专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光纤断点的查找方法-CN200610109080.X无效
  • 周梅锋 - 亚洲光学股份有限公司
  • 2006-07-28 - 2008-01-30 - G01R31/02
  • 本发明提供一种利用断点定位仪进行光纤断点查找的方法。该方法包括:断点定位仪发射脉冲信号至光纤;断点定位仪接收来自光纤的反射信号,并对反射信号进行补偿;将补偿后的信号送至一采样电路进行采样,以取得断点定位仪所发射的脉冲信号;以及利用一数据处理电路计算脉冲信号取得时所对应的时间与发射信号发射时的时间差,从而得出光纤断点的位置。
  • 光纤断点查找方法
  • [发明专利]光回损计的系统架构及其执行方法-CN200510009204.2无效
  • 衣长福;周梅锋 - 亚洲光学股份有限公司
  • 2005-01-28 - 2006-08-02 - G01M11/02
  • 一种光回损计的系统架构及其执行方法,其中该系统架构包括一微处理器、数个可分别发出不同光波波长的激光光源、一光源输出单元、一功率输入及测量单元及一用户界面。该微处理器可以驱动并控制所述数个激光光源的开关,通过该光源输出单元将激光光源所发出的光线传输至待测物,所述功率输入及测量单元接收测量通过待测物的光线,并将测量结果输出至微处理器执行运算,微处理器通过用户界面输出运算结果。本发明光回损计的系统架构结合数个激光光源,既可达成测量光源由光回损计独立控制的功效,同时,还可以用来测量相关光学组件的光回损值、插入损耗等特性参数,使测量工作更易于执行。
  • 光回损计系统架构及其执行方法
  • [发明专利]波长检测装置及其方法-CN200410103310.2无效
  • 周梅锋;衣长福 - 亚洲光学股份有限公司
  • 2004-12-15 - 2006-06-21 - G01J9/00
  • 本发明提供一种波长检测装置及其方法,其中该波长检测装置包括分光器、信号衰减组件、第一光传感器、第二光传感器、处理单元以及光损耗与波长对应查询表。该波长检测方法包括:将待测光分成第一光束和第二光束;将第一光束转换成第一输出信号;信号衰减组件接收并衰减第二光束;将通过信号衰减组件衰减的第二光束转换成第二输出信号;依据第一及第二输出信号,计算第一及第二输出信号的差值,从而得出待测光的光损耗量;依据该待测光的光损耗量,对照光损耗与波长对应查询表查出所述光损耗量对应的波长值。本发明利用处理单元和光损耗与波长对应查询表的数字化处理,实现一种结构简单、操作方便并且成本低廉的波长检测装置及其方法。
  • 波长检测装置及其方法

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