块，各个屏幕面板偏压芯片测试模块直接安装于接口电路板，各个屏幕面板偏压芯片测试模块同时与探针相连。所述屏幕面板偏压芯片测试模块包括第一至第四开关K1～K4和测量电路。本实用新型公开的屏幕面板偏压芯片测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的屏幕面板偏压芯片测试模块，以便实现屏幕面板偏压芯片多工位并行测试。
屏幕面板芯片测试模块探针芯片测试探针卡本实用新型多工位并行测试接口电路板测量电路待测器件电源仪表分析仪表信号发生直接安装测试机座子芯片测试

[实用新型]矿机ASIC测试探针卡-CN201821769600.4有效
发明人：赵永昌;鲁斌;谷陈鹏;宋旭 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种矿机ASIC测试探针卡，包括与待测器件对接的探针和至少一个矿机ASIC测试模块，各个矿机ASIC测试模块直接安装于接口电路板，各个矿机ASIC测试模块同时与探针相连。所述矿机ASIC测试模块包括第一至第三开关K1～K3和测量电路，所述第一开关K1用于导通或者关断电源通道模块和待测器件之间的通路，所述第二开关K2用于导通或者关断信号发生模块与待测器件之间的通路。本实用新型公开的矿机ASIC测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的矿机ASIC测试模块，以便实现矿机ASIC高运算芯片多工位并行测试。
矿机测试模块测试探针卡待测器件本实用新型导通探针多工位并行测试接口电路板测量电路第一开关电源仪表发生模块分析仪表关断电源关断信号通道模块信号发生运算芯片直接安装测试机测试

[发明专利]应用于测试的裸芯片结构及其制造方法-CN201611066316.6有效
发明人：王起 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2016-11-28 - 公布日： 2019-07-02 - 主分类号： H01L21/50 文献下载
摘要：本发明公开一种应用于测试的裸芯片结构及其制造方法。该结构100包括：主PCB板101、副PCB板102、裸芯片103、焊盘104/106、键合丝105/107、垫片110、金属排针111、保护罩112及电气绝缘油114；垫片110粘结主PCB板101上且裸芯片103粘结垫片110上；焊盘104环绕于裸芯片103四周并设置于主PCB板101上且通过键合丝105与裸芯片103的金属PAD连接；副PCB板102位于焊盘104外围并粘结主PCB板101上且通过金属插针111与主PCB板101实现电气连接；焊盘106设置于副PCB板102上且通过键合丝107与裸芯片103的金属PAD连接；保护罩112粘结于主PCB板101上并在其内部注入电气绝缘油114。本发明中，结构呈高低高阶梯状，提高了单位面积上键合丝的密度，能够保证裸芯片粘结时金属PAD免受污染，避免裸芯片和键合丝在空气中氧化。
应用于测试芯片结构及其制造方法

[发明专利]一种采集卡以及一种测试方法-CN201710626310.8在审
发明人：周文君;谷陈鹏;鲁斌 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2017-07-27 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明提供一种采集卡以及一种测试方法，采集卡包括：与待测试组件连接的第一接口、与处理终端连接的第二接口、采集单元及处理单元；所述采集单元，用于通过所述第一接口，采集所述待测试组件发送的视频信号并传输给所述处理单元；所述处理单元，与所述采集单元连接，用于将所述视频信号转换为二进制信号并经所述第二接口发送给所述处理终端。与现有技术相比，待测试组件的测试信号不是直接输出给处理终端输出图像，而是经采集卡转换为处理终端能够处理的二进制信号，能够使处理终端不只输出图像，而是根据二进制信号分析图像，以此来确定待测是组件是否合格，提高了判断待测试组件是否合格的准确性。
处理终端待测试组件采集卡二进制信号采集单元处理单元输出图像视频信号转换测试测试信号分析图像视频信号采集发送传输输出转换

[发明专利]一种测试装置-CN201710527598.3在审
发明人：周文君;赵永昌;谷陈鹏;鲁斌 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种测试装置，包括：测试机台、测试电路板、待测器件；测试机台用于为测试电路板提供测试电源和测试信号；测试电路板包括多个测试模块，每个测试模块包括电流测试通道和电容测试通道；电流测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电流测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的漏电电流；电容测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电容测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的电容。由于测试电路板中包括多个测试模块，并且每个测试模块均包括电流测试通道和电容测试通道，通过在每个测试模块上连接一个待测器件便能实现同时测量多个待测器件的漏电电流和电容，提高了测试效率。
待测器件测试机台测试模块测试电路板电流测试电容测试测试装置漏电电流电连接电容测试电源测试效率测试信号检测测量

[发明专利]一种射频前端设备的控制方法及装置-CN201710393128.2在审
发明人：周文君;谷陈鹏;田雄伟;鲁斌 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2017-05-27 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： H04L29/10 文献下载
摘要：本发明公开一种射频前端设备的控制方法，该方法包括：可编程设备通过与上位机的传输协议对应的第一接口接收所述上位机发送的数据包，所述数据包中包含射频前端设备的配置参数；所述可编程设备按照预设的传输格式，对所述数据包进行解析，所述预设的传输格式是所述上位机生成所述数据包时所采用的格式；所述可编程设备根据MIPI协议将解析得到的配置参数转换为电压信号；所述可编程设备通过与所述射频前端设备的传输协议对应的第二接口将所述电压信号写入所述射频前端设备，用以提供一种通用的工具实现对射频前端设备的控制。
射频前端设备可编程设备数据包上位机传输格式传输协议电压信号配置参数预设解析工具实现接口接收通用的写入发送转换

[实用新型]一种测试装置-CN201720788846.5有效
发明人：周文君;赵永昌;谷陈鹏;鲁斌 -专利权人： 嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2018-03-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测试装置，包括测试机台、测试电路板、待测器件；测试机台用于为测试电路板提供测试电源和测试信号；测试电路板包括多个测试模块，每个测试模块包括电流测试通道和电容测试通道；电流测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电流测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的漏电电流；电容测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电容测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的电容。由于测试电路板中包括多个测试模块，并且每个测试模块均包括电流测试通道和电容测试通道，通过在每个测试模块上连接一个待测器件便能实现同时测量多个待测器件的漏电电流和电容，提高了测试效率。
一种测试装置

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